型號 | HG2515B 多路電阻掃描測試儀價格直銷爆款 | |||
基本精度 | 0.05% | |||
顯示范圍 | 0.01mΩ-20.000MΩ | 清零功能 | 短路 | |
分辨率 | 10μΩ | 測試端 | 5端 | |
顯示方式 | 直讀、Δ% | 量程方式 | 手動、自動、量程保持 | |
量程 | 200 mΩ-2MΩ 共9個量程 | 分選功能 | 上超、下超、合格 | |
觸發(fā)方式 | 單次、連續(xù) | 觸發(fā)延時范圍 | 0-9999mS | |
單路速度 | 最快: 約30次/秒 快速: 約20次/秒 中速: 約13次/秒 慢速: 約7次/秒 精測: 約4次/秒 | |||
接口 | 帶HANDLER接口,選配RS232接口 | |||
環(huán)境溫濕度 | 10~35℃、≤85%RH | 電源 | 220V±10 %、50Hz±5 % |
產(chǎn)品簡述:
JK2515B-16S多路電阻掃描測試儀(16路)采用240*128的點陣液晶屏顯示,能對變壓器、電機、開關(guān)、繼電器等各類多路電阻進行同步測試,儀器測量范圍0.0001Ω~19.999kΩ,儀器產(chǎn)生高精度恒流經(jīng)被測件進行四端點測量,有效地扣除了引線誤差,適合用戶作高精度測量;由于使用直流測試及最多十組的快速掃描測試,對各類變壓器及電感的銅阻測量尤為適合;用戶可進行兩種方式分選,即電阻直接顯示值的上/下限分選和Δ%分選。此外,單點或掃描兩種清零校準(zhǔn)方式;測試速度(快速、慢速)的改變;全狀態(tài)、全設(shè)置數(shù)值的斷電保護等功能也極大的方便了用戶對產(chǎn)品的測試。性能特點: 人性化操作界面,操作及維護方便
單臺最多可掃描24路 每路均有一個分選設(shè)置 帶HANDLER接口、選配RS-232C接口 基本精度 0.05% 讀數(shù)1個字 測量范圍: 0.01 mΩ — 2 MΩ (定制) 0.01 mΩ — 2 kΩ 最高分辨率: 10uΩ 單路速度:6次/秒、12次/秒量程方式:手動、自動、量程保持 清零功能:短路測試端:5端 顯示方式:直讀、Δ%分選功能:上超、下超、合格接口(選配):帶HANDLER接口、選配RS232接口分選方式(Sort):1>.直讀分選(Dire)2>.相對偏差分選(Δ%)報警方式(Alarm):1>.關(guān)閉報警(Clo)2>.相應(yīng)分選檔報警3>.合格報警(Pas) 4>.不合格報警(Fai)-注:上超或下超都為不合格 清零校準(zhǔn)模式選擇(Clear mode):1>.單負(fù)載清零(Point)2>.掃描負(fù)載清零(Scan)-注:僅在掃描測試起作用量程選擇(Range):1>.自動(Auto)2>.保持(Hold)
多路掃描分信號選方式:A: 全部掃完出結(jié)果、以16通道為例:16通道全部只能在一樣的上限和一樣的下限,設(shè)定上下限數(shù)值范圍(只能在同一量程)超出范圍 判定合格或者不合格輸出信號(高電平、低電平) B: 依次掃描出結(jié)果、以16通道為例:每個通道設(shè)定上下限數(shù)值范圍(只能在同一量程)并且可以分檔判定合格或者不合格輸出信號(高電平、低電平) 后再進入下個通道測試出結(jié)果。C: 全部掃完出結(jié)果、以16通道為例:設(shè)定每個通道不同的上下限數(shù)值范圍(只能在同一量程),16通道全部掃描后出結(jié)果,判定合格或者不合格信號(高電平、低電平) 多路掃描測試時根據(jù)不同測試范圍和測試精度切換板可以采樣如下圖:(測試范圍100u歐姆~2k歐姆,最大24路,繼電器開關(guān)切換)(1)大電阻(200歐姆~2K歐姆):單開關(guān)切換,測試精度一般可以達到1歐姆左右;(2)小電阻(2歐姆~200歐姆):雙開關(guān)切換,測試精度一般可以達到0.2歐姆左右;(3)微電阻(100u歐姆~2歐姆):四開關(guān)切換,測試精度一般可以達到0.001歐姆左右; 名稱:多路電阻測試儀詳細(xì)介紹 JK2515B 是一種高精度寬量程、高速度、采用高性能微處理器控制內(nèi)部采用嵌入式的電阻測試儀。專為工業(yè)控制設(shè)計的電阻測試儀,定制量程,從10μΩ~200kΩ,受益于金艾聯(lián)尖端的電阻測量技術(shù),使得測試速度高達20次/秒。 JK2515B 是迄今最小型的電阻測試儀,內(nèi)部為獨立的6組電阻測試儀 ,上下極限設(shè)置,具備PLC觸發(fā)接口PASS/FAIL輸出。 特點:1:測試速度快 高達30次/秒。2:精度高,量程寬。特別適用于小電阻測試。3:抗干擾強,數(shù)據(jù)穩(wěn)定 。4:可以同時測試6個不同量程的電阻值 5:量程、電流直觀顯示、直接選擇。6: 6路內(nèi)部獨立 相當(dāng)于6臺低電阻測試儀 技術(shù)規(guī)格● 多路測試:任意路數(shù)組合● 外形尺寸:48mmx96mm,● 基本準(zhǔn)確度:0.1%● 量程,從10μΩ ~ 200kΩ。● 顯示:3999讀數(shù)。● 高速測試:20次/秒 性能特征● 校正功能:短路清零功能 ! 比較器(分選)功能:內(nèi)置比較器,PASS/FAIL分選結(jié)果顯示和IO輸出! 四端測試● 內(nèi)置Handler接口。 應(yīng)用● 測量各種高、中、低值電阻器● 各種開關(guān)接觸電阻● 漆包線電阻● 接插件接觸電阻● 繼電器線包和觸點電阻● 變壓器、電感器、電機、偏轉(zhuǎn)線圈繞線電阻● 焊點接觸電阻● 導(dǎo)線電阻● 車、船、飛機的金屬鉚接電阻● 印制版線條和孔化電阻● 表征機電元件的低阻特性● 金屬探傷等。
產(chǎn)品簡述:
JK2515B-8D多路電阻測試儀是一種高精度寬量程、高速度、采用高性能微處理器控制內(nèi)部采用嵌入式的電阻測試儀。專為工業(yè)控制設(shè)計的電阻測試儀,定制量程,從10μΩ~200kΩ,受益于金艾聯(lián)尖端的電阻測量技術(shù),使得測試速度高達20次/秒。 JK2515B 是迄今最小型的電阻測試儀,內(nèi)部為獨立的8組電阻測試儀 ,上下極限設(shè)置,具備PLC觸發(fā)接口PASS/FAIL輸出。 特點:1:測試速度快 高達20次/秒。2:精度高,量程寬。特別適用于小電阻測試。3:抗干擾強,數(shù)據(jù)穩(wěn)定 。4:可以同時測試8個不同量程的電阻值 5:量程、電流直觀顯示、直接選擇。6: 8路內(nèi)部獨立 相當(dāng)于8臺低電阻測試儀
技術(shù)規(guī)格● 多路測試:任意路數(shù)組合● 外形尺寸:48mmx96mm,● 基本準(zhǔn)確度:0.1%● 量程,從10μΩ ~ 200kΩ! 顯示:3999讀數(shù)。● 高速測試:20次/秒性能特征
● 校正功能:短路清零功能 ! 比較器(分選)功能:內(nèi)置比較器,PASS/FAIL分選結(jié)果顯示和IO輸出! 四端測試● 內(nèi)置Handler接口。
應(yīng)用:
● 測量各種高、中、低值電阻器● 各種開關(guān)接觸電阻● 漆包線電阻● 接插件接觸電阻● 繼電器線包和觸點電阻● 變壓器、電感器、電機、偏轉(zhuǎn)線圈繞線電阻● 焊點接觸電阻● 導(dǎo)線電阻● 車、船、飛機的金屬鉚接電阻● 印制版線條和孔化電阻● 表征機電元件的低阻特性● 金屬探傷等。
匯高儀器
銷售熱線:15219521196 13066199520 QQ聯(lián)系:2821290738
專業(yè)銷售、計量、維修各種檢測儀器儀表
HG2515B多路電阻掃描測試儀
性能特點: 240*128大屏幕LCD點陣圖形顯示
人性化操作界面,操作及維護方便
單臺最多可掃描24路,可多臺級聯(lián)掃描
每路均有一個分選設(shè)置
帶HANDLER接口、選配RS-232C接口
基本精度 0.05% 讀數(shù)1個字
測量范圍 0.01 mΩ — 200 KΩ
最高分辨率: 10uΩ
單路速度:4次/秒 8次/秒 12次/秒 20次/秒
量程方式:手動、自動、量程保持
清零功能:短路
測試端:5端
顯示方式:直讀、Δ%
分選功能:上超、下超、合格
接口(選配):HANDLER接口、RS232接口
鐘先生 電話 13728666139 13066199520 QQ 2821290738
日本日置IM3533 LCR測試儀 IM3533-01分析掃描測試儀 | ||
IM3533 | IM3533-01 | |
測量模式 | LCR,變壓器測試(N,M,△L), 連續(xù)測試(LCR模式) | LCR,變壓器測試(N,M,△L), 分析儀(掃描測試),連續(xù)測試(LCR/分析模式) |
測量參數(shù) | Z, Y, θ, Rs (ESR), Rp, DCR (DC resistance), X, G, B, Cs, Cp, Ls, Lp, D (tanδ), Q, N, M, ΔL, T | |
測量量程 | 100mΩ~100MΩ,10個量程(所有參數(shù)根據(jù)Z定義) | |
可顯示量程 | Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp: ± (0.000000 [單位] ~9.999999G [單位]) 只有 Z和Y顯示真有效值 θ: ± (0.000° to 999.999°), D: ± (0.000000 to 9.999999) Q: ± (0.00 to 99999.99), Δ%: ± (0.0000% to 999.9999%) | |
基本精度 | Z : ±0.05%rdg. θ: ±0.03° | |
測量頻率 | 1mHz ~200kHz (1mHz ~10Hz步進) | |
測量信號電平 | [輸出阻抗] V模式,CV模式:5mV~5Vrms,1mVrms CC模式:10μA~50mArms,10μArms [低阻抗高精度模式] V模式,CV模式:5mV~2.5Vrms,1mVrms CC模式:10μA~100mArms,10μArms | |
輸出阻抗 | 正常模式:100Ω,低阻抗高精度模式:25Ω | |
顯示 | 5.7英寸觸摸屏,彩色TFT,顯示可設(shè)置ON/OFF | |
測量時間 | 2ms(1kHz,FAST,顯示OFF,代表值) | |
功能 | DC偏壓測量、直流電阻溫度補償 (標(biāo)準(zhǔn)溫度換算顯示),比較器、BIN測量(分類功能),面板讀取/保存、存儲功能 | |
接口 | EXT I/O(處理器),USB通信(高速),USB存儲 選件:RS-232C,GP-IB,LAN任選一 | |
電源 | 100~240V AC,50/60Hz,最大50VA | |
尺寸及重量 | 330mm W×119mm H×168mm D, 3.1kg | |
附件 | 電源線×1,使用說明書×1,CD-R(包括PC指令和樣本軟件)×1 |
法國Tem邊界掃描測試儀針對電路板的這四個階段,或者說這四個不同的部門,提供了適應(yīng)其各自特點的工作平臺。ENG平臺 針對電路板的實驗調(diào)試階段或部門的應(yīng)用;IND平臺 針對制定測試工藝和編制測試程序階段或部門的應(yīng)用;PRO平臺 針對生產(chǎn)制造階段或部門的實際測試應(yīng)用;(需要IND的編程支持)REP 平臺 針對維修階段或部門的故障診斷修理應(yīng)用;(需要IND的編程支持)這四個系列的產(chǎn)品每個都分為三個級別:C級是基本級,支持1-3個TAP端口;E級是擴展級,支持1-6個TAP端口;P級是完整級,支持1-無限個TAP端口IND-P 是功能最全,級別最高的產(chǎn)品。法國Tem邊界掃描測試儀必選的選件:TEM1 JTAG 控制器,具備1個TAP 接口,帶一條電纜TEM4 JTAG 控制器,具備4個TAP 接口,帶一條電纜(以上兩個要選一項)CAB 電纜法國Tem邊界掃描測試儀其他選件:ISP Flash 板上編程軟件PCB PCB 圖像軟件IO320 320點I/O接插件擴展IO60 60點I/O接插件擴展法國Tem邊界掃描測試儀使工程師可以利用JTAG標(biāo)準(zhǔn)下的邊界掃描全部功能,確認(rèn)調(diào)試和測試電路板。這個平臺包含了所有的功能:定義測試對象,檢查BSDL,檢查掃描鏈路,執(zhí)行互連測試,用TCL生成功能測試,對信號和網(wǎng)點做診斷,所有工作不超過2天就可以完成。一個重要的好處是,可以在設(shè)計調(diào)試階段分析測試覆蓋率和可測試性,利用網(wǎng)點導(dǎo)航可以方便的調(diào)整設(shè)計以提高可測試性和測試覆蓋率,使DFT進一步優(yōu)化。使您的工作很靈活,多功能,易擴展,更快速!法國Tem邊界掃描測試儀設(shè)計調(diào)試平臺技術(shù)要點測試覆蓋率和可測試性分析BSDL器件檢查基本結(jié)構(gòu)檢查(掃描鏈路完整性檢查)面向互連,區(qū)間,存儲器的ATPG自動測試程序發(fā)生器交互性調(diào)試支持90種以上網(wǎng)絡(luò)表格式使用TCL語言開發(fā)用戶測試程序用波形圖或狀態(tài)表顯示結(jié)果交互式故障診斷電路板或器件交互式控制和觀察寄存器,總線,引腳上的數(shù)字信號對FLASH和PLD板上編程SVF文件格式輸出PCI和USB接口控制器法國Tem邊界掃描測試儀設(shè)計調(diào)試平臺包括軟件模塊系統(tǒng)構(gòu)建 :定義元器件,區(qū)域,板,系統(tǒng),網(wǎng)絡(luò)表導(dǎo)入工具箱 :先進的調(diào)試功能,獨立確認(rèn)TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號BSDL檢查 :檢查BSDL符合IEEE1149.1規(guī)范交互式調(diào)試 :隔離故障,便于調(diào)試診斷ATPG1基礎(chǔ) :檢查掃描鏈路,與設(shè)計性能保持一致ATPG2互連 :自動測試可測試引腳之間的互連ATPG3存儲區(qū)域 :自動測試SRAM, SDRAM, DDR2,FLASH, NAND FLASH, SIP Serial Flash, Asynchronous FIFO 等器件之間的互連測試擴展 :TCL測試擴展用于測試用戶自定義的其他進一步測試程序裝載 :可以在調(diào)試和測試同時對FPGA和CPLD裝載程序Flash編程(option) :可以對任何形式的Flash存儲器編程網(wǎng)表合并(option) :自動生產(chǎn)系統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)表,針對拼板測試生成網(wǎng)點導(dǎo)航 :生成交互式參考表,顯示網(wǎng)點,引腳,JTAG單元,可以按名字,引腳,單元搜索Run time生成 :輸出所有的數(shù)據(jù)庫到其他的相關(guān)平臺API 服務(wù)器(option) :可以提供應(yīng)用程序接口,以和用戶使用的通用軟件平臺例如Windows CVI, Labview 等銜接使JTAG測試一體化法國Tem邊界掃描測試儀IND編程測試平臺 針對制定測試工藝和編制測試程序階段或部門的應(yīng)用;本平臺自己可以執(zhí)行完整的測試,還將測試準(zhǔn)備好,完整的提交給下一個生產(chǎn)測試平臺,使得生產(chǎn)測試平臺可以簡便完整的運行測試。法國Tem邊界掃描測試儀編程測試平臺技術(shù)要點測試覆蓋率和可測試性分析BSDL器件檢查基本結(jié)構(gòu)檢查(掃描鏈路完整性檢查)面向互連,區(qū)間,存儲器的ATPG自動測試程序發(fā)生器交互性調(diào)試支持90種以上網(wǎng)絡(luò)表格式使用TCL語言開發(fā)用戶測試程序用波形圖或狀態(tài)表顯示結(jié)果交互式故障診斷電路板或器件交互式控制和觀察寄存器,總線,引腳上的數(shù)字信號對FLASH和PLD板上編程SVF文件格式輸出PCI和USB接口控制器組織管理測試數(shù)據(jù)根據(jù)實際需要運行完整的測試程序調(diào)整或簡化測試方案輸出測試程序給生產(chǎn)平臺法國Tem邊界掃描測試儀編程測試平臺包括軟件模塊系統(tǒng)構(gòu)建 :定義元器件,區(qū)域,板,系統(tǒng),網(wǎng)絡(luò)表導(dǎo)入工具箱 :先進的調(diào)試功能,獨立確認(rèn)TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號BSDL檢查 :檢查BSDL符合IEEE1149.1規(guī)范交互式調(diào)試 :隔離故障,便于調(diào)試診斷ATPG1基礎(chǔ) :檢查掃描鏈路,與設(shè)計性能保持一致ATPG2互連 :自動測試可測試引腳之間的互連ATPG3存儲區(qū)域 :自動測試SRAM, SDRAM, DDR2,FLASH, NAND FLASH, SIP Serial Flash, Asynchronous FIFO 等器件之間的互連測試擴展 :TCL測試擴展用于測試用戶自定義的其他進一步測試程序裝載 :可以在調(diào)試和測試同時對FPGA和CPLD裝載程序Flash編程(option) :可以對任何形式的Flash存儲器編程網(wǎng)表合并(option) :自動生產(chǎn)系統(tǒng)的網(wǎng)絡(luò)表,針對拼板測試生成網(wǎng)點導(dǎo)航 :生成交互式參考表,顯示網(wǎng)點,引腳,JTAG單元,可以按名字,引腳,單元搜索Run time生成 :輸出所有的數(shù)據(jù)庫到其他的相關(guān)平臺API 服務(wù)器(option) :可以提供應(yīng)用程序接口,以和用戶使用的通用軟件平臺例如Windows CVI, Labview 等銜接使JTAG測試一體化測試管理 :根據(jù)需要選擇調(diào)整測試方案策略測試報告編輯 :根據(jù)使用要求編輯任何形式的報告格式生產(chǎn)測試準(zhǔn)備 :本平臺自己可以執(zhí)行完整的測試,還將測試準(zhǔn)備好,完整的提交給下一個生產(chǎn)測試平臺,使得生產(chǎn)測試平臺可以簡便完整的運行測試。法國Tem邊界掃描測試儀PRO生產(chǎn)測試平臺 針對生產(chǎn)制造階段或部門的實際測試應(yīng)用;法國Tem邊界掃描測試儀使測試成為很簡便的一鍵式操作,只需選擇測試編程平臺傳遞下來的測試程序。管理員可以選擇測試順序和測試程序。生產(chǎn)測試平臺技術(shù)要點調(diào)入測試編程平臺的程序執(zhí)行自動測試和板上編程管理員和操作員分級打印測試報告生產(chǎn)測試平臺包括軟件模塊程序裝載 :可以在測試同時對FPGA和CPLD裝載程序Flash編程(option) :可以對任何形式的Flash存儲器編程測試報告編輯 :根據(jù)使用要求編輯任何形式的報告格式執(zhí)行生產(chǎn)測試 :完整的執(zhí)行測試編程平臺傳遞過來的測試任務(wù)。測試掃描鏈路;確認(rèn)器件的ID碼ATPG1,2,3的測試擴展的功能測試FPGA/CPLD數(shù)據(jù)流下載FLASH編程條碼讀出 :對UUT識別方便操作員面板 :操作員只需根據(jù)板子類型選擇測試程序,運行測試,讀測試報告,無需專門培訓(xùn)。管理員面板 :管理員在生產(chǎn)測試之前可以調(diào)整測試順序,確定JTAK連接電纜,信號確認(rèn)
REP 診斷維修平臺 針對維修階段或部門的故障診斷修理應(yīng)用針對返修的板子,使用本平臺可以方便快速的診斷故障進行修理。利用生產(chǎn)平臺傳遞的信息和圖形化的電路圖可以方便的看到故障位置。利用網(wǎng)點導(dǎo)航可以把故障定位在網(wǎng)點上。結(jié)合探針可以很快的確定和排除故障。診斷維修平臺技術(shù)要點觀看電路圖圖形 圖形上標(biāo)識出故障點故障點定位執(zhí)行測試程序輸出統(tǒng)計數(shù)據(jù)針對故障診斷需求編寫特殊測試法國Tem邊界掃描測試儀故障平臺包括軟件模塊工具箱 :先進的調(diào)試功能,獨立確認(rèn)TMS, TCK, TDI, TDO, TRST信號交互式調(diào)試 :隔離故障,便于調(diào)試診斷測試擴展 :TCL測試擴展用于測試用戶自定義的其他進一步測試程序裝載 :可以在調(diào)試和測試同時對FPGA和CPLD裝載程序Flash編程(option) :可以對任何形式的Flash存儲器編程測試報告編輯 :根據(jù)使用要求編輯任何形式的報告格式網(wǎng)點導(dǎo)航 :生成交互式參考表,顯示網(wǎng)點,引腳,JTAG單元,可以按名字,引腳,單元搜索PCB 視圖(option) :利用圖形化顯示的電路圖可以方便的看到測試顯示的故障位置執(zhí)行生產(chǎn)測試 :完整的執(zhí)行測試編程平臺傳遞過來的測試任務(wù)。測試掃描鏈路;確認(rèn)器件的ID碼ATPG1,2,3的測試擴展的功能測試FPGA/CPLD數(shù)據(jù)流下載FLASH編程
多路電阻掃描測試儀 HG2515B
HG2515B多路電阻掃描測試儀250622 250422 230622 230422 250620 230620 250420 230420 230621 250421 230421 K34R6-8D K34R6-8 K23R5-15 K23R5-10 K23R5-8 K23R5-6 K25R5-15 K25R5-10 K25R5-8 K25R5-6 HV400-04 HV400-03 HV400-02 4M410-15 4R110-06
多路電阻掃描測試儀 HG2512C
HG2512C多路電阻掃描測試儀 K23R5-6 K25R5-15 K25R5-10 K25R5-8 K25R5-6 HV400-04 HV400-03 HV400-02 4M410-15 4R110-06 3R410-15 XQ250422 XQ230422 XQ250622 XQ230622 ST403A