產(chǎn)品概述 |
GDS-80 晶體測(cè)試儀是高性價(jià)比的晶振測(cè)試系統(tǒng),采用微處理器技術(shù),實(shí)現(xiàn)智能化測(cè)量,符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)。測(cè)量頻率范圍20KHz-100MHz,附RS-232接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通信。特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)生產(chǎn)和科研使用。 GDS-80 晶體測(cè)試儀采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)等精度測(cè)量。它測(cè)量精度高,速度快;具有串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻、負(fù)載諧振電阻、PPM值、靜電容等參數(shù)測(cè)量,可保存5個(gè)不同晶振頻率和負(fù)載電容參數(shù),負(fù)載電容在2-20P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置,從滿足不同負(fù)載電容的晶振測(cè)試,智能運(yùn)算克服了市場(chǎng)上晶體阻抗計(jì)阻抗數(shù)值顯示不明顯的缺點(diǎn)、解除了手工校對(duì)的麻煩,讓晶振測(cè)試變得更輕松。 |
產(chǎn)品特點(diǎn) |
1. 阻抗值、ppm同時(shí)顯示 2. 無(wú)需人工校對(duì),直接測(cè)試多種參數(shù) 3. 新技術(shù),符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn),滿足國(guó)人需求,可替代進(jìn)口設(shè)備 4. LCD顯示
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我們的優(yōu)勢(shì) |
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特性 |
1. 中心頻率范圍: 20KHz-100MHz任意設(shè)定 2. 負(fù)載電容:4-20P 任意設(shè)定 3. 負(fù)載諧振電阻:1Ω-300Ω 1K-300K 4. PPm范圍測(cè)量:±300ppm 5. PPm測(cè)量精度:< 0.5ppm 6. 時(shí)基頻率:16.384M 7. 晶振穩(wěn)定性:2×10-8 /日 8. 體積:80×235×305(mm) 9. 保修期:三年 |
訂購(gòu)注意事項(xiàng) |
1. 此產(chǎn)品網(wǎng)上訂購(gòu),價(jià)格不含稅不含運(yùn)費(fèi),承諾質(zhì)量保證并十五天內(nèi)包退換,下單即可備貨發(fā)貨。 2. 請(qǐng)告知我們待測(cè)產(chǎn)品,以方便我們?yōu)槟_選型。 3. 如有特殊要求時(shí)請(qǐng)?jiān)谟嗁?gòu)產(chǎn)品時(shí)注明。 4. 若已由設(shè)計(jì)單位選定的型號(hào),請(qǐng)按型號(hào)直接向我司銷售部訂購(gòu)。 |
晶體管直流參數(shù)測(cè)試表 數(shù)顯晶體管測(cè)試儀JL294-3
類型 電參數(shù)測(cè)量?jī)x 品牌 國(guó)產(chǎn)
型號(hào) JL294-3 重量 0.5(kg)
尺寸 162×115×80(mm)
JL系列晶體管直流參數(shù)測(cè)試表分為數(shù)字顯示JL294-3、JL294-3B【停產(chǎn)】和指針式JL295共計(jì)3個(gè)型號(hào)。
產(chǎn)品特點(diǎn):
儀表可測(cè)試各種晶體二極管、三極管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管的正向、反向電壓、正向飽和壓降、放大倍數(shù)、反向漏電流等多種直流參數(shù);電解電容,滌綸電容,鉭電容,獨(dú)石電容,高壓瓷片的耐壓值;壓敏電阻的保護(hù)電壓值;氖泡、霓虹燈管的起輝電壓值;電器產(chǎn)品的絕緣性能;78、79系列三端穩(wěn)壓電路的穩(wěn)壓值。
儀表為便攜式設(shè)計(jì),體積小、重量輕、量程多、功能強(qiáng)、操作均采用無(wú)鎖按鍵,使用方便可靠,實(shí)用性強(qiáng),適用于從事電子技術(shù)的實(shí)驗(yàn)人員、調(diào)試人員、維修人員、采購(gòu)人員、銷售人員及無(wú)線電愛(ài)好者。還適用于電子電器產(chǎn)品生產(chǎn)廠家作為各類電子元器件批量檢測(cè)之用。
通用性技術(shù)指標(biāo):
工作電源:DC 6V ± 5% (單電源)【自行購(gòu)買(mǎi)電源,廠家沒(méi)有配送!】
電源功耗:≤3A
顯示方式:0.5”LCD液晶顯示
外型尺寸:162×115×80(mm)
整機(jī)質(zhì)量:≈500g(機(jī)內(nèi)不含電池)
功能性技術(shù)指標(biāo):
VBR測(cè)量范圍:0~199.9V/0~1999V
分 辨 力:0.1V/1V
VCE(set)測(cè)量范圍:0~6.00V
分 辨 力:0.01V
hFE測(cè)量范圍:0~199.9β~1999β
分 辨 力:0.1β/1β
Iceo測(cè)量范圍:0~1999uA
分 辨 力:1uA
三端穩(wěn)壓測(cè)量范圍:0~24.0V
分 辨 力:0.1V
基本誤差:±2.5%量程 (環(huán)境濕度≤75%RH)
使用注意事項(xiàng):
1、測(cè)試晶體管的反向擊穿電壓時(shí),被測(cè)管與測(cè)試插座的接觸必須良好,再按測(cè)試鍵!如果接觸不良,在高電壓測(cè)試的情況下極有可能將被測(cè)管損壞!
2、測(cè)試電容器時(shí)不要將電容器插在三極管插座的插孔內(nèi)測(cè)試電容的耐壓,也不要先松開(kāi)關(guān)再拔電容,因?yàn)檫@樣有可能導(dǎo)致電容器上帶的電荷泄放在儀表內(nèi)部,會(huì)將開(kāi)關(guān)觸點(diǎn)損壞!建議專測(cè)電容耐壓的用戶選擇JL294-3B電壓可調(diào)型儀表測(cè)試電容器的耐壓。
3、用戶在大批量測(cè)試元器件之前請(qǐng)先仔細(xì)閱讀使用說(shuō)明書(shū),采取正確的操作方法,并應(yīng)先進(jìn)行少批量的試驗(yàn)測(cè)試,在確定所用的測(cè)試方法不會(huì)損壞元器件的情況下進(jìn)行大批量測(cè)試!如需大批量檢測(cè)某一型號(hào)的元器件而又無(wú)法確定測(cè)試方法的,請(qǐng)即致電本公司!
4、儀表各檔開(kāi)關(guān)正常工作壽命約為3~4萬(wàn)次;但在2000V高壓或2A大電流的負(fù)荷下工作壽命將有所下降,約為2萬(wàn)次,如果生產(chǎn)型工廠作為元器件大批量連續(xù)測(cè)試使用,請(qǐng)?zhí)崆案嬷竟具M(jìn)行更改,否則容易在短期內(nèi)將開(kāi)關(guān)損壞;如屬大批量連續(xù)測(cè)試而損壞開(kāi)關(guān)的故障不屬于免費(fèi)維修的范圍!
產(chǎn)品概述 |
晶體測(cè)試儀GDS-80是高性價(jià)比的晶振測(cè)試系統(tǒng),采用微處理器技術(shù),實(shí)現(xiàn)智能化測(cè)量,符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)。測(cè)量頻率范圍20KHz-100MHz,附RS-232接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通信。特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)生產(chǎn)和科研使用。 晶體測(cè)試儀GDS-80采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)等精度測(cè)量。它測(cè)量精度高,速度快;具有串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻、負(fù)載諧振電阻、PPM值、靜電容等參數(shù)測(cè)量,可保存5個(gè)不同晶振頻率和負(fù)載電容參數(shù),負(fù)載電容在2-20P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置,從滿足不同負(fù)載電容的晶振測(cè)試,智能運(yùn)算克服了市場(chǎng)上晶體阻抗計(jì)阻抗數(shù)值顯示不明顯的缺點(diǎn)、解除了手工校對(duì)的麻煩,讓晶振測(cè)試變得更輕松。 |
產(chǎn)品特點(diǎn) |
1. 阻抗值、ppm同時(shí)顯示 2. 無(wú)需人工校對(duì),直接測(cè)試多種參數(shù) 3. 新技術(shù),符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn),滿足國(guó)人需求,可替代進(jìn)口設(shè)備 4. LCD顯示
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我們的優(yōu)勢(shì) |
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特性 |
1. 中心頻率范圍: 20KHz-100MHz任意設(shè)定 2. 負(fù)載電容:4-20P 任意設(shè)定 3. 負(fù)載諧振電阻:1Ω-300Ω 1K-300K 4. PPm范圍測(cè)量:±300ppm 5. PPm測(cè)量精度:< 0.5ppm 6. 時(shí)基頻率:16.384M 7. 晶振穩(wěn)定性:2×10-8 /日 8. 體積:80×235×305(mm) 9. 保修期:三年 |
訂購(gòu)注意事項(xiàng) |
1. 此產(chǎn)品網(wǎng)上訂購(gòu),價(jià)格不含稅不含運(yùn)費(fèi),承諾質(zhì)量保證并十五天內(nèi)包退換,下單即可備貨發(fā)貨。 2. 請(qǐng)告知我們待測(cè)產(chǎn)品,以方便我們?yōu)槟_選型。 3. 如有特殊要求時(shí)請(qǐng)?jiān)谟嗁?gòu)產(chǎn)品時(shí)注明。 4. 若已由設(shè)計(jì)單位選定的型號(hào),請(qǐng)按型號(hào)直接向我司銷售部訂購(gòu)。 5. 當(dāng)使用的場(chǎng)合非常重要或環(huán)境比較復(fù)雜時(shí),請(qǐng)您盡量提供設(shè)計(jì)圖。 6. 如有任何疑問(wèn),請(qǐng)隨時(shí)致電我們,我們一定會(huì)盡心盡力為您提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。 |
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照明/受光系統(tǒng) | 8/d(8°照明/漫射受光),含鏡面反射光(SCI) | 存儲(chǔ) | 標(biāo)準(zhǔn)樣100組,每組標(biāo)準(zhǔn)樣下測(cè)試組100組 |
顯示模式 | 色度值:L*a*b,L*C*h,△E*ab,XYZ,相對(duì)RGB值; 色差值:△(L*a*b),△(L*C*h); 白度值:亨特白度,甘茨白度; 黃度值:YI | 測(cè)量時(shí)間 | 約0.5秒 |
測(cè)量光源 | LED | ||
界面語(yǔ)言選擇 | 中文 英文 | ||
電源 | 4節(jié)AA1.5V堿性電池或鎳氫電池、專用適配器DC5V | ||
測(cè)量口徑 | 約直徑8mm | 接口 | USB2.0打印機(jī) |
測(cè)量條件 | CIE 10° 標(biāo)準(zhǔn)觀察者,CIE D65光源 | 重量 | 550g |
測(cè)量范圍 | L*:1-100 | 尺寸 | 77×86×210mm |
重復(fù)性 | 標(biāo)準(zhǔn)偏差△E*ab*,0.08以內(nèi)(測(cè)量條件:測(cè)白色校正板30次求平均值) | 其他功能 | 攝像頭取景 |
產(chǎn)品概述 |
晶體測(cè)試儀GDS-80是高性價(jià)比的晶振測(cè)試系統(tǒng),采用微處理器技術(shù),實(shí)現(xiàn)智能化測(cè)量,符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)。測(cè)量頻率范圍20KHz-100MHz,附RS-232接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通信。特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)生產(chǎn)和科研使用。 晶體測(cè)試儀GDS-80采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)等精度測(cè)量。它測(cè)量精度高,速度快;具有串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻、負(fù)載諧振電阻、PPM值、靜電容等參數(shù)測(cè)量,可保存5個(gè)不同晶振頻率和負(fù)載電容參數(shù),負(fù)載電容在2-20P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置,從滿足不同負(fù)載電容的晶振測(cè)試,智能運(yùn)算克服了市場(chǎng)上晶體阻抗計(jì)阻抗數(shù)值顯示不明顯的缺點(diǎn)、解除了手工校對(duì)的麻煩,讓晶振測(cè)試變得更輕松。 |
產(chǎn)品特點(diǎn) |
1. 阻抗值、ppm同時(shí)顯示 2. 無(wú)需人工校對(duì),直接測(cè)試多種參數(shù) 3. 新技術(shù),符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn),滿足國(guó)人需求,可替代進(jìn)口設(shè)備 4. LCD顯示
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我們的優(yōu)勢(shì) |
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特性 |
1. 中心頻率范圍: 20KHz-100MHz任意設(shè)定 2. 負(fù)載電容:4-20P 任意設(shè)定 3. 負(fù)載諧振電阻:1Ω-300Ω 1K-300K 4. PPm范圍測(cè)量:±300ppm 5. PPm測(cè)量精度:< 0.5ppm 6. 時(shí)基頻率:16.384M 7. 晶振穩(wěn)定性:2×10-8 /日 8. 體積:80×235×305(mm) 9. 保修期:三年 |
訂購(gòu)注意事項(xiàng) |
1. 此產(chǎn)品網(wǎng)上訂購(gòu),價(jià)格不含稅不含運(yùn)費(fèi),承諾質(zhì)量保證并十五天內(nèi)包退換,下單即可備貨發(fā)貨。 2. 請(qǐng)告知我們待測(cè)產(chǎn)品,以方便我們?yōu)槟_選型。 3. 如有特殊要求時(shí)請(qǐng)?jiān)谟嗁?gòu)產(chǎn)品時(shí)注明。 4. 若已由設(shè)計(jì)單位選定的型號(hào),請(qǐng)按型號(hào)直接向我司銷售部訂購(gòu)。 5. 當(dāng)使用的場(chǎng)合非常重要或環(huán)境比較復(fù)雜時(shí),請(qǐng)您盡量提供設(shè)計(jì)圖。 6. 如有任何疑問(wèn),請(qǐng)隨時(shí)致電我們,我們一定會(huì)盡心盡力為您提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。 |
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GDS-80 晶體測(cè)試儀是高性價(jià)比的晶振測(cè)試系統(tǒng),采用微處理器技術(shù),實(shí)現(xiàn)智能化測(cè)量,符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn)。測(cè)量頻率范圍20KHz-100MHz,附RS-232接口進(jìn)行數(shù)據(jù)通信。特別適合晶體行業(yè)、郵電、通信、廣播電視、學(xué)校、研究所及工礦企業(yè)生產(chǎn)和科研使用。 GDS-80 晶體測(cè)試儀采用π型網(wǎng)絡(luò)零相位法實(shí)現(xiàn)等精度測(cè)量。它測(cè)量精度高,速度快;具有串聯(lián)諧振頻率、負(fù)載諧振頻率、串聯(lián)諧振電阻、負(fù)載諧振電阻、PPM值、靜電容等參數(shù)測(cè)量,可保存5個(gè)不同晶振頻率和負(fù)載電容參數(shù),負(fù)載電容在2-20P范圍內(nèi)任意編程設(shè)置,從滿足不同負(fù)載電容的晶振測(cè)試,智能運(yùn)算克服了市場(chǎng)上晶體阻抗計(jì)阻抗數(shù)值顯示不明顯的缺點(diǎn)、解除了手工校對(duì)的麻煩,讓晶振測(cè)試變得更輕松。 |
產(chǎn)品特點(diǎn) |
1. 阻抗值、ppm同時(shí)顯示 2. 無(wú)需人工校對(duì),直接測(cè)試多種參數(shù) 3. 新技術(shù),符合IEC-444標(biāo)準(zhǔn),滿足國(guó)人需求,可替代進(jìn)口設(shè)備 4. LCD顯示
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我們的優(yōu)勢(shì) |
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特性 |
1. 中心頻率范圍: 20KHz-100MHz任意設(shè)定 2. 負(fù)載電容:4-20P 任意設(shè)定 3. 負(fù)載諧振電阻:1Ω-300Ω 1K-300K 4. PPm范圍測(cè)量:±300ppm 5. PPm測(cè)量精度:< 0.5ppm 6. 時(shí)基頻率:16.384M 7. 晶振穩(wěn)定性:2×10-8 /日 8. 體積:80×235×305(mm) 9. 保修期:三年 |
訂購(gòu)注意事項(xiàng) |
1. 此產(chǎn)品網(wǎng)上訂購(gòu),價(jià)格不含稅不含運(yùn)費(fèi),承諾質(zhì)量保證并十五天內(nèi)包退換,下單即可備貨發(fā)貨。 2. 請(qǐng)告知我們待測(cè)產(chǎn)品,以方便我們?yōu)槟_選型。 3. 如有特殊要求時(shí)請(qǐng)?jiān)谟嗁?gòu)產(chǎn)品時(shí)注明。 4. 若已由設(shè)計(jì)單位選定的型號(hào),請(qǐng)按型號(hào)直接向我司銷售部訂購(gòu)。 5. 當(dāng)使用的場(chǎng)合非常重要或環(huán)境比較復(fù)雜時(shí),請(qǐng)您盡量提供設(shè)計(jì)圖。 6. 如有任何疑問(wèn),請(qǐng)隨時(shí)致電我們,我們一定會(huì)盡心盡力為您提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。 |
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