智能結晶實驗平臺
集成數據采集控制和關鍵參數PAT
對結晶過程的深入了解和產品的優(yōu)化需要讀結晶過程的一些最關鍵(最基本)參數做在線測量,數據需要集成進行關聯分析。本平臺集成了結晶過程優(yōu)化需要測量的基本的參數包括濃度(過飽和度)粒度分布、形狀(晶習)、濁度、溫控和PH等。系統(tǒng)是開放式的,可集成其他PAT儀器。結晶條件可自動控制(溫度和過飽和度的靜謐自動控制)結晶器可選擇不同尺寸。是產品研發(fā)和工藝放大的最佳助手。
1L阿司匹林冷卻結晶實驗裝置 加晶種試驗中不同時間點探頭式(左)和
非接觸式(右)成像系統(tǒng)拍攝的阿司匹林晶
體圖像
智能結晶實驗平臺配置
型號:AOD-GDTC-C
一、產品簡介
AOD-GDTC-C型光電探測器特性測試實驗平臺主要了解和研究常見光電探測器的特性及主要技術問題。該實驗裝置由實驗主機 (包括七色光源驅動、電源和顯示儀表)、負載模塊和光路組件組成。光通路組件可以任意拆卸,光路一目了然,方便觀察測量,增強學生對系統(tǒng)的理解。
儀器光源驅動包括直流驅動和脈沖驅動,配備有多種可調直流電壓源,可作為不同光電器件的偏置電壓。
光電探測器特性測試實驗平臺 光敏電阻基本特性實驗
二、知識點
光敏電阻、光電二極管、光電三極管、硅光電池、光電倍增管、光電檢測、光調制解調
光電探測器特性測試實驗平臺 光敏電阻基本特性實驗
三、涉及課程
光電子技術、光譜學、光電檢測技術
四、實驗內容
1、光敏電阻基本特性實驗
2、光敏二極管基本特性實驗
3、光敏三極管基本特性測試實驗
4、硅光電池基本特性測試實驗
5、APD光電二極管基本特性測試實驗
6、PIN光電二極管基本特性測試實驗
7、色敏光電二極管基本特性測試實驗
8、光電倍增管基本特性測試實驗
9、光調制解調實驗
10、光電探測器特性曲線自動測量實驗
光電探測器特性測試實驗平臺 光敏電阻基本特性實驗型號:AOD-GDTC-C
一、產品簡介
AOD-GDTC-C型光電探測器特性測試實驗平臺主要了解和研究常見光電探測器的特性及主要技術問題。該實驗裝置由實驗主機 (包括七色光源驅動、電源和顯示儀表)、負載模塊和光路組件組成。光通路組件可以任意拆卸,光路一目了然,方便觀察測量,增強學生對系統(tǒng)的理解。
儀器光源驅動包括直流驅動和脈沖驅動,配備有多種可調直流電壓源,可作為不同光電器件的偏置電壓。
光電探測器特性測試實驗平臺 光敏電阻基本特性實驗
二、知識點
光敏電阻、光電二極管、光電三極管、硅光電池、光電倍增管、光電檢測、光調制解調
光電探測器特性測試實驗平臺 光敏電阻基本特性實驗
三、涉及課程
光電子技術、光譜學、光電檢測技術
四、實驗內容
1、光敏電阻基本特性實驗
2、光敏二極管基本特性實驗
3、光敏三極管基本特性測試實驗
4、硅光電池基本特性測試實驗
5、APD光電二極管基本特性測試實驗
6、PIN光電二極管基本特性測試實驗
7、色敏光電二極管基本特性測試實驗
8、光電倍增管基本特性測試實驗
9、光調制解調實驗
10、光電探測器特性曲線自動測量實驗
華博牌:鑄鐵平臺,檢驗平臺,實驗鑄鐵平臺,李梅供應
產品別名及種類:檢驗鑄鐵平板、劃線鑄鐵平板、鉚焊鑄鐵平板、檢測鑄鐵平板、鉗工鑄鐵平臺、刮研鑄鐵平板、研磨鑄鐵平板、T型槽鑄鐵平板等各種鑄鐵平板系列產品。按JB/T7949-99標準制造,產品制成筋板式和箱體式,工作面有長方形,工作面采用刮研工藝.平板是用于工件檢測或劃線的平面基準器具.平板安裝應調至水平,負荷均勻分布于各支點上,環(huán)境溫度(20±5℃)使用時應避免振動.鑄鐵平板的用途:鑄鐵平臺適用于各種檢驗工作,精密測量用的基準平面;用于機床機械檢驗測量基準;檢查零件的尺寸精度或形位偏差,并作緊密劃線,在機械制造中也是不可缺少的基本工具。通常做成箱體式,正方形,圓形,長方形等形狀。鑄鐵平臺表面質量檢驗:用涂色發(fā)檢驗。0級1級平板在每邊為25毫米平方的范圍內不少于25點,2級不少于20點,3級不少于12點。
鑄鐵平板材質:高強度鑄鐵HT200——300,經過兩次人工處理(人工退火600度——700度和自然時效2——3年)使用該產品的精度穩(wěn)定,耐磨性能好。材質:HT200-300
鑄鐵平臺的用途:鑄鐵平臺可以用于檢驗機械零件平面度、平行度、直線度等形位公差的測量基準,也可用于精密零件的劃線和測量、實驗、鉚焊、焊接、基礎、工作臺等,工作面采用刮研工藝,工作面可以設計圓孔、長方孔、方孔、T型槽、U型槽、V型槽。泊頭市華博工量具有限公司專業(yè)生產各種鑄鐵平板,劃線平板,檢驗平臺,裝配平臺,基礎平臺等平板平臺類產品。歡迎廣大客戶的光臨采購。更多產品http://www.8089190.com