EM22自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀是基于消光法(或稱“零橢偏”)橢偏測(cè)量原理,針對(duì)納米薄膜厚度測(cè)量領(lǐng)域推出的一款自動(dòng)測(cè)量型教學(xué)儀器。
儀器采用消光法橢偏測(cè)量原理,易于操作者理解和掌握橢偏測(cè)量基本原理和過程。
采用水平放置樣品的方式,方便樣品的取放。
集成一體化設(shè)計(jì),簡(jiǎn)潔的儀器外形通過USB接口與計(jì)算機(jī)相連,方便使用。
采用激光作為探測(cè)光波,測(cè)量波長準(zhǔn)確度高。
可測(cè)量納米薄膜的膜厚和折射率;塊狀材料的復(fù)折射率、樣品反射率、樣品透過率。
儀器軟件可自動(dòng)完成樣品測(cè)量,并可進(jìn)行方便的測(cè)量數(shù)據(jù)分析、儀器校準(zhǔn)等操作。
軟件中設(shè)置了用戶使用權(quán)限(包括:管理員、操作者等模式),便于儀器管理和使用。
利用本儀器,可通過適當(dāng)擴(kuò)展,完成多項(xiàng)偏振測(cè)量實(shí)驗(yàn),如馬呂斯定律實(shí)驗(yàn)、旋光測(cè)量實(shí)、旋光等。
應(yīng)用
項(xiàng)目 | 技術(shù)指標(biāo) | ||||
儀器型號(hào) | EM22 | ||||
測(cè)量方式 | 自動(dòng)測(cè)量 | ||||
樣品放置方式 | 水平放置 | ||||
光源 | He-Ne激光器,波長632.8nm | ||||
膜厚測(cè)量重復(fù)性* | 0.5nm (對(duì)于Si基底上100nm的SiO2膜層) | ||||
膜厚范圍 | 透明薄膜:1-4000nm 吸收薄膜則與材料性質(zhì)相關(guān) | ||||
折射率范圍 | 1.3 – 10 | ||||
探測(cè)光束直徑 | Φ2-3mm | ||||
入射角度 | 30°-90°,精度0.05° | ||||
偏振器方位角讀數(shù)范圍 | 偏振器步進(jìn)角 | 樣品方位調(diào)整 | Z軸高度調(diào)節(jié):16mm 二維俯仰調(diào)節(jié):±4° | ||
允許樣品尺寸 | 樣品直徑可達(dá)Φ160mm | ||||
配套軟件 | * 用戶權(quán)限設(shè)置 * 多種測(cè)量模式選擇 * 多個(gè)測(cè)量項(xiàng)目選擇 * 方便的數(shù)據(jù)分析、計(jì)算、輸入輸出 | ||||
最大外形尺寸 | 約400*400*250mm | ||||
儀器重量(凈重) | 約20Kg | ||||
選配件 | * 半導(dǎo)體激光器 |
o 儀器測(cè)量精度:在10nm處誤差為±0.5nm; o 光學(xué)中心高度:75㎜; o 允許樣品尺寸直徑:Φ10~Φ120㎜,厚度≤10㎜; o 外形尺寸:730 x230X 290; o 主機(jī)重量:30kg;測(cè)量范圍:1nm~4000nm; o 測(cè)量最小值:≤1nm; o 鍍膜折射率范圍:1.3 ~ 2.49 o 入射角:40°~90° 誤差≤0.05°; o 偏振器方位角范圍:0°~180°; 儀器測(cè)量精度:在10nm處誤差為±0.5nm; 光學(xué)中心高度:75㎜; 允許樣品尺寸直徑:Φ10~Φ120㎜,厚度≤10㎜; 外形尺寸:730 x230X 290; 主機(jī)重量:30kg;偏振器步進(jìn)角:0.0375°/步;本儀器分為光源、接收器、主機(jī)、電子及通訊四部分,外觀參看右圖。1、 光源:采用波長為632.8nm的氦氖激光光源①其特點(diǎn)是:光強(qiáng)大、光譜純、波長穩(wěn)定性好。2、 接收器:采用光電倍增管⑤,把光訊號(hào)變?yōu)殡娪嵦?hào),經(jīng)放大后輸出至微機(jī),由微機(jī)選擇出消光位置的角度值。3、 主機(jī)部分:除以上兩項(xiàng)外,還有起偏組件②,樣品臺(tái)③,檢偏組件④。4、電子及通訊部分⑥:采集光強(qiáng)及對(duì)應(yīng)的角度值并傳輸?shù)接?jì)算機(jī),再接收由計(jì)算機(jī)發(fā)出的指令逐步靠近消光點(diǎn)。
橢圓偏振測(cè)厚儀 橢圓偏振厚度分析儀 橢圓偏振厚度儀
自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀 偏振測(cè)厚儀
型號(hào):LT/SGC-1A
北京LT/SGC-1A自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀使用方法儀器參數(shù)
測(cè)量范圍1nm-300nm測(cè)量最小值≤1nm入射角30°- 90°誤差≤0.1°偏振器方位角讀數(shù)范圍0°- 180°度盤刻度每格2度游標(biāo)最小讀數(shù)0.05°光學(xué)中心高度152工作臺(tái)直徑φ70外形尺寸730*230*290主機(jī)重量20kg
北京LT/SGC-1A自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀使用方法儀器參數(shù)
測(cè)量范圍1nm-300nm測(cè)量最小值≤1nm入射角30°- 90°誤差≤0.1°偏振器方位角讀數(shù)范圍0°- 180°度盤刻度每格2度游標(biāo)最小讀數(shù)0.05°光學(xué)中心高度152工作臺(tái)直徑φ70外形尺寸730*230*290主機(jī)重量20kg
北京LT/SGC-1A自動(dòng)橢圓偏振測(cè)厚儀使用方法儀器參數(shù)
測(cè)量范圍1nm-300nm測(cè)量最小值≤1nm入射角30°- 90°誤差≤0.1°偏振器方位角讀數(shù)范圍0°- 180°度盤刻度每格2度游標(biāo)最小讀數(shù)0.05°光學(xué)中心高度152工作臺(tái)直徑φ70外形尺寸730*230*290主機(jī)重量20kg
儀器參數(shù)
測(cè)量范圍1nm-300nm測(cè)量最小值≤1nm入射角30°- 90°誤差≤0.1°偏振器方位角讀數(shù)范圍0°- 180°度盤刻度每格2度游標(biāo)最小讀數(shù)0.05°光學(xué)中心高度152工作臺(tái)直徑φ70外形尺寸730*230*290主機(jī)重量20kg
儀器參數(shù)
測(cè)量范圍1nm-300nm測(cè)量最小值≤1nm入射角30°- 90°誤差≤0.1°偏振器方位角讀數(shù)范圍0°- 180°度盤刻度每格2度游標(biāo)最小讀數(shù)0.05°光學(xué)中心高度152工作臺(tái)直徑φ70外形尺寸730*230*290主機(jī)重量20kg
儀器參數(shù)
測(cè)量范圍1nm-300nm測(cè)量最小值≤1nm入射角30°- 90°誤差≤0.1°偏振器方位角讀數(shù)范圍0°- 180°度盤刻度每格2度游標(biāo)最小讀數(shù)0.05°光學(xué)中心高度152工作臺(tái)直徑φ70外形尺寸730*230*290主機(jī)重量20kg
儀器參數(shù)
測(cè)量范圍1nm-300nm測(cè)量最小值≤1nm入射角30°- 90°誤差≤0.1°偏振器方位角讀數(shù)范圍0°- 180°度盤刻度每格2度游標(biāo)最小讀數(shù)0.05°光學(xué)中心高度152工作臺(tái)直徑φ70外形尺寸730*230*290主機(jī)重量20kg