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CHY-C2A電子薄膜厚度測量儀 PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測量儀

CHY-C2A電子薄膜厚度測量儀 PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測量儀采用機(jī)械接觸式測量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
產(chǎn)品關(guān)鍵詞：測厚儀，薄膜厚度儀，薄膜測厚儀，紙張厚度測定儀，厚度測量儀，厚度計(jì)，薄膜厚度測量儀，薄膜厚度檢測儀，薄膜厚度測定儀，薄片測厚儀，硅片測厚儀，GB 6672，紙張測厚儀
CHY-C2A電子薄膜厚度測量儀 PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測量儀技術(shù)特征：
嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制
測試過程中測量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測量模式，方便用戶自由選擇
實(shí)時(shí)顯示測量結(jié)果的大值、小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷
配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性
系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測試結(jié)果
系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看
標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
支持LystemTM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
CHY-C2A電子薄膜厚度測量儀 PE保鮮薄膜厚度儀 膜厚測量儀技術(shù)指標(biāo)：
負(fù)荷量程：0～2mm（常規(guī)）；0～6mm；12mm（可選）
分辨率：0.1μm
測量速度：10 次/min（可調(diào)）
測量壓力：17.5±1KPa（薄膜）；50±1KPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制
電源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
凈重：32kg
儀器配置：
標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件
選購件：業(yè)軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼、微型打印機(jī)
該公司產(chǎn)品分類： 智能型反壓高溫蒸煮鍋 鋰電池隔膜透氣性測試儀 透濕儀、透濕性測試儀 蒸發(fā)殘?jiān)阒貎x、蒸發(fā)殘?jiān)鼉x 透氣儀、透氣性能測試儀 透氧儀、透氧性測試儀 熱粘拉力試驗(yàn)儀 透氣性測試標(biāo)準(zhǔn)膜片 膠粘帶壓滾機(jī) 圓盤剝離試驗(yàn)機(jī) 光澤度測定儀、光澤度計(jì) 鋁箔針孔檢測儀 智能耐破度測試儀、耐破強(qiáng)度儀 安瓿瓶折斷力測試儀 RGT-01真空包裝殘氧儀 抗穿刺性能測試儀、穿刺力試驗(yàn)機(jī) 摩擦系數(shù)/剝離試驗(yàn)儀 醬料包抗壓試驗(yàn)儀 真空衰減法無損密封儀 瓶蓋扭力測試儀、瓶蓋扭矩儀

GB/T 6672臺(tái)式薄膜測厚儀 包裝薄膜厚度測定儀Labthink

 GB/T 6672臺(tái)式薄膜測厚儀 包裝薄膜厚度測定儀LabthinkPARAM博每 CHY-C2A測厚儀產(chǎn)地：濟(jì)南蘭光機(jī)電技術(shù)有限公司品牌：Labthink蘭光咨詢熱線：0531-85068566、15764121171

CHY-C2A測厚儀采用機(jī)械接觸式測量方式，嚴(yán)格符合標(biāo)準(zhǔn)要求，有效保證了測試的規(guī)范性和準(zhǔn)確性。業(yè)適用于量程范圍內(nèi)的塑料薄膜、薄片、隔膜、紙張、箔片、硅片等各種材料的厚度精確測量。
技術(shù)特征：
嚴(yán)格按照標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的接觸面積和測量壓力，同時(shí)支持各種非標(biāo)定制
測試過程中測量頭自動(dòng)升降，有效避免了人為因素造成的系統(tǒng)誤差
支持自動(dòng)和手動(dòng)兩種測量模式，方便用戶自由選擇
實(shí)時(shí)顯示測量結(jié)果的大值、小值、平均值以及標(biāo)準(zhǔn)偏差等分析數(shù)據(jù)，方便用戶進(jìn)行判斷
配置標(biāo)準(zhǔn)量塊用于系統(tǒng)標(biāo)定，保證測試的精度和數(shù)據(jù)一致性
系統(tǒng)支持?jǐn)?shù)據(jù)實(shí)時(shí)顯示、自動(dòng)統(tǒng)計(jì)、打印等許多實(shí)用功能，方便快捷地獲取測試結(jié)果
系統(tǒng)由微電腦控制，搭配液晶顯示器、菜單式界面和PVC操作面板，方便用戶進(jìn)行試驗(yàn)操作和數(shù)據(jù)查看
標(biāo)準(zhǔn)的RS232接口，便于系統(tǒng)與電腦的外部連接和數(shù)據(jù)傳輸
支持LystemTM實(shí)驗(yàn)室數(shù)據(jù)共享系統(tǒng)，統(tǒng)一管理試驗(yàn)結(jié)果和試驗(yàn)報(bào)告
執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：
ISO 4593、ISO 534、ISO 3034、GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D374、ASTM D1777、TAPPI T411、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702、 BS 3983、BS 4817
CHY-C2A測厚儀技術(shù)指標(biāo)：
負(fù)荷量程：0～2mm（常規(guī)）；0～6mm；12mm（可選）
分辨率：0.1μm
測量速度：10 次/min（可調(diào)）
測量壓力：17.5±1KPa（薄膜）；50±1KPa（紙張）
接觸面積：50mm2（薄膜）；200mm2（紙張）
注：薄膜、紙張任選一種；非標(biāo)可定制
電源：220VAC 50Hz / 120VAC 60Hz
外形尺寸：461mm(L)×334mm(W)×357mm(H)
凈重：32kg
儀器配置：
標(biāo)準(zhǔn)配置：主機(jī)、標(biāo)準(zhǔn)量塊一件
選購件：業(yè)軟件、通信電纜、測量頭、配重砝碼、微型打印機(jī)
該公司產(chǎn)品分類： 智能型反壓高溫蒸煮鍋 鋰電池隔膜透氣性測試儀 透濕儀、透濕性測試儀 蒸發(fā)殘?jiān)阒貎x、蒸發(fā)殘?jiān)鼉x 透氣儀、透氣性能測試儀 透氧儀、透氧性測試儀 熱粘拉力試驗(yàn)儀 透氣性測試標(biāo)準(zhǔn)膜片 膠粘帶壓滾機(jī) 圓盤剝離試驗(yàn)機(jī) 光澤度測定儀、光澤度計(jì) 鋁箔針孔檢測儀 智能耐破度測試儀、耐破強(qiáng)度儀 安瓿瓶折斷力測試儀 RGT-01真空包裝殘氧儀 抗穿刺性能測試儀、穿刺力試驗(yàn)機(jī) 摩擦系數(shù)/剝離試驗(yàn)儀 醬料包抗壓試驗(yàn)儀 真空衰減法無損密封儀 瓶蓋扭力測試儀、瓶蓋扭矩儀

2016款南充薄膜厚度測量儀|YG141數(shù)字式織物測厚儀|多少錢

1、南充薄膜厚度測量儀|YG141數(shù)字式織物測厚儀|多少錢熱門搜索:YG141數(shù)字式織物測厚儀YG141數(shù)字式織物測厚儀Tellus型紡織品壓縮回復(fù)性能測試儀【河北潤聯(lián)科技公司】10年品牌“潤聯(lián)”★★工業(yè)品領(lǐng)導(dǎo)者★★2014年高新技術(shù)企業(yè)★★2013年有潛力企業(yè)榮譽(yù)★★河北誠信民營企業(yè)單位★★撥打電話請告訴我產(chǎn)品訂貨號(hào)，熱線：【】2、南充薄膜厚度測量儀|YG141數(shù)字式織物測厚儀|多少錢多種型號(hào)圖片
型號(hào):RL046081YG141數(shù)字式織物測厚儀型號(hào):RL046082YG141數(shù)字式織物測厚儀型號(hào):RL046111Tellus型紡織品壓縮回復(fù)性能測試儀
【南充薄膜厚度測量儀|YG141數(shù)字式織物測厚儀|多少錢一共有★★30★★多種型號(hào)以上只顯示1-3種型號(hào)，如沒有合適您的產(chǎn)品請咨詢 邢臺(tái)潤聯(lián)機(jī)械設(shè)備有限公司】3、南充薄膜厚度測量儀|YG141數(shù)字式織物測厚儀|多少錢多種型號(hào)內(nèi)容型號(hào):RL046081YG141數(shù)字式織物測厚儀

主要用于各類紡織品和紡織制品厚度測定，亦可用于其他均勻薄料的厚度測定。

主要技術(shù)指標(biāo)：

1.測定厚度范圍：

YG141L型 0.01～10mm

YG141LA型0.01～20mm

2．小分度值：0.01mm

3．壓腳直徑及面積：11.28mm 50.48mm 56.42mm 112.84mm

100mm2 2000mm2 2500mm2 10000mm2

4．壓重砝碼：20cN、100cN、200cN、500cN、2000cN（共5只）

5．壓重時(shí)間：10s、30s重要提醒：GB/T3820新標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)實(shí)施，敬請選型注意，老標(biāo)準(zhǔn)指標(biāo)如下：

主要技術(shù)指標(biāo)：（請比較）

1.測定厚度范圍：0.01～10mm

2．小分度值：0.01mm

3．壓腳直徑：7.98mm、11.28mm 、25.22mm、35.68.mm、56.43mm

4．壓重砝碼：20cN、50cN、100cN、200cN（共4只）

5．壓重時(shí)間：10s、30s

欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/5767.html紡織品厚度儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-46081-pid-5767.htmlYG141數(shù)字式織物測厚儀型號(hào):RL046082YG141數(shù)字式織物測厚儀

主要用于各類紡織品和紡織制品厚度測定，亦可用于其他均勻薄料的厚度測定。主要技術(shù)指標(biāo)： 1.測定厚度范圍： YG141L型 0.01～10mm YG141LA型0.01～25mm 2．小分度值：0.01mm 3．壓腳直徑及面積：11.28mm 50.48mm 56.42mm 112.84mm 100mm2 2000mm2 2500mm2 10000mm2 4．壓重砝碼：20cN、100cN、200cN、500cN、2000cN（共5只） 5．壓重時(shí)間：10s、30s重要提醒：GB/T3820新標(biāo)準(zhǔn)已經(jīng)實(shí)施，敬請選型注意，老標(biāo)準(zhǔn)指標(biāo)如下：主要技術(shù)指標(biāo)：（請比較） 1.測定厚度范圍：0.01～10mm 2．小分度值：0.01mm 3．壓腳直徑：7.98mm、11.28mm 、25.22mm、35.68.mm、56.43mm 4．壓重砝碼：20cN、50cN、100cN、200cN（共4只） 5．壓重時(shí)間：10s、30s

欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/5767.html紡織品厚度儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-46082-pid-5767.htmlYG141數(shù)字式織物測厚儀型號(hào):RL046111Tellus型紡織品壓縮回復(fù)性能測試儀

【適用范圍】：

Tellus型紡織品壓縮回復(fù)性能測試儀可對紡織品厚度及壓縮回復(fù)性能測試。本機(jī)具有通用的測試平臺(tái)，配置了多種系列的壓腳，滿足多指標(biāo)（厚度、壓縮回復(fù)性能）、多標(biāo)準(zhǔn)、多產(chǎn)品的測試，真正實(shí)現(xiàn)了一機(jī)多用。

【符合標(biāo)準(zhǔn)】：

GB/T 24442.1-2009 紡織品 壓縮性能測定 第1部分：恒定法

GB/T 24442.2-2009 紡織品 壓縮性能測定 第2部分：等速法

FZ/T 64017-2011、FZ/T 64020-2011、FZ/T 64003-2011、GB/T 22796-2009、GB/T 24252-2009

FZ/T 81005-2006、GB/T 3820-1997、GB/T 13761.1-2009、QB/T 1089-2001、QB/T 1092-2001

GB/T 24218.2、GB/T 8168-2008

【儀器特性】：

1、儀器采用等速伸長（CRE）測試原理，雙立柱龍門結(jié)構(gòu)，鋁合金外殼外形美觀整潔。

2、傳動(dòng)機(jī)構(gòu)采用進(jìn)口滾珠絲桿組、同步帶、同步輪、交流伺服系統(tǒng)，運(yùn)行穩(wěn)定，噪音小。

3、采用進(jìn)口高精度測力傳感器，高速精密24 bits A/D，儀器采樣頻率為1000HZ，能及時(shí)準(zhǔn)確撲捉試驗(yàn)的受力變化。

4、位移采用高精度位移光柵尺測量，精度高并排除了傳動(dòng)機(jī)構(gòu)和保護(hù)裝置產(chǎn)生的誤差。

5、采用32位cortex-m3微處理器，操控性強(qiáng)，數(shù)據(jù)處理速度快，儀器反應(yīng)靈敏，運(yùn)行穩(wěn)定可靠。

6、全計(jì)算機(jī)專業(yè)軟件操控，軟件系統(tǒng)：操作簡單、易懂、功能強(qiáng)大。

【技術(shù)參數(shù)】：

1、速度調(diào)節(jié)范圍：0.1～200mm/ min

2、位移：250mm

3、位移誤差：0.01mm

4、測力范圍：滿量程的1%～100%

5、測力精度：0.2%FS

6、壓腳平行度：0.1%

7、工作電源：AC220V 50HZ 450W

8、外形尺寸：7252175cm

欄目頁面:http://www.runlian365.com/chanpin/5767.html紡織品厚度儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-46111-pid-5767.htmlTellus型紡織品壓縮回復(fù)性能測試儀聯(lián)系方式:0319-8277762溫馨提示：潤聯(lián)網(wǎng)為您提供產(chǎn)品的詳細(xì)產(chǎn)品價(jià)格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息，您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料，聯(lián)系時(shí)請說明是在潤聯(lián)網(wǎng)看到的，并告知型號(hào)
該公司產(chǎn)品分類： 商業(yè)機(jī)械 實(shí)驗(yàn)室儀器 農(nóng)業(yè)機(jī)械 探測儀器 勘探儀器 工程機(jī)械 儀器儀表

凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測量儀|的詳細(xì)介紹

產(chǎn)品簡介: ES01是針對科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測量推出的高精度全自動(dòng)光譜橢偏儀，系列儀器的波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。ES01系列光譜橢偏儀用于測量單層和多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)（如，厚度）和物理參數(shù)（如，折射率n、消光系數(shù)k），也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。ES01系列光譜橢偏儀適合于對樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)和非實(shí)時(shí)檢測。特點(diǎn)： 原子層量級的檢測靈敏度 國際先進(jìn)的采樣方法、高穩(wěn)定的核心器件、高質(zhì)量的設(shè)計(jì)和制造工藝實(shí)現(xiàn)并保證了能夠測量原子層量級的納米薄膜，膜厚精度達(dá)到0.05nm。 秒級的快速測量 快速橢偏采樣方法、高信噪比的信號(hào)探測、自動(dòng)化的測量軟件，在保證高精度和準(zhǔn)確度的同時(shí)，10秒內(nèi)快速完成一次全光譜橢偏測量。 一鍵式儀器操作 對于常規(guī)操作，只需鼠標(biāo)點(diǎn)擊一個(gè)按鈕即可完成復(fù)雜的測量、建模、擬合和分析過程，豐富的模型庫和材料庫也同時(shí)方便了用戶的高級操作需求。 應(yīng)用：ES01系列尤其適合于科研和工業(yè)產(chǎn)品環(huán)境中的新品研發(fā)。ES01系列多種光譜范圍可滿足不同應(yīng)用場合。比如： ES01V適合于測量電介質(zhì)材料、無定形半導(dǎo)體、聚合物等的實(shí)時(shí)和非實(shí)時(shí)檢測。 ES01U適合于很大范圍的材料種類，包括對介質(zhì)材料、聚合物、半導(dǎo)體、金屬等的實(shí)時(shí)和非實(shí)時(shí)檢測，光譜范圍覆蓋半導(dǎo)體的臨界點(diǎn)，這對于測量和控制合成的半導(dǎo)體合金成分非常有用。并且適合于較大的膜厚范圍（從次納米量級到10微米左右）。  ES01系列可用于測量光面基底上的單層和多層納米薄膜的厚度、折射率n及消光系數(shù)k。應(yīng)用領(lǐng)域包括：微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁介質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等。典型應(yīng)用如： 半導(dǎo)體：如：介電薄膜、金屬薄膜、高分子、光刻膠、硅、PZT膜，激光二極管GaN和AlGaN、透明的電子器件等）； 平板顯示：TFT、OLED、等離子顯示板、柔性顯示板等； 功能性涂料：增透型、自清潔型、電致變色型、鏡面性光學(xué)涂層，以及高分子、油類、Al2O3表面鍍層和處理等； 生物和化學(xué)工程：有機(jī)薄膜、LB膜、SAM膜、蛋白子分子層、薄膜吸附、表面改性處理、液體等。凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測量儀|的詳細(xì)介紹多種型號(hào)圖片
型號(hào):JX200096EM13 LD系列多入射角激光橢偏儀型號(hào):JX200090EX2自動(dòng)橢圓偏振測厚儀型號(hào):JX200087ES01 快速攝譜式自動(dòng)變角度光譜橢偏儀
【溫馨提示】本公司產(chǎn)品因產(chǎn)品種類繁多，詳細(xì)配置價(jià)格請致電咨詢！[河北潤聯(lián)機(jī)械公司]——是集科研、開發(fā)、制造、經(jīng)營于一體，的工程試驗(yàn)儀器專業(yè)制造實(shí)體。公司主要經(jīng)營砼混凝土儀器,水泥試驗(yàn)儀器,砂漿試驗(yàn)儀器,泥漿試驗(yàn)儀器,土工試驗(yàn)儀器,瀝青試驗(yàn)儀器,公路集料儀器,防水材料儀器,公路巖石儀器,路面試驗(yàn)儀器,壓力試驗(yàn)機(jī)養(yǎng)護(hù)室儀器及實(shí)驗(yàn)室耗材等上百種產(chǎn)品。在以雄厚的技術(shù)底蘊(yùn)在強(qiáng)化自主開發(fā)的同時(shí)，積極采用國內(nèi)外先進(jìn)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，尋求推進(jìn)與大專院校，科研單位的協(xié)作互補(bǔ)，以實(shí)現(xiàn)新產(chǎn)品開發(fā)的高起點(diǎn)，在交通部、建設(shè)部及科研所專家們的指導(dǎo)下，產(chǎn)品不斷完善，不斷更新。已廣泛用于建材，建筑施工，道橋建設(shè)，水電工程和機(jī)械，交通、石油、化工等領(lǐng)域的質(zhì)量檢測。并同國內(nèi)外各試驗(yàn)儀器廠建立了長期合作關(guān)系，嚴(yán)把質(zhì)量關(guān)，價(jià)格更優(yōu)惠！公司擁有現(xiàn)代化鋼構(gòu)倉庫4000多平方米，并配備業(yè)內(nèi)的裝備設(shè)施，車輛出入方便，倉庫管理實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化、高效化管理，確保儀器設(shè)備不斷貨。全球眾多眾多知名試驗(yàn)儀器及測量、測繪電子廠家直供，國內(nèi)外一線知名儀器品牌匯聚于此，更是眾多新品上線網(wǎng)購平臺(tái)的之地。全國服務(wù)隊(duì)伍專業(yè)快捷服務(wù)，完善的呼叫中心服務(wù)體系，咨詢熱線：[孫經(jīng)理0319-8738881]迅速解決客戶問題，專業(yè)提供優(yōu)質(zhì)高效的售后服務(wù)。潤聯(lián)為您提供詳細(xì)的產(chǎn)品價(jià)格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息，您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料，聯(lián)系時(shí)請說明是在潤聯(lián)看到的，并告知型號(hào)【關(guān)于合作】我們本著精益求精、經(jīng)銷誠實(shí)守信、服務(wù)熱情周到的服務(wù)宗旨和協(xié)助伙伴成就事業(yè)從而成就自己的事業(yè)的立業(yè)精神，為客戶提供卓越的品質(zhì)和服務(wù)。因產(chǎn)品種類多 沒有一一上傳,如有需要,請聯(lián)系我們！娟P(guān)于發(fā)貨】我們會(huì)在確認(rèn)合作方式以及合作達(dá)成時(shí)為您發(fā)貨考慮到成本的因素，我們一般采用物流發(fā)貨，不過請您放心，因?yàn)槲覀兊耐獾乜蛻舴浅Ｖ，基本上我們業(yè)務(wù)已經(jīng)覆蓋全國，所以物流公司都是我們精心篩選的，不管是發(fā)貨時(shí)間，還是價(jià)格都是滿意的，同時(shí)我們在交付物流公司后將在時(shí)間告知客戶，并且我們會(huì)將物流費(fèi)用一并告知發(fā)貨打包我們都有專人嚴(yán)格檢查商品的質(zhì)量的，請放心購買。熱門搜索:EMPro 型多入射角激光橢偏儀     EM13 LD系列多入射角激光橢偏儀     EX2自動(dòng)橢圓偏振測厚儀     EMPro-PV 型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）     EM01-RD 多入射角激光橢偏儀     ES01 快速攝譜式自動(dòng)變角度光譜橢偏儀     【凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測量儀|的詳細(xì)介紹一共有★★30★★多種型號(hào)以上只顯示1-3種型號(hào)，如沒有合適您的產(chǎn)品請咨詢 河北潤聯(lián)機(jī)械公司】凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測量儀|的詳細(xì)介紹多種型號(hào)內(nèi)容型號(hào):JX200096EM13 LD系列多入射角激光橢偏儀
  EM13LD 系列是采用量拓科技先進(jìn)的測量技術(shù)，針對普通精度需求的研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的多入射角激光橢偏儀。    EM13LD系列采用半導(dǎo)體激光器作為光源，可在單入射角度或多入射角度下對樣品進(jìn)行準(zhǔn)確測量。可用于測量單層或多層納米薄膜樣品的膜層厚度、折射率n和消光系數(shù)k；也可用于同時(shí)測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；亦可用于實(shí)時(shí)測量納米薄膜動(dòng)態(tài)生長中膜層的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。多入射角度設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)了納米薄膜的厚度測量。    EM13LD系列采用了量拓科技多項(xiàng)專利技術(shù)。特點(diǎn)：次納米的高靈敏度國際先進(jìn)的采樣方法、穩(wěn)定的核心器件、高質(zhì)量的制造工藝實(shí)現(xiàn)并保證了能夠測量極薄納米薄膜，膜厚精度可達(dá)到0.5nm。3秒的快速測量國際水準(zhǔn)的儀器設(shè)計(jì)，在保證精度和準(zhǔn)確度的同時(shí)，可在3秒內(nèi)快速完成一次測量，可對納米膜層生長過程進(jìn)行測量。簡單方便的儀器操作用戶只需一個(gè)按鈕即可完成復(fù)雜的材料測量和分析過程，數(shù)據(jù)一鍵導(dǎo)出。豐富的模型庫、材料庫方便用戶進(jìn)行高級測量設(shè)置。應(yīng)用：EM13LD系列適合于普通精度要求的科研和工業(yè)環(huán)境中的新品研發(fā)或質(zhì)量控制。EM13LD系列可用于測量單層或多層納米薄膜層構(gòu)樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數(shù)k；可用于同時(shí)測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k；可用于實(shí)時(shí)測量快速變化的納米薄膜的厚度、折射率n和消光系數(shù)k。EM13LD可應(yīng)用的納米薄膜領(lǐng)域包括：微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等？蓱(yīng)用的塊狀材料領(lǐng)域包括：固體（金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)等），或液體（純凈物或混合物）。技術(shù)指標(biāo):
項(xiàng)目
技術(shù)指標(biāo)
儀器型號(hào)
EM13 LD/635 (或其它選定波長)
激光波長
635 nm (或其它選定波長，高穩(wěn)定半導(dǎo)體激光器)
膜厚測量重復(fù)性（1）
0.5nm (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層)
折射率測量重復(fù)性（1）
5x10-3 (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層)
單次測量時(shí)間
與測量設(shè)置相關(guān)，典型3s
的膜層范圍
透明薄膜可達(dá)1000nm
吸收薄膜則與材料性質(zhì)相關(guān)
光學(xué)結(jié)構(gòu)
PSCA（Δ在0°或180°附近時(shí)也具有極高的準(zhǔn)確度）
激光光束直徑
2mm
入射角度
40°-90°可手動(dòng)調(diào)節(jié)，步進(jìn)5°
樣品方位調(diào)整
Z軸高度調(diào)節(jié)：±6.5mm
二維俯仰調(diào)節(jié)：±4°
樣品對準(zhǔn)：光學(xué)自準(zhǔn)直和顯微對準(zhǔn)系統(tǒng)
樣品臺(tái)尺寸
平面樣品直徑可達(dá)Φ170mm
外形尺寸
887 x 332 x 552mm (入射角為90º時(shí))
儀器重量（凈重）
25Kg
選配件
水平XY軸調(diào)節(jié)平移臺(tái)，真空吸附泵
軟件(ETEM)
* 中英文界面可選
* 多個(gè)預(yù)設(shè)項(xiàng)目供快捷操作使用
* 單角度測量/多角度測量操作和數(shù)據(jù)擬合
* 方便的數(shù)據(jù)顯示、編輯和輸出
* 豐富的模型和材料數(shù)據(jù)庫支持
 注：(1)測量重復(fù)性：是指對標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測量30次所計(jì)算的標(biāo)準(zhǔn)差。 性能保證:穩(wěn)定性的半導(dǎo)體激光光源、先進(jìn)的采樣方法，保證了穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度高精度的光學(xué)自準(zhǔn)直系統(tǒng)，保證了快速、高精度的樣品方位對準(zhǔn)穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、可靠的樣品方位對準(zhǔn)，結(jié)合先進(jìn)的采樣技術(shù)，保證了快速、穩(wěn)定測量分立式的多入射角選擇，可應(yīng)用于復(fù)雜樣品的折射率和厚度的測量一體化集成式的儀器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使得系統(tǒng)操作簡單、整體穩(wěn)定性提高，并節(jié)省空間一鍵式軟件設(shè)計(jì)以及豐富的物理模型庫和材料數(shù)據(jù)庫，方便用戶使用  可選配件： NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標(biāo)片 NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標(biāo)片 VP01真空吸附泵 VP02真空吸附泵 樣品池
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200096.htmlEM13 LD系列多入射角激光橢偏儀型號(hào):JX200090EX2自動(dòng)橢圓偏振測厚儀
EX2自動(dòng)橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）橢偏測量原理，針對納米薄膜厚度測量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測量型教學(xué)儀器。EX2儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測量。EX2儀器還可用于同時(shí)測量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。特點(diǎn)經(jīng)典消光法橢偏測量原理  儀器采用消光法橢偏測量原理，易于理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。方便安全的樣品水平放置方式  采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。緊湊的一體化結(jié)構(gòu)  集成一體化設(shè)計(jì)，簡潔的儀器外形通過USB接口與計(jì)算機(jī)相連，方便使用。高準(zhǔn)確性的激光光源  采用激光作為探測光波，測量波長準(zhǔn)確度高。豐富實(shí)用的樣品測量功能  可測量納米薄膜的膜厚和折射率；塊狀材料的復(fù)折射率、樣品反射率、樣品透過率。便捷的自動(dòng)化操作  儀器軟件可自動(dòng)完成樣品測量，并可進(jìn)行方便的測量數(shù)據(jù)分析、儀器校準(zhǔn)等操作。安全的用戶使用權(quán)限管理  軟件中設(shè)置了用戶使用權(quán)限（包括：管理員、等模式），便于儀器管理和使用？蓴U(kuò)展的儀器功能  利用本儀器，可通過適當(dāng)擴(kuò)展，完成多項(xiàng)偏振測量實(shí)驗(yàn)，如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測量實(shí)、旋光等。應(yīng)用EX2適合于教學(xué)中單層納米薄膜的薄膜厚度測量，也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。EX2可測量的樣品涉及微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領(lǐng)域。技術(shù)指標(biāo)
項(xiàng)目
技術(shù)指標(biāo)
儀器型號(hào)
EX2
測量方式
自動(dòng)測量
樣品放置方式
水平放置
光源
He-Ne激光器，波長632.8nm
膜厚測量重復(fù)性*
0.5nm (對于Si基底上100nm的SiO2膜層)
膜厚范圍
透明薄膜：1-4000nm
吸收薄膜則與材料性質(zhì)相關(guān)
折射率范圍
1.3 – 10
探測光束直徑
Φ2-3mm
入射角度
30°-90°，精度0.05°
偏振器方位角讀數(shù)范圍
0-360°
偏振器步進(jìn)角
0.014°
樣品方位調(diào)整
Z軸高度調(diào)節(jié)：16mm
二維俯仰調(diào)節(jié)：±4°
允許樣品尺寸
樣品直徑可達(dá)Φ160mm
配套軟件
* 用戶權(quán)限設(shè)置
* 多種測量模式選擇
* 多個(gè)測量項(xiàng)目選擇
* 方便的數(shù)據(jù)分析、計(jì)算、輸入輸出
外形尺寸
約400*400*250mm
儀器重量（凈重）
約20Kg
選配件
* 半導(dǎo)體激光器
注：(1)測量重復(fù)性：是指對標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測量30次所計(jì)算的標(biāo)準(zhǔn)差。性能保證ISO9001國際質(zhì)量體系下的儀器質(zhì)量保證專業(yè)的橢偏測量原理課程 專業(yè)的儀器使用培訓(xùn) 
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200090.htmlEX2自動(dòng)橢圓偏振測厚儀型號(hào):JX200087ES01 快速攝譜式自動(dòng)變角度光譜橢偏儀

ES01是針對科研和工業(yè)環(huán)境中薄膜測量推出的高精度全自動(dòng)光譜橢偏儀，系列儀器的波長范圍覆蓋紫外、可見到紅外。

ES01系列光譜橢偏儀用于測量單層和多層納米薄膜的層構(gòu)參數(shù)（如，厚度）和物理參數(shù)（如，折射率n、消光系數(shù)k），也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。

ES01系列光譜橢偏儀適合于對樣品進(jìn)行實(shí)時(shí)和非實(shí)時(shí)檢測。

特點(diǎn)：
  • 原子層量級的檢測靈敏度
    國際先進(jìn)的采樣方法、高穩(wěn)定的核心器件、高質(zhì)量的設(shè)計(jì)和制造工藝實(shí)現(xiàn)并保證了能夠測量原子層量級的納米薄膜，膜厚精度達(dá)到0.05nm。
  • 秒級的快速測量
    快速橢偏采樣方法、高信噪比的信號(hào)探測、自動(dòng)化的測量軟件，在保證高精度和準(zhǔn)確度的同時(shí)，10秒內(nèi)快速完成一次全光譜橢偏測量。
  • 一鍵式儀器操作
    對于常規(guī)操作，只需鼠標(biāo)點(diǎn)擊一個(gè)按鈕即可完成復(fù)雜的測量、建模、擬合和分析過程，豐富的模型庫和材料庫也同時(shí)方便了用戶的高級操作需求。
應(yīng)用：

ES01系列尤其適合于科研和工業(yè)產(chǎn)品環(huán)境中的新品研發(fā)。

ES01系列多種光譜范圍可滿足不同應(yīng)用場合。比如：

  • ES01V適合于測量電介質(zhì)材料、無定形半導(dǎo)體、聚合物等的實(shí)時(shí)和非實(shí)時(shí)檢測。
  • ES01U適合于很大范圍的材料種類，包括對介質(zhì)材料、聚合物、半導(dǎo)體、金屬等的實(shí)時(shí)和非實(shí)時(shí)檢測，光譜范圍覆蓋半導(dǎo)體的臨界點(diǎn)，這對于測量和控制合成的半導(dǎo)體合金成分非常有用。并且適合于較大的膜厚范圍（從次納米量級到10微米左右）。  

ES01系列可用于測量光面基底上的單層和多層納米薄膜的厚度、折射率n及消光系數(shù)k。應(yīng)用領(lǐng)域包括：微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁介質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等。典型應(yīng)用如：

  • 半導(dǎo)體：如：介電薄膜、金屬薄膜、高分子、光刻膠、硅、PZT膜，激光二極管GaN和AlGaN、透明的電子器件等）；
  • 平板顯示：TFT、OLED、等離子顯示板、柔性顯示板等；
  • 功能性涂料：增透型、自清潔型、電致變色型、鏡面性光學(xué)涂層，以及高分子、油類、Al2O3表面鍍層和處理等；
  • 生物和化學(xué)工程：有機(jī)薄膜、LB膜、SAM膜、蛋白子分子層、薄膜吸附、表面改性處理、液體等。

ES01系列也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。應(yīng)用領(lǐng)域包括：固體（金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)等），或液體（純凈物或混合物）。典型應(yīng)用包括：

  • 玻璃新品研發(fā)和質(zhì)量控制等。
技術(shù)指標(biāo)：
項(xiàng)目
技術(shù)指標(biāo)
光譜范圍
ES01V：370-1000nm
ES01U：245-1000nm
光譜分辨率
1.5nm
單次測量時(shí)間
典型10s,取決于測量模式
準(zhǔn)確度
δ(Psi): 0.02 ° ,δ(Delta): 0.04° 
（透射模式測空氣時(shí)）
膜厚測量重復(fù)性（1）
0.05nm (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層)
折射率精度（1）
1x10-3 (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層)
入射角度
40°-90°自動(dòng)調(diào)節(jié)，重復(fù)性0.02°
光學(xué)結(jié)構(gòu)
PSCA（Δ在0°或180°附近時(shí)也具有極高的準(zhǔn)確度）
樣品臺(tái)尺寸
可放置樣品尺寸：直徑170 mm
樣品方位調(diào)整
高度調(diào)節(jié)范圍：0-10mm
二維俯仰調(diào)節(jié)：±4°
樣品對準(zhǔn)
光學(xué)自準(zhǔn)直顯微和望遠(yuǎn)對準(zhǔn)系統(tǒng)
軟件
•多語言界面切換
•預(yù)設(shè)項(xiàng)目供快捷操作使用
•安全的權(quán)限管理模式（管理員、操作員）
•方便的材料數(shù)據(jù)庫以及多種色散模型庫
•豐富的模型數(shù)據(jù)庫
選配件
自動(dòng)掃描樣品臺(tái)
聚焦透鏡

注：(1)測量重復(fù)性：是指對標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測量30次所計(jì)算的標(biāo)準(zhǔn)差。

可選配件：
  •  NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標(biāo)片
  •  NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標(biāo)片
  •  VP01真空吸附泵
  •  VP02真空吸附泵
  •  樣品池

 

欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200087.htmlES01 快速攝譜式自動(dòng)變角度光譜橢偏儀凌海多角度成像光譜儀|塑料薄膜厚度測量儀|的詳細(xì)介紹【河北潤創(chuàng)科技開發(fā)有限公司】河北誠信民營企業(yè)單位★★專業(yè)售后為您服務(wù)★★安全放心購物企業(yè)★★機(jī)械行業(yè)品牌★★河北暢銷工業(yè)品品牌★★撥打電話請告訴我產(chǎn)品訂貨號(hào)，熱線：【孫經(jīng)理0319-8738881】【關(guān)于合作】我們本著精益求精、經(jīng)銷誠實(shí)守信、服務(wù)熱情周到的服務(wù)宗旨和協(xié)助伙伴成就事業(yè)從而成就自己的事業(yè)的立業(yè)精神，為客戶提供卓越的品質(zhì)和服務(wù)。因產(chǎn)品種類多 沒有一一上傳,如有需要,請聯(lián)系我們。【關(guān)于發(fā)貨】我們會(huì)在確認(rèn)合作方式以及合作達(dá)成時(shí)為您發(fā)貨考慮到成本的因素，我們一般采用物流發(fā)貨，不過請您放心，因?yàn)槲覀兊耐獾乜蛻舴浅Ｖ，基本上我們業(yè)務(wù)已經(jīng)覆蓋全國，所以物流公司都是我們精心篩選的，不管是發(fā)貨時(shí)間，還是價(jià)格都是滿意的，同時(shí)我們在交付物流公司后將在時(shí)間告知客戶，并且我們會(huì)將物流費(fèi)用一并告知發(fā)貨打包我們都有專人嚴(yán)格檢查商品的質(zhì)量的，請放心購買。聯(lián)系方式:劉經(jīng)理電話:0319-8318708QQ:2851558308
該公司產(chǎn)品分類： 閥門 泵 勞保 五金 儀器 機(jī)械

臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測量儀鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展

產(chǎn)品簡介: EX3自動(dòng)橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）測量原理，針對納米薄膜厚度測量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測量型教學(xué)儀器。與EM22儀器相比，該儀器采用半導(dǎo)體激光器作為光源，穩(wěn)定性好，體積更小。EX3儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測量。EX3儀器還可用于同時(shí)測量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。特點(diǎn):經(jīng)典消光法橢偏測量原理儀器采用消光法橢偏測量原理，易于理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。方便安全的樣品水平放置方式采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。緊湊的一體化結(jié)構(gòu)集成一體化設(shè)計(jì)，簡潔的儀器外形通過USB接口與計(jì)算機(jī)相連，方便儀器使用。高穩(wěn)定性光源采用半導(dǎo)體激光器作為探測光的光源，穩(wěn)定性高，噪聲低。豐富實(shí)用的樣品測量功能可測量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復(fù)折射率等。便捷的自動(dòng)化操作儀器軟件可自動(dòng)完成樣品測量，并可進(jìn)行方便的測量數(shù)據(jù)分析、儀器校準(zhǔn)等操作。安全的用戶使用權(quán)限管理軟件中設(shè)置了用戶使用權(quán)限（包括：管理員、等模式），便于儀器管理和使用？蓴U(kuò)展的儀器功能利用本儀器，可通過適當(dāng)擴(kuò)展，完成多項(xiàng)偏振測量實(shí)驗(yàn)，如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測量實(shí)、旋光等。應(yīng)用領(lǐng)域:EX3適合于教學(xué)中單層納米薄膜的薄膜厚度測量，也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。EX3可測量的樣品涉及微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領(lǐng)域。技術(shù)指標(biāo): 項(xiàng)目 技術(shù)指標(biāo) 儀器型號(hào) EX3 測量方式 自動(dòng)測量 臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測量儀鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展多種型號(hào)圖片
型號(hào):JX200094EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）型號(hào):JX200097EM01-RD 多入射角激光橢偏儀型號(hào):JX200091EX3自動(dòng)橢圓偏振測厚儀
【臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測量儀鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展一共有★★30★★多種型號(hào)以上只顯示1-3種型號(hào)，如沒有合適您的產(chǎn)品請咨詢 河北德科機(jī)械設(shè)備有限公司】臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測量儀鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展多種型號(hào)內(nèi)容型號(hào):JX200094EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）
EM12-PV是采用量拓科技先進(jìn)的測量技術(shù)，針對中端精度需求的光伏太陽能電池研發(fā)和質(zhì)量控制領(lǐng)域推出的精致型多入射角激光橢偏儀。EM12-PV用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n。也可測量光滑平面材料上的單層或多層納米薄膜的膜層厚度，以及在632.8nm下折射率n和消光系數(shù)k。EM12-PV融合多項(xiàng)量拓科技專利技術(shù)，采用一體化樣品臺(tái)技術(shù)，兼容測量單晶和多晶太陽電池樣品。一鍵式多線程操作軟件，使得儀器操作簡單安全。特點(diǎn)：粗糙絨面納米薄膜的測量先進(jìn)的光能量增強(qiáng)技術(shù)、低噪聲的探測器件以及高信噪比的微弱信號(hào)處理方法，實(shí)現(xiàn)了對粗糙表面散射為主和極低反射率為特征的絨面太陽電池表面納米鍍層的檢測。次納米量級的高靈敏度和準(zhǔn)確度國際先進(jìn)的采樣方法、穩(wěn)定的核心器件、高質(zhì)量的制造工藝實(shí)現(xiàn)并保證了高準(zhǔn)確度和穩(wěn)定性，測量絨面減反膜的厚度精度優(yōu)于0.2nm。1.6秒的快速測量國際水準(zhǔn)的儀器設(shè)計(jì)，在保證極高精度和準(zhǔn)確度的同時(shí)，可在1.6秒內(nèi)快速完成一次測量，可滿足快速多點(diǎn)檢測和批量檢測需求。簡單方便安全的儀器操作一鍵式操作設(shè)計(jì)，用戶只需一個(gè)按鈕即可完成復(fù)雜的材料測量和分析過程，數(shù)據(jù)一鍵導(dǎo)出，豐富的模型庫和材料庫也同時(shí)方便了用戶的高級操作需求。應(yīng)用：EM12-PV適合于光伏領(lǐng)域中端精度要求的工藝研發(fā)和現(xiàn)場的質(zhì)量控制。EM12-PV可用于測量絨面單晶硅或多晶硅太陽電池表面上單層減反膜的厚度以及在632.8nm下的折射率n，典型納米膜層包括SiNx，ITO，TiO2，SiO2，A12O3，HfO2等，應(yīng)用領(lǐng)域包括晶體硅太陽電池、薄膜太陽電池等。EM12-PV也可用于測量光滑平面基底上的單層或雙層納米薄膜，包括膜層的厚度，以及在632.8nm下的折射率n和消光系數(shù)k。也可用于測量塊狀材料（包括，液體、金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)等）在632.8nm下的折射率n和消光系數(shù)k。應(yīng)用領(lǐng)域包括半導(dǎo)體、微電子、平板顯示等。
技術(shù)指標(biāo)：
項(xiàng)目
技術(shù)指標(biāo)
儀器型號(hào)
EM12-PV
激光波長
632.8nm (He-Ne Laser)
膜厚測量重復(fù)性（1）
0.2nm (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層)
0.2nm (對于絨面Si基底上80nm的Si3N4膜層)
折射率精度（1）
2x10-3 (對于平面Si基底上100nm的SiO2膜層)
2x10-3 (對于絨面Si基底上80nm的Si3N4膜層)
單次測量時(shí)間
與測量設(shè)置相關(guān)，典型1.6s
光學(xué)結(jié)構(gòu)
PSCA（Δ在0°或180°附近時(shí)也具有極高的準(zhǔn)確度）
激光光束直徑
1-2mm
入射角度
40°-90°可手動(dòng)調(diào)節(jié)，步進(jìn)5°
樣品方位調(diào)整
一體化樣品臺(tái)輕松變換可測量單晶或多晶樣品
可測量156*156mm電池樣品上每個(gè)點(diǎn)
Z軸高度調(diào)節(jié)：±6.5mm
二維俯仰調(diào)節(jié)：±4°
樣品對準(zhǔn)：光學(xué)自準(zhǔn)直顯微和望遠(yuǎn)對準(zhǔn)系統(tǒng)
樣品臺(tái)尺寸
平面樣品直徑可達(dá)Φ170mm
兼容125*125mm和156*156mm的太陽能電池樣品
的膜層厚度范圍
粗糙表面樣品：與絨面物理結(jié)構(gòu)及材料性質(zhì)相關(guān)
光滑平面樣品：透明薄膜可達(dá)4um，吸收薄膜與材料性質(zhì)相關(guān)
外形尺寸
887 x 332 x 552mm (入射角為90º時(shí))
儀器重量（凈重）
25Kg
選配件
水平XY軸調(diào)節(jié)平移臺(tái)
真空吸附泵
軟件
ETEM軟件：
  • 中英文界面可選
  • 太陽能電池樣品預(yù)設(shè)項(xiàng)目供快捷操作使用
  • 單角度測量/多角度測量操作和數(shù)據(jù)擬合
  • 方便的數(shù)據(jù)顯示、編輯和輸出
  •  豐富的模型和材料數(shù)據(jù)庫支持
注：(1)測量重復(fù)性：是指對標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測量25次所計(jì)算的標(biāo)準(zhǔn)差。性能保證：穩(wěn)定的He-Ne激光光源、先進(jìn)的采樣方法以及低噪聲探測技術(shù)，保證了穩(wěn)定性和準(zhǔn)確度一體化樣品臺(tái)技術(shù)，兼容單晶和多晶硅太陽電池樣品,輕松變換可實(shí)現(xiàn)準(zhǔn)確測量高精度的光學(xué)自準(zhǔn)直顯微和望遠(yuǎn)系統(tǒng)，保證了快速、高精度的樣品方位對準(zhǔn)新型樣品調(diào)節(jié)技術(shù)，有效提高樣品定位精度，并節(jié)省操作時(shí)間新型光電增強(qiáng)技術(shù)和獨(dú)特的噪聲處理方法，顯著降低現(xiàn)場噪聲的影響一體化集成式儀器整體設(shè)計(jì)，保證了系統(tǒng)穩(wěn)定性，并節(jié)省空間分立式的多入射角選擇，可應(yīng)用于復(fù)雜樣品的折射率和厚度的測量一鍵式軟件設(shè)計(jì)以及豐富的物理模型庫和材料數(shù)據(jù)庫，方便用戶使用可選配件： NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標(biāo)片 NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標(biāo)片 VP01真空吸附泵 VP02 真空吸附泵 
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200094.htmlEM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）型號(hào):JX200097EM01-RD 多入射角激光橢偏儀
特別聲明：EM01-RD多入射角激光橢偏儀（研發(fā)級）已升級至EMPro31 型多入射角激光橢偏儀，主要升級內(nèi)容包括：單次測量速度提高3倍;新的儀器外形;整體穩(wěn)定性增強(qiáng). 納米薄膜高端研發(fā)領(lǐng)域?qū)Ｓ玫亩嗳肷浣羌す鈾E偏儀，用于納米薄膜的厚度、折射率n、消光系數(shù)k等參數(shù)的測量。適用于光面或絨面納米薄膜測量、塊狀固體參數(shù)測量、快速變化的納米薄膜實(shí)時(shí)測量等不同的應(yīng)用場合。采用量拓科技多項(xiàng)專利技術(shù)，儀器操作具有個(gè)性化定制功能，方便使用。特點(diǎn)：高精度、高穩(wěn)定性 一體化集成設(shè)計(jì)快速、高精度樣品方位對準(zhǔn)多入射角度測量快速反應(yīng)過程的實(shí)時(shí)測量操作簡單豐富的材料庫及物理模型強(qiáng)大的數(shù)據(jù)分析和管理 應(yīng)用領(lǐng)域：可對納米薄膜層構(gòu)樣品的薄膜厚度、折射率n及消光系數(shù)k進(jìn)行快速、高精度、高準(zhǔn)確度的測量，尤其適合于科研和工業(yè)產(chǎn)品環(huán)境中的新品研發(fā)可用于表征單層納米薄膜、多層納米層構(gòu)膜系，以及塊狀材料（基底）。應(yīng)用領(lǐng)域涉及納米薄膜的幾乎所有領(lǐng)域，如微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、電化學(xué)、磁介質(zhì)存儲(chǔ)、聚合物及金屬表面處理等。性能保證：高穩(wěn)定性的He-Ne激光光源、高精度的采樣方法以及低噪聲探測技術(shù)，保證了系統(tǒng)的高穩(wěn)定性和高準(zhǔn)確度.高精度的光學(xué)自準(zhǔn)直望遠(yuǎn)系統(tǒng)，保證了快速、高精度的樣品方位對準(zhǔn)穩(wěn)定的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)、可靠的樣品方位對準(zhǔn)，結(jié)合先進(jìn)的采樣技術(shù)，保證了快速、穩(wěn)定測量分立式的多入射角選擇，可應(yīng)用于復(fù)雜樣品的折射率和厚度的測量一體化集成式的儀器結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)，使得系統(tǒng)操作簡單、整體穩(wěn)定性提高，并節(jié)省空間專用軟件方便納米薄膜樣品的測試和建模。 技術(shù)指標(biāo)：

激光波長

 
632.8nm (He-Ne laser)
膜厚測量重復(fù)性
0.01nm (對于Si基底上110nm的SiO2膜層)
折射率精度
1x10-4 (對于Si基底上110nm的SiO2膜層)
光學(xué)結(jié)構(gòu)
PSCA
激光光束直徑
<1mm
入射角度
40°-90°可選，步進(jìn)5°
樣品方位調(diào)整
三維平移調(diào)節(jié)
二維俯仰調(diào)節(jié)
光學(xué)自準(zhǔn)直系統(tǒng)對準(zhǔn)
樣品臺(tái)尺寸
Φ170mm
單次測量時(shí)間
0.2s
推薦測量范圍
0-6000nm
外形尺寸(長x寬x高)
887 x 332 x 552mm (入射角為70º時(shí))
儀器重量（凈重）
25Kg

 

可選配件：NFS-SiO2/Si二氧化硅納米薄膜標(biāo)片NFS-Si3N4/Si氮化硅納米薄膜標(biāo)片VP01真空吸附泵VP02真空吸附泵樣品池 
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200097.htmlEM01-RD 多入射角激光橢偏儀型號(hào):JX200091EX3自動(dòng)橢圓偏振測厚儀
EX3自動(dòng)橢圓偏振測厚儀是基于消光法（或稱“零橢偏”）測量原理，針對納米薄膜厚度測量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測量型教學(xué)儀器。與EM22儀器相比，該儀器采用半導(dǎo)體激光器作為光源，穩(wěn)定性好，體積更小。EX3儀器適用于納米薄膜的厚度測量，以及納米薄膜的厚度和折射率同時(shí)測量。EX3儀器還可用于同時(shí)測量塊狀材料（如，金屬、半導(dǎo)體、介質(zhì)）的折射率n和消光系數(shù)k。特點(diǎn):經(jīng)典消光法橢偏測量原理儀器采用消光法橢偏測量原理，易于理解和掌握橢偏測量基本原理和過程。方便安全的樣品水平放置方式采用水平放置樣品的方式，方便樣品的取放。緊湊的一體化結(jié)構(gòu)集成一體化設(shè)計(jì)，簡潔的儀器外形通過USB接口與計(jì)算機(jī)相連，方便儀器使用。高穩(wěn)定性光源采用半導(dǎo)體激光器作為探測光的光源，穩(wěn)定性高，噪聲低。豐富實(shí)用的樣品測量功能可測量納米薄膜的膜厚和折射率、塊狀材料的復(fù)折射率等。便捷的自動(dòng)化操作儀器軟件可自動(dòng)完成樣品測量，并可進(jìn)行方便的測量數(shù)據(jù)分析、儀器校準(zhǔn)等操作。安全的用戶使用權(quán)限管理軟件中設(shè)置了用戶使用權(quán)限（包括：管理員、等模式），便于儀器管理和使用。可擴(kuò)展的儀器功能利用本儀器，可通過適當(dāng)擴(kuò)展，完成多項(xiàng)偏振測量實(shí)驗(yàn)，如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測量實(shí)、旋光等。應(yīng)用領(lǐng)域:EX3適合于教學(xué)中單層納米薄膜的薄膜厚度測量，也可用于測量塊狀材料的折射率n和消光系數(shù)k。EX3可測量的樣品涉及微電子、半導(dǎo)體、集成電路、顯示技術(shù)、太陽電池、光學(xué)薄膜、生命科學(xué)、化學(xué)、電化學(xué)、磁質(zhì)存儲(chǔ)、平板顯示、聚合物及金屬表面處理等領(lǐng)域。技術(shù)指標(biāo):
項(xiàng)目
技術(shù)指標(biāo)
儀器型號(hào)
EX3
測量方式
自動(dòng)測量
樣品放置方式
水平放置
光源
半導(dǎo)體激光器，波長635nm
膜厚測量重復(fù)性*
0.5nm (對于Si基底上100nm的SiO2膜層)
膜厚范圍
透明薄膜：1-4000nm
吸收薄膜則與材料性質(zhì)相關(guān)
折射率范圍
1.3 – 10
探測光束直徑
Φ2-3mm
入射角度
30°-90°，精度0.05°
偏振器方位角讀數(shù)范圍
0-360°
偏振器步進(jìn)角
0.014°
樣品方位調(diào)整
Z軸高度調(diào)節(jié)：16mm
二維俯仰調(diào)節(jié)：±4°
允許樣品尺寸
圓形樣品直徑Φ120mm，矩形樣品可達(dá)120mm x 160mm
配套軟件
* 用戶權(quán)限設(shè)置
* 多種測量模式選擇
* 多個(gè)測量項(xiàng)目選擇
* 方便的數(shù)據(jù)分析、計(jì)算、輸入輸出
外形尺寸
（入射角度70°時(shí)）450*375*260mm
儀器重量（凈重）
15Kg
注：(1)測量重復(fù)性：是指對標(biāo)準(zhǔn)樣品上同一點(diǎn)、同一條件下連續(xù)測量30次的標(biāo)準(zhǔn)差。性能保證:ISO9001國際質(zhì)量體系下的儀器質(zhì)量保證專業(yè)的儀器使用培訓(xùn)專業(yè)的橢偏測量原理課程 
欄目頁面:http://www.runlian365.com/product/4516.html光譜橢偏儀來源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200091.htmlEX3自動(dòng)橢圓偏振測厚儀熱門搜索:EM12-PV 精致型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）     VP02 真空吸附泵     EM01-RD 多入射角激光橢偏儀     EX3 自動(dòng)橢圓偏振測厚儀     EMPro-PV 型多入射角激光橢偏儀（光伏專用）     EX3自動(dòng)橢圓偏振測厚儀     臨汾光譜橢偏儀鶴崗塑料薄膜厚度測量儀鶴崗產(chǎn)業(yè)的發(fā)展【河北潤聯(lián)科技開發(fā)有限公司】創(chuàng)新科技先鋒品牌★★誠信經(jīng)營企業(yè)★★電子商務(wù)企業(yè)獎(jiǎng)★★工業(yè)產(chǎn)品推薦★★機(jī)械行業(yè)品牌★★撥打電話請告訴我產(chǎn)品訂貨號(hào)，熱線：【牛經(jīng)理400-076-1255】【溫馨提示】本公司產(chǎn)品因產(chǎn)品種類繁多，詳細(xì)配置價(jià)格請致電咨詢！[河北德科機(jī)械設(shè)備有限公司]——是集科研、開發(fā)、制造、經(jīng)營于一體，的工程試驗(yàn)儀器專業(yè)制造實(shí)體。公司主要經(jīng)營砼混凝土儀器,水泥試驗(yàn)儀器,砂漿試驗(yàn)儀器,泥漿試驗(yàn)儀器,土工試驗(yàn)儀器,瀝青試驗(yàn)儀器,公路集料儀器,防水材料儀器,公路巖石儀器,路面試驗(yàn)儀器,壓力試驗(yàn)機(jī)養(yǎng)護(hù)室儀器及實(shí)驗(yàn)室耗材等上百種產(chǎn)品。在以雄厚的技術(shù)底蘊(yùn)在強(qiáng)化自主開發(fā)的同時(shí)，積極采用國內(nèi)外先進(jìn)技術(shù)標(biāo)準(zhǔn)，尋求推進(jìn)與大專院校，科研單位的協(xié)作互補(bǔ)，以實(shí)現(xiàn)新產(chǎn)品開發(fā)的高起點(diǎn)，在交通部、建設(shè)部及科研所專家們的指導(dǎo)下，產(chǎn)品不斷完善，不斷更新。已廣泛用于建材，建筑施工，道橋建設(shè)，水電工程和機(jī)械，交通、石油、化工等領(lǐng)域的質(zhì)量檢測。并同國內(nèi)外各試驗(yàn)儀器廠建立了長期合作關(guān)系，嚴(yán)把質(zhì)量關(guān)，價(jià)格更優(yōu)惠！公司擁有現(xiàn)代化鋼構(gòu)倉庫4000多平方米，并配備業(yè)內(nèi)的裝備設(shè)施，車輛出入方便，倉庫管理實(shí)現(xiàn)標(biāo)準(zhǔn)化、高效化管理，確保儀器設(shè)備不斷貨。全球眾多眾多知名試驗(yàn)儀器及測量、測繪電子廠家直供，國內(nèi)外一線知名儀器品牌匯聚于此，更是眾多新品上線網(wǎng)購平臺(tái)的之地。全國服務(wù)隊(duì)伍專業(yè)快捷服務(wù)，完善的呼叫中心服務(wù)體系，咨詢熱線：[牛經(jīng)理400-076-1255]迅速解決客戶問題，專業(yè)提供優(yōu)質(zhì)高效的售后服務(wù)。潤聯(lián)為您提供詳細(xì)的產(chǎn)品價(jià)格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息，您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料，聯(lián)系時(shí)請說明是在潤聯(lián)看到的，并告知型號(hào)【關(guān)于合作】我們本著精益求精、經(jīng)銷誠實(shí)守信、服務(wù)熱情周到的服務(wù)宗旨和協(xié)助伙伴成就事業(yè)從而成就自己的事業(yè)的立業(yè)精神，為客戶提供卓越的品質(zhì)和服務(wù)。因產(chǎn)品種類多 沒有一一上傳,如有需要,請聯(lián)系我們。【關(guān)于發(fā)貨】我們會(huì)在確認(rèn)合作方式以及合作達(dá)成時(shí)為您發(fā)貨考慮到成本的因素，我們一般采用物流發(fā)貨，不過請您放心，因?yàn)槲覀兊耐獾乜蛻舴浅Ｖ啵旧衔覀儤I(yè)務(wù)已經(jīng)覆蓋全國，所以物流公司都是我們精心篩選的，不管是發(fā)貨時(shí)間，還是價(jià)格都是滿意的，同時(shí)我們在交付物流公司后將在時(shí)間告知客戶，并且我們會(huì)將物流費(fèi)用一并告知發(fā)貨打包我們都有專人嚴(yán)格檢查商品的質(zhì)量的，請放心購買。聯(lián)系方式:電話:400-076-1255
該公司產(chǎn)品分類： 閥門 泵 勞保 五金 儀器 機(jī)械

F20薄膜厚度測量儀

薄膜厚度測量范圍： 3nm～450um，精度為0.1nm。 光源及探測器的波長從紫外220nm至近紅外1700nm。

產(chǎn)品特性：
1、操作簡單、使用方便；
2、測量快速、；
3、體積小、重量輕；
4、價(jià)格便宜；
 
產(chǎn)品應(yīng)用：
1、半導(dǎo)體行業(yè):光刻膠、氧化物、氮化物；
2、LCD行業(yè):液晶盒間隙厚度、ITO、Polyimides；
3、光電鍍膜應(yīng)用:硬化膜、抗反射膜、濾波片；

ST2000薄膜厚度測量儀

ST2000薄膜厚度測量儀特點(diǎn)1） 因?yàn)槭抢霉獾姆绞，所以是非接觸式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。

2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。

4） 可測量3層以內(nèi)的多層膜。

5） 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。

6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品

7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）

8）超大型Stage （PDP專用） 

ST2000薄膜厚度測量儀產(chǎn)品規(guī)格/型號(hào)

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m（Depends on Film Type）
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP
 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera
Function Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

該公司產(chǎn)品分類： 水質(zhì)分析儀/多參數(shù)水質(zhì)分析儀 其它基礎(chǔ)儀表 其它測量/計(jì)量儀器 生物顯微鏡 激光拉曼光譜(RAMAN) 表面阻抗 蠕動(dòng)泵 電化學(xué)工作站、恒電位儀 液體處理工作站(移液工作站) 在線測厚儀 生物芯片、芯片掃描儀、芯片點(diǎn)樣儀、芯片檢測儀 微波、電、磁學(xué)量的測量儀表 微流控芯片 等離子體表面處理儀 橢偏儀 鎖相放大器 其它動(dòng)物實(shí)驗(yàn)儀器 白光干涉測厚儀 掃描探針顯微鏡SPM（原子力顯微鏡AFM、掃描隧道顯微鏡STM） 紫外、紫外分光光度計(jì)、紫外可見分光光度計(jì)、UV

ST2000薄膜厚度測量儀

ST2000薄膜厚度測量儀特點(diǎn)1） 因?yàn)槭抢霉獾姆绞，所以是非接觸式，非破壞式，不會(huì)影響實(shí)驗(yàn)樣品。

2） 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。

3） 測量迅速正確，且不必為測量而破壞或加工實(shí)驗(yàn)樣品。

4） 可測量3層以內(nèi)的多層膜。

5） 根據(jù)用途可自由選擇手動(dòng)型或自動(dòng)型。

6） 產(chǎn)品款式多樣，而且也可以根據(jù)顧客的要求設(shè)計(jì)產(chǎn)品

7）可測量 PDP 上的膜厚度 （Stage size 6“ 8”, 12“ ...）

8）超大型Stage （PDP專用） 

ST2000薄膜厚度測量儀產(chǎn)品規(guī)格/型號(hào)

 Stage Size ~1700mm x 1200mm  Automation Thickness Measurement
 Measurement Range 100?~ 50μ m（Depends on Film Type）
 Spot size 40μ m/20μ m/10μ m,μ光m
 Measurement Speed 1~2sec/site Typically
 Application Areas

Polymers : PVA, PET, PP, PR ... Dielectrics : SiO2, TiO2, ITO, ZrO2, Si3N4 semiconductors: Poly-Si, GaAs, GaN, inP,ZnS... PR,ITO,SIO2 on the Glass Intended for Large Size PDP Dlelectric Material, MgO, ITO on the Glass Intended for Large size PDP
 Option

Programmable Auto X-Y Stage Auto Focusing CCD Camera
Function Pattern Identification by Pattern Maching Entry-level CD Measurement

該公司產(chǎn)品分類： 恒流泵 恒壓恒流進(jìn)樣泵 微流控

山東聊城光學(xué)薄膜厚度測量儀鍍鋅層厚度測量儀生產(chǎn)廠家

　我廠專業(yè)生產(chǎn)鍍鋅層厚度測量儀；擁有100多名的售后服務(wù)隊(duì)伍，完善的售后保證，保證每個(gè)客戶問題及時(shí)反饋和處理；本廠常年保存充足的鍍鋅層厚度測量儀產(chǎn)品備件，滿足用戶隨時(shí)的維護(hù)和維修需求！　∥覐S生產(chǎn)的各種產(chǎn)品具有鑄造，加工、組裝，一次性完成的能力，保證每臺(tái)出廠產(chǎn)品的質(zhì)量，擁有大型機(jī)加車間、機(jī)加設(shè)備及配套的相關(guān)技術(shù)工人，可根據(jù)用戶的需要，為用戶設(shè)計(jì)各種鍍鋅層厚度測量儀專用設(shè)備，可以滿足，建筑，鐵道，水電，交通，礦山等單位不同工程實(shí)際情況；除此外，我廠擁有一支具備專業(yè)能力的隊(duì)伍，可以對外承攬技術(shù)咨詢服務(wù)。　　1.我們將在北京、石家莊、邢臺(tái)、廣東、成都等地提供送貨上門服務(wù).　　2.鍍鋅層厚度測量儀根據(jù)配置不同價(jià)格不同，此價(jià)格為參考價(jià)格，具體價(jià)格以合同為準(zhǔn).　　3.鍍鋅層厚度測量儀發(fā)貨周期為正常周期，根據(jù)產(chǎn)品不同型號(hào)不同貨期也有所不同，具體發(fā)貨時(shí)間以合同為準(zhǔn).山東聊城光學(xué)薄膜厚度測量儀鍍鋅層厚度測量儀生產(chǎn)廠家光學(xué)薄膜厚度測量儀高精度超聲波測厚儀[導(dǎo)讀]TT110超聲波測厚儀 詳細(xì)參數(shù) 原理：超聲波測量厚儀根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。時(shí)代超聲波測量厚儀系列是集當(dāng)代科技電子技術(shù)和測量技術(shù)于一體的、先進(jìn)的無損檢測儀器，采用微電腦對數(shù)據(jù)時(shí)行分析、處理、顯示，采用高度優(yōu)化的測量電路，具有測量精度高、范圍寬、操作簡便、工作穩(wěn)定可靠等特點(diǎn)。廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。 TT110超聲波測厚儀聲速固定為5900m/s(鋼材聲速)，可以對各種鋼鐵類板材和加工零件作精確測量1、自動(dòng)校對零點(diǎn)：可對系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；2、耦合提示、低電壓提示；3、關(guān)機(jī)方式：自動(dòng)關(guān)機(jī)（無操作三分鐘后）；4、數(shù)據(jù)存儲(chǔ)：可以存儲(chǔ)10個(gè)厚度值；5、聲速固定：5900m/s適合測量鋼鐵材料厚度 性能TT110測量范圍0. 高精度超聲波測厚儀相關(guān)產(chǎn)品
DR86型超聲波測厚儀 庫號(hào)：RL023676DR86型超聲波測厚儀采用超聲波測量原理,適用于能使用超聲波以一恒定速度在其內(nèi)部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測量DR86高精度超聲波測厚儀（高溫型），適用于各種材料的高精度厚度測量需求，可應(yīng)用于鋼、鑄鐵、鋁、銅、鋅、石英、玻璃、聚、PVC，灰口鑄鐵、球墨鑄鐵等材質(zhì)的被測物體厚度測量。 只需要將探頭放置于被測物體一側(cè)的接觸面上，既可以迅速準(zhǔn)確測量出被測物體厚度。這款高溫型適用于，生產(chǎn)用品是的高溫材料，耐用無損，高溫金屬超聲波測厚儀 高溫塑料厚度測量儀 高溫玻璃測厚儀技
TT110超聲波測厚儀 庫號(hào)：RL023677原理：超聲波測量厚儀根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。時(shí)代超聲波測量厚儀系列是集當(dāng)代科技電子技術(shù)和測量技術(shù)于一體的、先進(jìn)的無損檢測儀器，采用微電腦對數(shù)據(jù)時(shí)行分析、處理、顯示，采用高度優(yōu)化的測量電路，具有測量精度高、范圍寬、操作簡便、工作穩(wěn)定可靠等特點(diǎn)。廣泛應(yīng)用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。 TT110超聲波測厚儀聲速固定為5900m/
HCH-2000D型超聲波測厚儀 庫號(hào)：RL023678HCH-2000D型超聲波測厚儀的0.65-350mm，顯示精度：0.01mm，內(nèi)部電路均采用最新數(shù)字電子技術(shù)，具有體積小、功耗低、穿透力強(qiáng)、抗摔打、抗振動(dòng)、示值穩(wěn)定、觸摸按鍵、檢測精度高、可存儲(chǔ)測量值、帶公英制轉(zhuǎn)換、全漢顯中文菜單、液晶顯示、可連接微機(jī)、打印機(jī)等特點(diǎn)，是您在實(shí)際應(yīng)用中首選的儀器。超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。它可以對各種材料的板
高精度超聲波測厚儀 庫號(hào)：RL023680產(chǎn)品簡介應(yīng)用：石油、造船、電站、機(jī)器制造業(yè)及壓力容器、化工設(shè)備鍋爐、儲(chǔ)油罐等厚度測量和腐蝕測量。型號(hào):LH-8812測量范圍（公/英制）:1.2-220 0.05-8inch可測量的材料：可測任何硬材料，如：鋼，鑄鋼，鋁，紫銅，黃銅，鋅，石英玻璃，聚，聚氯，灰鑄鐵，球墨鑄鐵，陶瓷，塑料及其他任何超聲波的良導(dǎo)體厚度。傳感器: 超聲波管材測量下限：由傳感器確定電池電壓指示：低電壓提示聲速范圍：500-9000m/s管材測量下限：Ф15X2.0mm,Ф20X3.0mm由探頭確定使用環(huán)境：溫度：
HCH-2000D型超聲波測厚儀 詳細(xì)參數(shù)

HCH-2000D型超聲波測厚儀的0.65-350mm，顯示精度：0.01mm，內(nèi)部電路均采用最新數(shù)字電子技術(shù)，具有體積小、功耗低、穿透力強(qiáng)、抗摔打、抗振動(dòng)、示值穩(wěn)定、觸摸按鍵、檢測精度高、可存儲(chǔ)測量值、帶公英制轉(zhuǎn)換、全漢顯中文菜單、液晶顯示、可連接微機(jī)、打印機(jī)等特點(diǎn)，是您在實(shí)際應(yīng)用中首選的儀器。超聲波測厚儀是根據(jù)超聲波脈沖反射原理來進(jìn)行厚度測量的，當(dāng)探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達(dá)材料分界面時(shí)，脈沖被反射回探頭，通過精確測量超聲波在材料中傳播的時(shí)間來確定被測材料的厚度。它可以對各種材料的板材和加工零件作精確測量；可以對生產(chǎn)設(shè)備中各種管道和壓力容器進(jìn)行監(jiān)測，檢測它們在使用過程中受腐蝕后的減薄程度。也可以在不去除所涂油漆層的情況下，準(zhǔn)確的測量板材厚度。

應(yīng)用范圍：用于測量硬質(zhì)材料的厚度，如：鋼鐵、不銹鋼、鋁、銅、鉻合金等金屬材料，及塑料、橡膠、陶瓷、玻璃等非金屬。該儀器廣泛應(yīng)用于石油、化工、電力、鍋爐、冶金、造船、航空、航天等各個(gè)領(lǐng)域。

二、產(chǎn)品性能

1、測量范圍：0.65-350mm(45＃鋼)

2、顯示精度：0.01mm

3、測量誤差：1% x厚度值0.05mm

4、測量方式：手動(dòng)存儲(chǔ)測量

5、存儲(chǔ)容量：600個(gè)測量點(diǎn)

6、探頭頻率：5MHz

7、聲速范圍：1000-9990M/S

8、電源范圍：1.2-1.5V堿性電池或充電電池

9、外型尺寸：50mmx124mmx24mm

10、使用環(huán)境：溫度-10C ~ 60C 相對濕度小于90%

11、自動(dòng)斷電：本儀器待機(jī)五分鐘將自動(dòng)關(guān)機(jī)

三、HCH-2000D型超聲波測厚儀配置單

1、HCH-2000D型主機(jī) 1臺(tái)

2、探頭( 8 ) 1支

3、耦合劑 1瓶

4、七號(hào)電池 2節(jié)

5、使用說明書 1份

6、保修卡、合格證 1份

7、手提箱 1只

選配件1、打印機(jī)及通訊打印連線 1套

2、微機(jī)通訊軟件 1盤

3、高溫、鑄鐵、小管徑探頭

該公司產(chǎn)品分類： 儀表儀器 潤聯(lián)機(jī)械

測量聚合物薄膜薄膜厚度測量儀價(jià)格

光學(xué)薄膜厚度測量儀在傳統(tǒng)薄膜測厚儀的基礎(chǔ)上添加了加熱/制冷的溫度控制單元，使用白光反射光譜技術(shù)（WLRS），實(shí)時(shí)測量薄膜厚度和折射率，并通過專業(yè)軟件記錄下這些數(shù)據(jù)。這款薄膜測厚儀,光學(xué)薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀用于測量聚合物薄膜和光致抗蝕劑薄膜在加熱或制冷情況下薄 膜厚度和光學(xué)常量（n, k）的變化。為了這種特色的測量，我們特意研發(fā)了專業(yè)的軟件和算法，使得該聚合物薄膜測厚儀能夠給出薄膜的物理化學(xué)指標(biāo)：例如玻璃化轉(zhuǎn)變溫度 glass transition temperature （Tg）, ，熱分解溫度thermal degradation temperature （Td） ，薄膜的厚度測量范圍也高達(dá)10nm－－100微米。

詳情瀏覽： http://www.f-lab.cn/surface-residue/coating-mapping.html這 套薄膜測厚儀,光學(xué)薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀能夠快速實(shí)時(shí)給出薄膜厚度和薄膜光學(xué)常量等物理化學(xué)性能數(shù)據(jù)，并且能夠控制薄膜加熱和 制冷的速度，是聚合物薄膜特性深入研究的理想工具。所使用的軟件也適合薄膜的其他熱性能研究，例如：薄膜的熱消融/熱剝蝕thermal ablation研究，薄膜光學(xué)性質(zhì)隨溫度的變化，薄膜預(yù)烘烤Post Apply Bake，光刻過程后烘烤 Post Exposure Bake對薄膜厚度的損失等諸多研究。對于薄膜測厚儀,光學(xué)薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀要求薄膜襯底是透明的，背面是不反射的。它能夠處理最高4層薄膜的膜堆layer stacks，給出兩個(gè)參數(shù)：例如兩個(gè)薄膜的厚度或一個(gè)薄膜的厚度和光學(xué)常量。這套薄膜測厚儀,光學(xué)薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀已經(jīng)成功應(yīng)用于測量不同聚合物薄膜的熱性能，光刻薄膜的熱處理影響分析，Si晶圓wafer上的光致抗蝕劑薄膜分析等。標(biāo)準(zhǔn)參數(shù)可測膜厚： 5nm-150微米；波長范圍：200-1100nm精度：0.5%分辨率：0.02nm測量點(diǎn)光斑大小：0.5mm可測樣品大。10-100mm計(jì)算機(jī)要求：Windows XP, vista, Win7均可，USB接口；尺寸：360x400x180mm重量：13.5kg電力要求：110/230VAC薄膜測厚儀,光學(xué)薄膜測厚儀,薄膜厚度測量儀應(yīng)用聚合物薄膜測量光致抗蝕劑薄膜測量化學(xué)和生物薄膜測量，傳感測量光電子薄膜結(jié)構(gòu)測量半導(dǎo)體制造在線測量光學(xué)鍍膜測量中國最大的進(jìn)口精密光學(xué)器件和科學(xué)儀器供應(yīng)商。

Email: info@felles.cn 或  felleschina@outlook.comWeb: www.felles.cn                    （激光光學(xué)精密儀器網(wǎng)）         www.felles.cc                     （綜合性尖端測試儀器網(wǎng)）         www.f-lab.cn                       （綜合性實(shí)驗(yàn)室儀器網(wǎng)）
該公司產(chǎn)品分類： 成像光譜儀 X射線衍射儀 激光晶體和器件 翹曲度形貌儀

最新產(chǎn)品

熱門儀器： 液相色譜儀 氣相色譜儀 原子熒光光譜儀 可見分光光度計(jì) 液質(zhì)聯(lián)用儀 壓力試驗(yàn)機(jī) 酸度計(jì)（PH計(jì)） 離心機(jī) 高速離心機(jī) 冷凍離心機(jī) 生物顯微鏡 金相顯微鏡 標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì) 生物試劑