植物葉綠素含量會(huì)受到重金屬污染情況的影響,根據(jù)葉綠素含量?jī)x檢測(cè)顯示生長(zhǎng)在重金屬污染區(qū)域的植物葉綠素含量明顯低于正常值。葉綠素含量低,光合作用弱,會(huì)導(dǎo)致植物鮮重降低。葉綠素含量和植物的健康狀況密切相關(guān),可以作為污染脅迫、光合作用能力和植被發(fā)育狀況的指示器。
重金屬指密度大于4.5g/cm3的金屬,約有45種。在種植過程中可以直接使用葉綠素含量?jī)x進(jìn)行對(duì)重金屬污染的植物進(jìn)行葉綠素含量變化追蹤,重金屬對(duì)葉綠素含量的污染具有如下的變化重金屬離子均可使高植物的葉綠素含量明顯降低。1 mg/LCu2+濃度處理的葉綠素含量較對(duì)照有所提高,但當(dāng)Cu2+濃度超過10mg/L時(shí),葉綠素濃度含量顯著降低,一方面是由于重金屬抑制原葉綠素酸酯還原酶活性,葉綠素的合成減少;另一方面可能與Cu2+脅迫下膜的穩(wěn)定性下降有關(guān)。葉綠素含量變化,必然影響光合作用,影響植株的生長(zhǎng)發(fā)育。不同濃度Cr6+脅迫明顯影響了不同玉米品種幼苗葉片中葉綠素含量。
葉綠素含量減少和葉綠素a/b值減小是衡量葉片衰老重要的生理指標(biāo),說明Cr6+加速了植物葉片衰老過程。葉綠素含量?jī)x顯示土壤中Cr6+的脅迫使玉米葉綠素含量和a/b下降,POD、SOD增強(qiáng),致使植株細(xì)胞膜受損,結(jié)構(gòu)和功能受到破壞,而導(dǎo)致減產(chǎn)。
儀器名稱:葉綠素含量?jī)x
儀器型號(hào):SPAD-502
葉綠素含量?jī)x http://www.ny-17.com/
CL48-AI數(shù)顯電測(cè)量?jī)x表 奧博森CL48-AI廠價(jià)直銷
奧博森牌CL48-AI數(shù)顯儀表具有精度高、穩(wěn)定性好、質(zhì)量、體積小、安裝使用方便、價(jià)格低廉等特點(diǎn),適用于科學(xué)研究、精密測(cè)量、新產(chǎn)品開發(fā)之用,可廣泛應(yīng)用于各種儀器儀表、自動(dòng)化控制設(shè)備、電力電子、醫(yī)療器械、教學(xué)設(shè)備、交(直)流穩(wěn)壓電源等作為顯示部件,提升產(chǎn)品檔次,為各類指針式面板表的更新?lián)Q代品。
CL48-AI數(shù)顯電測(cè)量?jī)x表一般的有單相 三相 多功能三種規(guī)格之分,單相又分單相智能和普通單相,前者有帶按鈕可以編程,后者只能事先設(shè)定,三相為3排LED數(shù)碼管顯示的,多功能為三排LED數(shù)碼管和LCE大屏幕顯示的。
功能上,單相只能提供單一電工參數(shù)測(cè)量,三相能提供幾種電工參數(shù)測(cè)量,而多功能能測(cè)試全部的電工參數(shù)測(cè)量.CL48-AI數(shù)字顯示電測(cè)量?jī)x表已廣泛應(yīng)用在工礦企業(yè)、電力、冶金、化工、能源和交通等領(lǐng)域。儀表一般為正方形或者矩形.
系列型號(hào):CL48-AI CL96B-AI CL96-AI CL72-AI CL46-AI CL42-AI CL80-AI
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其它系列產(chǎn)品:智能溫濕度控制器、干式變壓器溫控器、消諧器、多功能電力儀表、智能操控裝置、數(shù)顯電測(cè)儀表、加熱器、諧波表、故障指示器、過電壓保護(hù)器
以上內(nèi)容為CL48-AI數(shù)顯電測(cè)量?jī)x表的基本資料,如網(wǎng)上實(shí)物圖和價(jià)格、型號(hào)不匹配,一切均以?shī)W博森公司合同上說明詳情為主!謝謝合作!
Ø 自動(dòng)要素判定功能(AI功能),無(wú)需指定點(diǎn)、直線、圓等要素即可進(jìn)行自動(dòng)判定
Ø 尺寸顯示功能,可在測(cè)量圖上顯示參數(shù)、幾何偏差等實(shí)測(cè)值
Ø 形狀合成功能,可解消因測(cè)針角度而使分析范圍受限的問題
Ø 峰值谷值搜尋功能,可由測(cè)針軌跡檢測(cè)出工件的最大點(diǎn),容易進(jìn)行對(duì)準(zhǔn)
Ø 計(jì)算點(diǎn)的重復(fù)功能,具有重復(fù)形狀的工件只需分析1個(gè)圖案便可以對(duì)整個(gè)工件進(jìn)行分析
Ø 最適于對(duì)非球面鏡、光纖連接器、滾珠絲桿等要求具有高精度形狀零部件進(jìn)行評(píng)價(jià)
Ø 更加充實(shí)的輪廓度評(píng)價(jià),標(biāo)配有測(cè)量數(shù)據(jù)與設(shè)計(jì)值的偏差對(duì)比功能、設(shè)計(jì)值制作功能、擬合
功能、與CAD通信用的IGES/DXF轉(zhuǎn)換功能
特 點(diǎn)
X-Y-Z:行程可選,大理石底坐;
進(jìn)口精密P級(jí)線性導(dǎo)軌,精密絲桿;
進(jìn)口光柵尺分辨率為:1um、0.5un先配;
上下光源為LED冷光源;
高解析度攝像頭:Sony1/3芯片;
高分辨率鏡頭:0.7-4.5X連續(xù)變倍;
松下伺服電機(jī),T-KING全自動(dòng)軟件,全自動(dòng)編程控制操作更人性化;
適合:PCB,LCD,TFT等行業(yè)
產(chǎn)品結(jié)合了傳統(tǒng)光學(xué)、精密機(jī)械和圖像測(cè)量技術(shù)。
FJ-1xr射線測(cè)量?jī)x
可檢測(cè)xr射線劑量
【產(chǎn)品特性】
參數(shù)規(guī)格
測(cè)試功能: | 等溫吸脫附曲線;單點(diǎn)、多點(diǎn)BET比表面積;Langmuir比表面積;外表面積(STSA);單點(diǎn)吸附總孔體積、平均孔徑;BJH介孔大孔孔容積及孔徑分布分析;t-plot法、as- plot法、DR法、MP法微孔常規(guī)分析;平均粒徑估算; 特殊功能:NLDFT法孔徑分布分析;真密度精確測(cè)試;氣體吸附量、吸附熱測(cè)試;質(zhì)量輸入法測(cè)試; |
測(cè)試氣體: | 氮、氧、氫、氬、氪、二氧化碳、甲烷等; |
測(cè)試范圍: | 比表面:0.0005m2/g至無(wú)上限,孔徑:3.5 Å-5000 Å;孔體積測(cè)試范圍:0.0001cc/g至無(wú)上限; |
重復(fù)精度: | 比表面積≤± 1.0%,孔徑≤0.2 Å; |
測(cè)試效率: | 比表面積平均每樣15 min;介孔、大孔分析平均每樣2-3小時(shí); |
分析站: | 2個(gè)完全獨(dú)立樣品分析站,可同位脫氣; |
P0位: | 可實(shí)時(shí)、準(zhǔn)確測(cè)量氮?dú)獾娘柡驼羝麎海?/span> |
升降系統(tǒng): | 2個(gè)樣品分析位原位設(shè)有2套獨(dú)立的升降系統(tǒng),電動(dòng)控制、自動(dòng)控制,且互不干擾; |
真空系統(tǒng): | 多通路并聯(lián)抽真空系統(tǒng),集裝式模塊化設(shè)計(jì),真空抽速微調(diào)閥系統(tǒng)專利技術(shù),可在2-200ml/s范圍內(nèi)自動(dòng)調(diào)節(jié); |
真空泵: | 原裝進(jìn)口機(jī)械真空泵,極限真空6.7* 10-2Pa; |
脫氣系統(tǒng): | 同位、異位真空脫氣預(yù)處理系統(tǒng)模塊化設(shè)計(jì)。標(biāo)配2套同位脫氣系統(tǒng),2個(gè)獨(dú)立加熱包,2套獨(dú)立溫控表,均可程序升溫控制,升溫階數(shù)多達(dá)10階;另可選配外置式異位4位真空脫氣系統(tǒng); |
脫氣溫度: | 室溫—400℃,精度±1℃; |
壓力傳感: | 原裝進(jìn)口,1000torr,精度≤± 0.15%(讀值); |
分壓范圍: | P/P0 10-4-0.998; |
壓力控制: | 平衡壓力智能控制法,壓力可控間隔<0.1KPa,吸附最高壓力點(diǎn)可自動(dòng)控制; |
數(shù)據(jù)采集: | 以太網(wǎng)數(shù)據(jù)采集,采集速度快、精度高,兼容Windows 7/XP 32/64位系統(tǒng) |
測(cè)試原理:
精微高博JW-BK222比表面及孔分析儀測(cè)試原理
靜態(tài)容量法,低溫氮吸附(或其他吸附氣體);
測(cè)試條件:
精微高博JW-BK222比表面及孔分析儀測(cè)試條件
環(huán)境溫度:室溫20 - 25℃;
電 源:交流220V±20V,50/60HZ,最大功率300W;電流5A ;
氮?dú)猓焊呒兌鹊獨(dú)?ge;99.999%。
儀器規(guī)格:
精微高博JW-BK222比表面及孔分析儀規(guī)格
尺寸,長(zhǎng)70cm×寬70cm×高85cm;
重量,約80 Kg;
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
1) 完全獨(dú)立雙站并列分析,可同時(shí)進(jìn)行兩個(gè)樣品的孔徑分析,及兩個(gè)樣品的脫氣處理,測(cè)試效率高;
2) 儀器設(shè)有兩個(gè)異位脫氣站,分析站同時(shí)具有同位脫氣功能,人性化設(shè)計(jì);最高脫氣溫度400℃;
3) 雙站多點(diǎn)BET比表面測(cè)試,30分鐘內(nèi)可自動(dòng)完成;
4) 采用液氮面控制綜合系統(tǒng)及軟件補(bǔ)償技術(shù),確保整個(gè)測(cè)試過程中樣品室非均勻溫度場(chǎng)相對(duì)恒定,以確保分析的準(zhǔn)確性,適合液氮、液氬、冰水等各種冷浴;
5) 引進(jìn)國(guó)外先進(jìn)恒溫夾技術(shù),配備3L大容量真空玻璃內(nèi)膽杜瓦瓶及防液氮揮發(fā)單元,保證實(shí)驗(yàn)可持續(xù)進(jìn)行72小時(shí);
6) 自控可調(diào)式多通路并聯(lián)抽真空系統(tǒng),內(nèi)置式防飛濺單元,及“階梯式”防飛濺程序,有效防止超細(xì)微粉抽飛,完全避免儀器受到污染;
7) 原裝進(jìn)口渦輪分子泵,及原裝進(jìn)口機(jī)械真空泵聯(lián)合使用,分析站、脫氣站極限壓力高達(dá)10-8,完全滿足0.35nm-0.7nm超微孔分析;
8) 原裝進(jìn)口1000torr、10torr、1torr(可升級(jí)為0.1torr)不同量程三段壓力傳感聯(lián)合使用,壓力數(shù)據(jù)采集精度高、誤差小,完全滿足微孔精確分析;
9) 介孔微孔實(shí)驗(yàn)過程中氮?dú)怙柡驼羝麎?span>P0完全實(shí)時(shí)測(cè)試,同分析站并列進(jìn)行;同時(shí)可采用大氣壓輸入法測(cè)P0;
10) 樣品脫氣系統(tǒng)設(shè)有冷阱裝置,可以有效去除樣品脫氣可能揮發(fā)出的水分、有害物質(zhì)等雜質(zhì),避免真空系統(tǒng)受污染;
11) 儀器控制面板設(shè)有閥位控制指示燈,實(shí)驗(yàn)者能更直觀清晰可見控制閥工作狀態(tài),人性化設(shè)計(jì);
12) 非定域密度函數(shù)理論NLDFT分析模型標(biāo)準(zhǔn)配置,達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平;
13) HK、SF微孔分析模型應(yīng)用準(zhǔn)確,微孔分析技術(shù)國(guó)內(nèi)唯一一家通過中國(guó)計(jì)量院計(jì)量認(rèn)證;
14) 平衡壓力智能控制技術(shù),樣品吸/脫附平衡壓力自動(dòng)判斷及數(shù)據(jù)采集,等溫吸脫附曲線測(cè)定的控制精度達(dá)到國(guó)際先進(jìn)水平;
15) 以太網(wǎng)數(shù)據(jù)采集及處理軟件,引導(dǎo)式操作,一套軟件可同時(shí)控制多臺(tái)儀器,可遠(yuǎn)程控制;
應(yīng)用領(lǐng)域
橡膠材料:炭黑、白炭黑、碳酸鈣、氧化鋅、硅膠、 氧化硅等化工原料;電池材料:鈷酸鋰、錳酸鋰、磷酸鐵鋰、石墨、三元材料、 隔膜等電極正負(fù)極材料;催化劑材料:活性氧化鋁、分子篩、沸石等;脫硫脫硝材料:脫硝催化劑等;食品添加劑:淀粉、活性白土、膨潤(rùn)土等; 磁性材料:四氧化三鐵、鐵氧體、四氧化三錳等;環(huán)保領(lǐng)域:活性炭等吸附劑;納米材料:納米陶瓷粉體(氧化鋁、氧化鋯、氧化釔、氮化硅、 碳化硅等)、納米金屬粉體(銀粉、鐵粉、銅粉、鎢粉、鎳粉 等)、納米高分子材料、碳納米管等;煤礦行業(yè):煤、礦石、巖石、頁(yè)巖氣、煤層氣等;其他材料:超細(xì)纖維、多孔織物、復(fù)合材料、土壤等。
★ 《國(guó)產(chǎn)好儀器》、研發(fā)特別貢獻(xiàn)獎(jiǎng)
★ 高新技術(shù)企業(yè)證書、中關(guān)村高新技術(shù)企業(yè)協(xié)會(huì)會(huì)員證書
★ 中國(guó)儀器儀表協(xié)會(huì)會(huì)員證書
★ 自主創(chuàng)新金獎(jiǎng)、企業(yè)誠(chéng)信證書
★ CE證書
★ 中關(guān)村國(guó)家自主創(chuàng)新示范區(qū)新技術(shù)新產(chǎn)品證書、中關(guān)村高新技術(shù)企業(yè)證書
★ ISO9001:2008質(zhì)量管理體系認(rèn)證證書
★ 中國(guó)計(jì)量科學(xué)研究院測(cè)試證書
★ 專利證書
專利名稱:一種標(biāo)定氣體體積的自動(dòng)切換裝置 專利名稱:一種快插式接頭 專利名稱:一種杜瓦瓶專利號(hào):ZL 2012 2 0167116.0 專利號(hào):ZL 2012 2 0166665. 6 專利號(hào):ZL 2012 2 0166438.3 專利名稱:一種新型恒定液氮面高度的樣品管 專利名稱:一種真空干燥箱 專利名稱:一種氮?dú)夥謮赫{(diào)節(jié)裝置專利號(hào):ZL 2011 2 0090124.5 專利號(hào):ZL 2012 2 0166437.9 專利號(hào): ZL 2012 2 0167016.8
專利名稱:一種階梯式動(dòng)態(tài)氮吸附儀 專利名稱:外觀設(shè)計(jì)專利 專利號(hào):ZL 2011 1 0079215.3 專利號(hào):ZL 2013 3 0617931.2
★ 軟件產(chǎn)品登記證書 JW-DA 動(dòng)態(tài)智能化比表面測(cè)試儀軟件 JW-BK 靜態(tài)氮吸附儀軟件★ 軟件著作權(quán)
★ 優(yōu)秀產(chǎn)品獎(jiǎng) 2010科學(xué)儀器優(yōu)秀產(chǎn)品證書 中國(guó)粉體網(wǎng)優(yōu)秀產(chǎn)品獎(jiǎng)
★ 協(xié)會(huì)會(huì)員證書 北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì) 聘書 中國(guó)化學(xué)與物理電源行業(yè)協(xié)會(huì)證書
中國(guó)顆粒學(xué)會(huì)證書 中國(guó)分析測(cè)試協(xié)會(huì)會(huì)員
北京粉體技術(shù)協(xié)會(huì)最受關(guān)注產(chǎn)品獎(jiǎng)
★ 《商標(biāo)注冊(cè)證》
北京精微高博科學(xué)技術(shù)有限公司成立于2004年,是知名的材料科學(xué)家鐘家湘教授領(lǐng)銜創(chuàng)建的、集研發(fā)、生產(chǎn)、銷售于一體的國(guó)家級(jí)高新技術(shù)企業(yè),坐落于風(fēng)景秀麗的北京西二環(huán)護(hù)城河畔,在上海、廣州等地設(shè)有分公司或辦事處。 十年來,在鐘教授的帶領(lǐng)下,公司建立了一支擁有博士、碩士和一批工程師、技師組成的多學(xué)科交叉的技術(shù)隊(duì)伍,團(tuán)結(jié)一致,不斷進(jìn)取,始終堅(jiān)持走自主創(chuàng)新的道路,在國(guó)內(nèi)率先研發(fā)成功動(dòng)態(tài)全自動(dòng)比表面儀、BET比表面儀、階梯法動(dòng)態(tài)比表面儀、単氣路常壓孔徑分析儀、靜態(tài)容量法介孔分析儀、靜態(tài)四站比表面測(cè)定儀、高性能靜態(tài)微孔分析儀、氣體法真密度儀、高壓吸附儀等,被譽(yù)為“中國(guó)氮吸附儀的開拓者”,是我國(guó)微納米新材料表征與測(cè)試儀器領(lǐng)域的領(lǐng)航者。 JW(精微)品牌已成為國(guó)內(nèi)外知名品牌,用戶已遍及全國(guó)32個(gè)省市,包括知名的高等院校、研究院所和企事業(yè)單位,用JW儀器數(shù)據(jù)撰寫的論文發(fā)表于國(guó)際、國(guó)內(nèi)很多知名雜志,為國(guó)產(chǎn)儀器走向國(guó)際開辟了道路。2011年,JW產(chǎn)品亮相于美國(guó)科學(xué)儀器展和日本粉體展,引起廣泛關(guān)注,產(chǎn)品已遠(yuǎn)銷國(guó)外,包括歐洲、日本、巴西、印度、泰國(guó)、蒙古、朝鮮等十余個(gè)國(guó)家。 精微高博把技術(shù)服務(wù)放在優(yōu)先的戰(zhàn)略地位,以創(chuàng)新求發(fā)展,視質(zhì)量為生命,以客戶需求為己任,遵循“為顧客提供優(yōu)質(zhì)產(chǎn)品和完美服務(wù)”的宗旨,堅(jiān)持信譽(yù)第一,堅(jiān)持實(shí)事求是的科學(xué)精神,堅(jiān)持對(duì)用戶負(fù)責(zé)的承諾,永遠(yuǎn)做用戶忠實(shí)的、可信賴的朋友。