電路在線測(cè)試儀|電路維修測(cè)試儀|電路板故障檢測(cè)儀|電路在線維修測(cè)試儀|電路板維修測(cè)試儀|集成電路測(cè)試儀|電路板維修
● 通用的電路板故障檢測(cè)儀,適用于各行各業(yè)的電路板維修;
● 不需要電路原理圖, 在線檢測(cè)各種元器件/集成電路功能的好壞;
● 快速查明故障點(diǎn), 實(shí)現(xiàn)元件級(jí)維修;
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測(cè)試電路“芯情”;修復(fù)板級(jí)故障;維護(hù)設(shè)備健康; 匯能電路在線維修測(cè)試儀——電路板維修最的檢測(cè)工具,電子工程師/電子愛(ài)好者最理想的工具選擇!
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HN1600DX/B通用型電路板故障在線檢測(cè)設(shè)備
關(guān)鍵字:電路維修測(cè)試儀,電路板故障檢測(cè)儀,集成電路測(cè)試儀,電路板維修測(cè)試儀,電路板測(cè)試儀,電路板故障測(cè)試儀,電路在線測(cè)試儀,IC測(cè)試儀,電路板故障測(cè)試儀,線路板維修儀,電路板維修儀,線路板維修測(cè)試儀,集成電路維修測(cè)試儀,變頻器維修測(cè)試儀,紡織電路板維修測(cè)試儀,工控電路板維修測(cè)試儀,電路在線維修測(cè)試儀,參數(shù)測(cè)試儀,器件性能測(cè)試,
●數(shù)字通道:40路 +8路隔離總線競(jìng)爭(zhēng)專(zhuān)用數(shù)字通道 ●數(shù)字通道電平范圍:5V邏輯電平固定;滿足5V邏輯器件功能測(cè)試;●模擬通道:80路 +4路ASA動(dòng)態(tài)巡檢通道 +4路觸發(fā)脈沖通道(八種觸發(fā)模式)●模擬通道電壓范圍:±28V內(nèi)以0.5V步距可調(diào),雙通道屬性;●外供電源: +5V/4A;-5V/2A;±12V/2A;(雙輸出端子,程控加電,過(guò)流保護(hù));●通訊接口:標(biāo)準(zhǔn)USB接口,支持熱插拔,可運(yùn)行在Windows XP、Vista系統(tǒng)●性能測(cè)試:集成電路、分立元件 離線主要直流參數(shù)檢測(cè)(用于器件篩選)
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TH4040-II和TH8080-II是兩款基礎(chǔ)型測(cè)試儀,其產(chǎn)品性能穩(wěn)定,技術(shù)成熟,設(shè)計(jì)人性化,與計(jì)算機(jī)USB口通訊,可獨(dú)立運(yùn)行于Windows Vista操作系統(tǒng)以及Windows XP、NT等。被個(gè)人用戶、專(zhuān)業(yè)維修公司和中小規(guī)模的企業(yè)普遍選擇。
TH4040-III和TH8080-III是產(chǎn)品,在TH4040-II和TH8080-II產(chǎn)品的基礎(chǔ)上增加了電路板圖象建庫(kù)功能和用戶自定義測(cè)試功能,產(chǎn)品設(shè)計(jì)性能優(yōu)良,功能完善人性化。1、電路板圖象建庫(kù)功能:將被測(cè)電路板拍照后輸入計(jì)算機(jī),可以根據(jù)實(shí)物照片設(shè)置器件參數(shù),直接可以做器件功能測(cè)試和ASA端口測(cè)試,使得測(cè)試更人性化;2、UTD自定義測(cè)試:開(kāi)放了所有數(shù)字通道,用戶可以根據(jù)實(shí)際電路來(lái)自己定義輸入波形,然后根據(jù)邏輯關(guān)系計(jì)算出輸出波形(期望值),到實(shí)際電路中進(jìn)行測(cè)試得出結(jié)果?梢詼y(cè)試單元電路或獨(dú)立的集成電路
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電路在線維修測(cè)試儀:TH4040-II 產(chǎn)品介紹 |
內(nèi)容關(guān)鍵詞: |
電路板維修在線測(cè)試儀TH4040-II,電路板故障檢測(cè),在線維修,雙CPU處理技術(shù),Vista系統(tǒng)運(yùn)行,標(biāo)準(zhǔn)USB2.0接口,后驅(qū)動(dòng)技術(shù); |
閾值門(mén)檻電平可調(diào),ASA模擬特征分析,三端器件,脈沖信號(hào),CRL定量測(cè)試,邏輯功能測(cè)試,VI端口測(cè)試,在線測(cè)試,型號(hào)識(shí)別。 |
產(chǎn)品名稱(chēng):匯能電路在線維修測(cè)試儀(匯能電路板故障在線檢測(cè)儀器) |
產(chǎn)品型號(hào):TH4040-II |
外型尺寸:長(zhǎng)X寬X高:40cm X36cm X10cm |
標(biāo)準(zhǔn)配置:TH4040-II主機(jī)壹臺(tái),安裝軟件壹套,標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試配件壹套。 |
產(chǎn)品特點(diǎn):匯能電路在線維修測(cè)試儀 TH4040-II, |
1、雙處理器技術(shù),集成16位的下位機(jī),擁有獨(dú)立的CPU系統(tǒng),不受計(jì)算機(jī)Windows分時(shí)特性的影響,獨(dú)立運(yùn)行; |
2、標(biāo)準(zhǔn)的USB2.0通訊接口,與計(jì)算機(jī)通訊安全、快速、便捷,支持熱插拔;有并口機(jī)型可供選擇; |
3、安全穩(wěn)定運(yùn)行于的Windows Viste/XP/NT系統(tǒng)內(nèi), 測(cè)試儀軟、硬件與計(jì)算機(jī)技術(shù)同步發(fā)展延伸; |
4、雙探棒/雙板直接對(duì)比測(cè)試,適用于相同電路板診斷測(cè)試; |
產(chǎn)品技術(shù):匯能電路板故障在線檢測(cè)儀器 TH4040-II, |
1、后驅(qū)動(dòng)(Backdoor)技術(shù):引進(jìn)美國(guó)后驅(qū)動(dòng)隔離技術(shù),用來(lái)實(shí)現(xiàn)數(shù)字器件之間在線(In-circuit)的隔離; |
2、自適應(yīng)測(cè)試技術(shù):自動(dòng)識(shí)別被測(cè)試電路的自身連接情況并自動(dòng)修改相應(yīng)的測(cè)試代碼,確立測(cè)試條件,測(cè)試的性; |
3、數(shù)字器件的閾值電平可調(diào):在工業(yè)標(biāo)準(zhǔn)值下可以通過(guò)測(cè)試,逐步提高門(mén)檻到極限值,可發(fā)現(xiàn)器件參數(shù)型故障(軟故障); |
4、ASA(Analog Signature Analysis)模擬特征分析技術(shù):引入ASA技術(shù)用來(lái)解決端口模擬特征曲線故障診斷分析測(cè)試; |
5、三端器件(三極管、穩(wěn)壓管、可控硅、場(chǎng)效應(yīng)管等)的測(cè)試:引入八種觸發(fā)脈沖與掃描信號(hào)同步測(cè)試三端器件; |
6、電容C、電阻R、電感L定性定量的測(cè)試:在一定的掃描電壓、電流、頻率下可測(cè)試電容量(阻抗、電感量)及漏電阻值; |
7、對(duì)測(cè)試數(shù)據(jù)圖形化顯示、開(kāi)啟計(jì)算機(jī)聲音提示功能:當(dāng)測(cè)試在允許的誤差范圍內(nèi),系統(tǒng)將聲音提示以降低工作強(qiáng)度; |
8、自動(dòng)識(shí)別靈敏度調(diào)整(自動(dòng)選檔功能):自動(dòng)識(shí)別調(diào)整測(cè)試輸入阻抗,匹配的測(cè)試參數(shù),以降低操作難度。 |
參數(shù)指標(biāo):匯能電路板故障在線檢測(cè)儀 TH4040-II, |
1、數(shù)字通道:40+8路(其中8路數(shù)字通道是總線隔離通道,是用來(lái)隔離數(shù)字電路里總線競(jìng)爭(zhēng)情況的專(zhuān)用通道); |
2、模擬通道:40路(40路模擬單通道屬性,可支持雙探棒直接對(duì)比測(cè)試,網(wǎng)絡(luò)提取可同時(shí)提取2個(gè)20腳的器件); |
3、其它通道:2路探棒掃描通道、2路脈沖觸發(fā)通道(用來(lái)測(cè)試分立元件、端口、結(jié)點(diǎn)、集成塊、三端、兩端器件等); |
4、測(cè)試范圍:TTL、COMS、DRIVER、SIEMENS、RUSSIA常用5V邏輯器件、存儲(chǔ)器EPROM、RAM、LSI(測(cè)試器件功能故障); |
任何的電路結(jié)點(diǎn)、端口、金手指;任何功能已知未知LSI、貼片SOIC、方形PLCC器件的管腳(測(cè)試器件端口故障); |
5、數(shù)字信號(hào): 驅(qū)動(dòng)電平幅度:5V系列邏輯電平(高電平>3.5V、低電平< 0.8V ); 后驅(qū)動(dòng)電流>200mA; |
測(cè)試速度:分1Ktv/S、5Ktv/S、20Ktv/S、45Ktv/S四檔可選; 在線環(huán)境識(shí)別11種狀態(tài); |
閾值電平:TTL(緊、松),COMS(緊、松)、自定義閾值電平可選可調(diào);加電延遲時(shí)間7檔可選; |
手動(dòng)加電/程控電源可選; 程控外供輸出電源:5V/4A; |
6、模擬信號(hào): 波形:正弦波/三角波/鋸齒波; 波形失真度:<2%; |
掃描電壓:±1V~±28V內(nèi) 以0.5V 的增量可調(diào); 頻率:1Hz~16KHz內(nèi),30檔可選; |
輸出阻抗:100Ω/1KΩ/10KΩ/100KΩ四檔可選; 最大電流:150mA; |
觸發(fā)脈沖:8種觸發(fā)方式(6種與掃描信號(hào)同步); 脈沖幅度:±1V~±28V內(nèi) 以0.5V 的增量可調(diào) |
測(cè)試功能:匯能電路板故障在線檢測(cè)儀 TH4040-II, |
主要測(cè)試功能: |
1、數(shù)字邏輯器件在線(離線)功能測(cè)試: |
2、數(shù)字邏輯器件在線(離線)型號(hào)識(shí)別: |
3、數(shù)字邏輯器件在線(離線)循環(huán)老化測(cè)試: |
4、存儲(chǔ)器PROM、RAM在線(離線)測(cè)試: |
5、數(shù)字邏輯器件在線 狀態(tài)比較測(cè)試: |
6、數(shù)字集成電路LSI 在線(離線)分析測(cè)試: |
7、ASA端口模擬特征曲線測(cè)試: |
8、分立元件、三端器件測(cè)試: |
9、雙板/雙測(cè)試夾/雙探棒直接對(duì)比測(cè)試: |
10、網(wǎng)絡(luò)提取測(cè)試: |
輔助功能: |
13、系統(tǒng)自檢與設(shè)置: |
14、測(cè)試器件檢索: |
15、元器件速查手冊(cè): |
16、數(shù)字邏輯器件擴(kuò)充庫(kù)平臺(tái): |
17、維修日記以: |
18、后臺(tái)自動(dòng)生成記錄: |
產(chǎn)品詳細(xì)介紹:匯能電路板維修在線測(cè)試儀TH4040-II |
一、系統(tǒng)基本配置: 1、測(cè)試儀主機(jī) 一臺(tái) 2、測(cè)試系統(tǒng)軟件光盤(pán): 一張 3、隨機(jī)配備附件(出廠標(biāo)準(zhǔn)配置): 一套 二、環(huán)境要求:
三、主要技術(shù)指標(biāo): 1、計(jì)算機(jī)操作系統(tǒng): 支持WIN98/WIN2000/WINXP/vista; 2、數(shù)字測(cè)試通道:40通道,支持驅(qū)動(dòng)閾值電平 +5V; 3、總線隔離專(zhuān)用數(shù)字通道:8通道,用來(lái)隔離掛在總線上的其它三態(tài)器件,避免由于總線競(jìng)爭(zhēng)干擾測(cè)試的性; 4、后驅(qū)動(dòng)電流:≥200 mA; 5、測(cè)試速度:(1~45Ktv/S),4檔可選; 6、在線測(cè)試提取數(shù)字器件管腳狀態(tài): 11種; 7、數(shù)字器件功能施加測(cè)試時(shí)間: <26 mS; 8、數(shù)字器件的閾值電平; TTL(緊、松)、CMOS(緊、松)、自定義閾值電平; 9、 測(cè)試器件庫(kù):TTL54/74、CMOS40/45、8000、9000、驅(qū)動(dòng)器、接口器件、RAM、EPROM、模擬開(kāi)關(guān)、電壓比較器、俄羅斯庫(kù)、西門(mén)子庫(kù)(國(guó)內(nèi)); 10、程控外供電源(自動(dòng)控制、自保護(hù)功能): 5V/4A 11、電源加電延遲時(shí)間:(0.5~10)秒 7檔可選; 13、模擬測(cè)試通道: 40路; 14、測(cè)試探棒:2組 15、模擬信號(hào)掃描電壓幅度:±1V~±28V, 步距0.5V可調(diào); 16、VI分辨率:8~128點(diǎn)/周期用示波器可測(cè); 17、輸出阻抗匹配:0.1KΩ / 1KΩ/10KΩ/100KΩ可選; 18、ASA模擬特征分析測(cè)試顯示坐標(biāo):3種可選VI /VT /VR; 19、模擬通道最大測(cè)試頻率:16KHZ; 20、ASAVI測(cè)試頻率匹配:1HZ~16KHZ,共30檔可選; 21、ASA雙板比較測(cè)試。 四、 主要測(cè)試功能: 1、程控電源輸出功能: 提供+5V測(cè)試電源,程控加電,擁有自動(dòng)保護(hù)功能,安全,不用外接測(cè)試電源,使用方便; 2.電源機(jī)電式繼電器輸出控制:采用安全的機(jī)電式繼電器,與光電式比較,接觸電阻更小,約0.01~0.02Ω,其百萬(wàn)次量級(jí)的使用壽命,幾百毫秒的動(dòng)作時(shí)間足以滿足實(shí)際應(yīng)用要求。 3數(shù)字邏輯器件在線功能測(cè)試: 測(cè)試器件庫(kù)龐大;測(cè)試范圍廣:TTL54/74、8000系列、9000系列、CMOS40/45、俄羅斯器件庫(kù)、西門(mén)子器件庫(kù)(國(guó)內(nèi))。 4.?dāng)?shù)字邏輯器件在線狀態(tài)測(cè)試: 采用學(xué)習(xí)、比較的測(cè)試方式,能夠提取11種復(fù)雜的電路在線狀態(tài),如開(kāi)路、邏輯翻轉(zhuǎn)信號(hào)、非法電平、總線競(jìng)爭(zhēng)等等狀態(tài),所以,對(duì)測(cè)試器件外電路的識(shí)別能力強(qiáng),低檔測(cè)試儀一般只能識(shí)別2-3種 。 5. 動(dòng)態(tài)總線競(jìng)爭(zhēng)信號(hào)隔離功能: 用于解除總線競(jìng)爭(zhēng),保正測(cè)試掛在總線上的三態(tài)器件(如74LS373、74LS245、等)的率,可提供8路總線競(jìng)爭(zhēng)隔離信號(hào); 6. IC型號(hào)識(shí)別: 針對(duì)標(biāo)識(shí)不清或被擦除型號(hào)的器件,可“在線”或“離線”進(jìn)行型號(hào)識(shí)別測(cè)試,測(cè)試結(jié)果顯示出器件型號(hào);對(duì)識(shí)別后的器件可直接進(jìn)行功能測(cè)試加以驗(yàn)證; 7. 器件“離線”功能測(cè)試: 所有庫(kù)器件都可進(jìn)行“離線”功能測(cè)試,如:數(shù)字邏輯器件、存儲(chǔ)器、集成運(yùn)放、光電耦合器等器件; 8. LSI大規(guī)模集成電路在線功能測(cè)試: 可對(duì):Z80、8255、等器件進(jìn)行功能測(cè)試; 9. LSI大規(guī)模集成電路在線狀態(tài)分析測(cè)試: 可采取學(xué)習(xí)、比較的方式對(duì)一些常見(jiàn)的LSI器件進(jìn)行狀態(tài)分析測(cè)試; 10.SRAM / DRAM讀寫(xiě)存儲(chǔ)器在線測(cè)試: 直接檢測(cè)存儲(chǔ)器芯片的好壞,該測(cè)試無(wú)需事先學(xué)習(xí),有獨(dú)立的測(cè)試器件庫(kù),可采用在線、離線測(cè)試方式 11.EPROM在線直接讀取/比較測(cè)試: 可采取在線(離線)學(xué)習(xí)/比較的測(cè)試方法,先把好板上EPROM中的程序讀出來(lái),保存到計(jì)算機(jī)上,再和壞板上的相同器件中的程序進(jìn)行比較測(cè)試;測(cè)試結(jié)果定位到存儲(chǔ)單元地址上,并打印出該地址正確和錯(cuò)誤的代碼。 12.器件循環(huán)測(cè)試功能: 該功能可對(duì)數(shù)字邏輯器件、集成運(yùn)放、光耦等器件進(jìn)行重復(fù)測(cè)試,直到出現(xiàn)錯(cuò)誤或被終止,易于發(fā)現(xiàn)一些器件的非固定性故障(或稱(chēng)為軟故障); 13.測(cè)試夾自動(dòng)定位功能: 該功能可以將測(cè)試夾以正、反方向,對(duì)齊或不對(duì)齊腳的方式夾在被測(cè)器件上而不影響測(cè)試結(jié)果,利于提高測(cè)試速度; 14.?dāng)?shù)字邏輯器件在線測(cè)試速度可選: 為了器件測(cè)試的性、降低誤判率,滿足不同器件對(duì)測(cè)試速度指標(biāo)的不同要求,而設(shè)置了速度可選項(xiàng);如:對(duì)負(fù)載能力弱的CMOS器件應(yīng)選較低速度測(cè)試,一些集成度高、編程復(fù)雜的器件必須選擇較高速度測(cè)試。 15.?dāng)?shù)字邏輯器件測(cè)試閾值可調(diào)功能: 閾值電平是指判定器件輸出是邏緝1或邏輯0的門(mén)檻電平值。除了給出常用的幾種電平值供直接選取外,還可選自定義。閾值電平的選取要與被測(cè)器件的類(lèi)型相一致;在邏輯器件測(cè)試時(shí),有時(shí)會(huì)遇到用閾值電平緊測(cè)試不通過(guò),而用閾值電平松就能通過(guò)的現(xiàn)象,一般是器件的部分參數(shù)發(fā)生了變化,如驅(qū)動(dòng)能力下降,使用自定義可確定器件實(shí)測(cè)的閾值電平; 16.加電延遲可選功能: 被測(cè)電路板上的電源、地之間有濾波電容。濾波電容越大,充電時(shí)間越長(zhǎng)。該選擇是確定在測(cè)試儀接通外供電源以后,需要等待多長(zhǎng)時(shí)間后才開(kāi)始進(jìn)行測(cè)試。缺省為0.5秒; 17.測(cè)試夾接觸檢查功能: 該項(xiàng)功能主要解決當(dāng)測(cè)試夾與被測(cè)器件接觸不良時(shí),造成的測(cè)試誤判,如被測(cè)器件管腳氧化腐蝕、三防漆打磨不干凈等; 18.瞬時(shí)復(fù)位電路控制功能: 當(dāng)測(cè)試儀突然掉電,又突然上電的情況下,不會(huì)造成測(cè)試儀內(nèi)部狀態(tài)混亂而帶來(lái)安全性問(wèn)題; 19.匯能自定義功能測(cè)試平臺(tái): 把測(cè)試儀的測(cè)試通道開(kāi)放給用戶,由用戶對(duì)被測(cè)器件自行定義測(cè)試代碼,可以進(jìn)行功能測(cè)試,前提是用戶需要對(duì)器件工作原理有一定的了解,或有被測(cè)器件的使用資料,適合有圖紙資料情況下的開(kāi)發(fā)工作; 20.以編程方式擴(kuò)充數(shù)字器件庫(kù): 采用HNDDL語(yǔ)言(天惠電子自主開(kāi)發(fā)的用于描述邏輯過(guò)程的專(zhuān)用語(yǔ)言,擁有自己的版權(quán)),自適應(yīng)技術(shù)完善;把擴(kuò)充程序直接開(kāi)放給用戶,由用戶自己可以自行填加測(cè)試器件庫(kù); 21.ASA(VI)模擬特征分析測(cè)試: 通過(guò)對(duì)器件端口進(jìn)行模擬特征分析測(cè)試方式(VI曲線學(xué)習(xí)/比較測(cè)試),可以發(fā)現(xiàn)器件端口型的故障(一般能占到維修當(dāng)中的80%左右)適用于數(shù)字器件、模擬器件、模擬數(shù)字混合器件(如AD、DA等),對(duì)器件的封裝形式也不受限制,可適應(yīng)于對(duì)任何器件的測(cè)試; 22.ASA多種觀察坐標(biāo)顯示: 有三種顯示方式:VI/VT/VR,一般用VI坐標(biāo)觀察曲線,有人習(xí)慣上把ASA也叫成VI測(cè)試; 23.單端口(交叉)VI曲線分析測(cè)試: 對(duì)器件采取單端口測(cè)試方式;單端口測(cè)試方式是指每個(gè)管腳對(duì)地阻抗特性曲線提; 24.ASA 曲線雙探棒動(dòng)態(tài)比較測(cè)試: 使用雙路探棒對(duì)兩塊相同電路板上的相應(yīng)節(jié)點(diǎn)時(shí)時(shí)的進(jìn)行動(dòng)態(tài)比較測(cè)試;當(dāng)被測(cè)板上的器件不能使用測(cè)試夾測(cè)試時(shí),此種方法最; 25.ASA 曲線測(cè)試智能提醒功能: 當(dāng)使用雙探棒進(jìn)行比較測(cè)試時(shí),如果超差,儀器會(huì)出現(xiàn)報(bào)警聲音,引起使用者注意,該測(cè)試方法利用微機(jī)喇叭產(chǎn)生類(lèi)似于萬(wàn)用表Beep的效果,提高了檢測(cè)效率,也大大降低了勞動(dòng)強(qiáng)度; 26.ASA 測(cè)試曲線靈敏度可調(diào): 當(dāng)ASA曲線走勢(shì)趨向于45度時(shí),如果曲線的數(shù)據(jù)發(fā)生變化,曲線就變化明顯,反映故障的觀察靈敏度就越精確,曲線反映故障靈敏度與測(cè)試參數(shù)相關(guān),適當(dāng)調(diào)整測(cè)試參數(shù)能夠得到更靈敏的曲線;該測(cè)試方法能夠自動(dòng)搜索出對(duì)故障較靈敏的那根曲線,的提高了故障檢出率; 27.ASA 曲線掃描電壓可調(diào):(示波器可測(cè)) VI掃描電壓±1V~±28V, 步距0.5V可調(diào)。低檔測(cè)試儀一般設(shè)定幾檔可選但不可調(diào); 28.ASA 曲線測(cè)試頻率可調(diào):(示波器可測(cè)) VI測(cè)試頻率為1HZ-16KHZ,共30檔可選。低檔測(cè)試儀一般為設(shè)定不可調(diào),或給不出頻率指標(biāo)(國(guó)內(nèi)能夠提供頻率指標(biāo)的測(cè)試儀); 29.ASA 曲線測(cè)試輸出阻抗可選: 輸出阻抗匹配:0.1KΩ / 1KΩ/10KΩ/100KΩ四檔可選: 30.ASA 曲線快速診斷分析測(cè)試: 以40管腳VI曲線單端口測(cè)試為例,全過(guò)程測(cè)試時(shí)間< 1秒; 31.可按管腳設(shè)置ASA 曲線測(cè)試參數(shù): 可根據(jù)具體器件的測(cè)試需要,給不同管腳設(shè)置不同的測(cè)試參數(shù),可設(shè)置任一管腳為提取或不提取ASA曲線;大大提高了測(cè)試的靈活性; 32.ASA 曲線故障快速定位/查找功能: 當(dāng)VI測(cè)試出現(xiàn)故障曲線時(shí),測(cè)試儀提供快速的曲線定位/查找功能選項(xiàng),使用戶觀察曲線更方便、更快捷、更直觀,測(cè)試效率更高; 33.雙探棒、雙板對(duì)比測(cè)試; 34.ASA 曲線多種排列/顯示方式: 可按比較誤差降序排列顯示曲線,比較誤差升序排列顯示曲線,還可按器件管腳順序排列曲線;可以“按點(diǎn)”或“畫(huà)線”來(lái)顯示曲線,單個(gè)管腳的曲線可以單獨(dú)放大或縮; 35.分立元件測(cè)試: 可單獨(dú)對(duì)電路板上的分立元件直接進(jìn)行VI曲線分析測(cè)試:如電阻、電容、電感等,也可以通過(guò)學(xué)習(xí)/比較的方式進(jìn)行測(cè)試; 36.可測(cè)器件檢索功能: 內(nèi)置強(qiáng)大的搜索引擎,可以對(duì)器件庫(kù)進(jìn)行檢索;檢索后可列出器件型號(hào)、所在器件庫(kù)、管腳數(shù)、封裝和功能描述。 37.元器件速查手冊(cè)(電子詞典): 目前容量已達(dá)近四萬(wàn)種,并在不斷地?cái)U(kuò)充中,供用戶查閱元器件的名稱(chēng)、管腳排列、封裝等信息; 38.元器件手冊(cè)整理: 可以快速把身邊的一些器件的資料整理到手冊(cè)當(dāng)中,使用起來(lái)會(huì)更方便; 39.?dāng)?shù)據(jù)庫(kù)整理功能: 對(duì)IC狀態(tài)庫(kù)、LSI在線學(xué)習(xí)庫(kù)、EPROM離線學(xué)習(xí)庫(kù)、EPROM在線快速學(xué)習(xí)庫(kù)、EPROM在線學(xué)習(xí)庫(kù)、網(wǎng)絡(luò)測(cè)試庫(kù)進(jìn)行整理、刪除、更名等操作; 40.維修日記: 供記錄日常維修的經(jīng)驗(yàn)體會(huì),發(fā)生的重要事情等,保存這些資料并積累經(jīng)驗(yàn),會(huì)大大提高維修水平和技能; 41.測(cè)試信息打印輸出功能: 支持對(duì)各種測(cè)試界面下的打; 42.后臺(tái)操作記錄管理: 測(cè)試儀會(huì)自動(dòng)記錄測(cè)試過(guò)程及測(cè)試結(jié)果等信息; 43.操作幫助指南: 給使用者提供正確的操作方法、步驟;
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系列產(chǎn)品:匯能電路在線維修測(cè)試儀全系列產(chǎn)品...... |
TH4040-II、 TH8080-II、 HN1000DX/B、HN2000DX/B、HN2000DX/C、HN2000MX/C、HN3000DX/C、CYS-III |
TH4040-III、TH8080-III、HN1600DX/B、HN2600DX/B、HN2600DX/C、HN2600MX/C、HN3000MX/C、MFT300 |
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5、TH4040-II產(chǎn)品介紹...... |
6、TH4040-III產(chǎn)品介紹...... |
7、TH8080-II產(chǎn)品介紹..... |
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專(zhuān)業(yè)生產(chǎn)銷(xiāo)售 電路維修測(cè)試儀,電路板故障檢測(cè)儀,集成電路測(cè)試儀,已有多年的電路維修測(cè)試儀研制生產(chǎn)、銷(xiāo)售服務(wù)、推廣應(yīng)用的歷史; 電路在線維修測(cè)試儀是一種通用的電路板故障測(cè)試儀,可以的幫助維修工程師快速在線檢測(cè)出各種損壞型電路板的故障,將故障定位到集成電路、元件或電路結(jié)點(diǎn)或端口上。 電路板故障在線測(cè)試儀已經(jīng)被廣泛應(yīng)用于航天電力、軍事裝備、通信醫(yī)療、鐵路造船、冶金石化、紡織印刷等行業(yè)的電路板維修業(yè)務(wù)中,已經(jīng)成為維修電路板最的檢測(cè)儀器。對(duì)于解決在電路板故障檢測(cè)中遇到的各種問(wèn)題,都起到了傳統(tǒng)維修工具無(wú)法替代的作用。電路板故障在線檢測(cè)儀----維修電路板最理想的測(cè)試工具.....
電路板維修檢測(cè)設(shè)備供應(yīng)商---上海聰能儀器有限公司
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一、SHCN如何檢測(cè)無(wú)圖紙的電路板故障 各種大型電子設(shè)備(如數(shù)控、自控、醫(yī)療儀器)在使用中所發(fā)生的電路板故障,主要由于板上元器件的損壞所引起。SHCN測(cè)試儀主要采用兩種方法,能夠“在線"(指器件不焊離電路板)檢測(cè)電路板上元器件的好壞,實(shí)現(xiàn)對(duì)無(wú)圖紙電路板的器件級(jí)故障檢測(cè): 1.把電路板電路僅看成不同元器件的組合。只要能設(shè)法一個(gè)一個(gè)地檢查電路板上元器件的好壞,就能在沒(méi)有電路圖的情況下實(shí)現(xiàn)故障檢測(cè)。比如,對(duì)一個(gè)邏輯“與非"門(mén),不管在什么電路板上,只要能檢查出它的“與非"功能沒(méi)問(wèn)題,就可以認(rèn)為該電路板上的故障與它無(wú)關(guān)等等。 目前的SHCN測(cè)試儀,采用相應(yīng)的“電隔離"技術(shù),對(duì)上萬(wàn)種數(shù)字邏輯器件、兩千多種運(yùn)算放大器、數(shù)百種光電耦合器、兩千多種存儲(chǔ)器、以及多種比較器、模擬開(kāi)關(guān)等器件,能夠直接“在線" 檢測(cè)功能好壞; 2.從已知無(wú)故障電路板上提取器件的電特征值,與故障電路板上的相應(yīng)器件的特征值進(jìn)行比較,根據(jù)差異大小來(lái)判斷有無(wú)故障。例如,很多人都利用萬(wàn)用表,比較好、壞板上相應(yīng)器件的管腳電阻,對(duì)無(wú)圖紙電路板進(jìn)行故障檢測(cè)。 SHCN測(cè)試儀采用近似原理,但在計(jì)算機(jī)和龐大的測(cè)試儀硬件、軟件支持下,故障檢出率、檢測(cè)效率、界面友好程度較之遠(yuǎn)不可同日而語(yǔ)。 因此不難想象,使用SHCN測(cè)試儀后,必定會(huì)大大改進(jìn)工作效果、提高工作業(yè)績(jī)。并且還能大大降低維修者工作強(qiáng)度。 另外,維修中經(jīng)常會(huì)用到拆機(jī)件。拆機(jī)件往往經(jīng)過(guò)使用。借助SHCN測(cè)試儀的器件性能測(cè)試功能,還能把有些功能完好,但性能?chē)?yán)重下降,上機(jī)不能正常工作的器件事先篩選出來(lái)。 二、SHCN用于小批量電子產(chǎn)品生產(chǎn) 這種情況下除了仍可使用上述兩類(lèi)功能檢測(cè)電路板故障、利用器件性能測(cè)試進(jìn)行器件入廠檢測(cè)外,還為此開(kāi)發(fā)了以下功能: 1.用戶自定義測(cè)試 利用該功能,可以通過(guò)軟件來(lái)控制測(cè)試儀的的數(shù)字、模擬通道,對(duì)電路板上的子電路、甚至整板電路進(jìn)行功能測(cè)試。無(wú)須為不同的電路板開(kāi)發(fā)不同的測(cè)試裝置。就像數(shù)控機(jī)床,不同程序就能加工不同的零件; 2.電路板網(wǎng)絡(luò)(元器件互聯(lián)關(guān)系)測(cè)試 該功能主要用于檢測(cè)生產(chǎn)中較多出現(xiàn)的開(kāi)、短路故障。其中的Protel網(wǎng)表文件導(dǎo)入、元器件連接關(guān)系查等,還能輔助電路板調(diào)試、查錯(cuò),提高工作效率; 3.故障定位導(dǎo)航信息 在SHCN測(cè)試系統(tǒng)的許多測(cè)試功能中,都允許用戶定義故障定位導(dǎo)航信息。這些信息由熟悉電路的工程師(電路設(shè)計(jì)者)在建立測(cè)試數(shù)據(jù)庫(kù)時(shí)輸入,提示當(dāng)該測(cè)試失敗時(shí),可能導(dǎo)致失敗的原因,由普通調(diào)試人員在故障檢測(cè)時(shí)使用。
匯能電路在線維修測(cè)試儀測(cè)試儀是一種通用的的電子電路板故障檢測(cè)儀器,能夠在沒(méi)有電路圖\無(wú)須聯(lián)機(jī)的條件下在線(不焊離)檢測(cè)電路板上各種元器件的故障,實(shí)現(xiàn)器件級(jí)維修.
匯能測(cè)試儀主要通過(guò)兩類(lèi)技術(shù)實(shí)現(xiàn)無(wú)圖紙的維修:
●器件在線隔離測(cè)試技術(shù):
電路板故障主要由于元器件損壞所造成.匯能測(cè)試儀采用不同的"電隔離"技術(shù),對(duì)上萬(wàn)種數(shù)字邏輯器件、兩千多種運(yùn)算放大器、數(shù)百種光電耦合器件、兩千余種存儲(chǔ)器、以及多種比較器、模擬開(kāi)關(guān)等器件,能夠“在線”直接檢測(cè)功能好壞,實(shí)現(xiàn)無(wú)圖紙的故障檢測(cè);
●ASA特征比較測(cè)試技術(shù): 從已知無(wú)故障電路板上提取器件的ASA特征值,與故障電路板上的相應(yīng)器件的特征值進(jìn)行比較,依據(jù)誤差大小來(lái)判斷有無(wú)故障,實(shí)現(xiàn)無(wú)圖紙的維修。 另外,生產(chǎn)、維修中還會(huì)碰到功能正常,但性能?chē)?yán)重下降的,上機(jī)不能正常工作的元器件,比如說(shuō)拆機(jī)件、殘次品、水貨。借助匯能電路維修測(cè)試儀的元器件性能測(cè)試,可進(jìn)行上機(jī)前篩選。 匯能電路板維修測(cè)試儀需要和計(jì)算機(jī)配合使用,組成匯能故障檢測(cè)系統(tǒng)。上、隨機(jī)提供有多種測(cè)試夾(DIP、SOIC、PLCC)具、測(cè)試探棒、測(cè)試探針等工具,把測(cè)試工具連接在故障電路板的待測(cè)試器件上,在專(zhuān)用測(cè)試軟件的控制下,從計(jì)算機(jī)鍵輸入相應(yīng)的測(cè)試命令,計(jì)算機(jī)控制匯能測(cè)試儀自動(dòng)完成測(cè)試,顯示測(cè)試過(guò)程及測(cè)試結(jié)果。
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電路板測(cè)試儀|電路板維修測(cè)試儀|電路板在線測(cè)試儀|電路板故障測(cè)試儀----------通用的電路板故障檢測(cè)儀器
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電路板維修測(cè)試儀 產(chǎn)品特點(diǎn):
● 無(wú)需電路原理圖、 無(wú)需拆焊元器件
● 直接“在線/在路”檢測(cè)元器件的好壞
● 適用于各種電路板維修,器件級(jí)維修
電路維修測(cè)試儀 技術(shù)特點(diǎn):
● 標(biāo)準(zhǔn)USB接口,與筆記本電腦直接通訊
● 兼容Win Vista XP操作系統(tǒng),與計(jì)算機(jī)技術(shù)同步延伸
● 擁有獨(dú)立的CPU控制系統(tǒng),不受Windows系統(tǒng)分時(shí)影響
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● 無(wú)需電路原理圖、 無(wú)需拆焊元器件
● 直接“在線/在路”檢測(cè)元器件的好壞
● 適用于各種電路板維修,器件級(jí)維修
電路維修測(cè)試儀 技術(shù)特點(diǎn):
● 標(biāo)準(zhǔn)USB接口,與筆記本電腦直接通訊
● 兼容Win Vista XP操作系統(tǒng),與計(jì)算機(jī)技術(shù)同步延伸
● 擁有獨(dú)立的CPU控制系統(tǒng),不受Windows系統(tǒng)分時(shí)影響
型號(hào):RL021609數(shù)字集成電路測(cè)試儀YBD-868 | 型號(hào):RL025194ICT33c+集成電路測(cè)試儀 | 型號(hào):RL029796JET-300在線測(cè)試機(jī) |
YBD-868IC測(cè)試儀
特性:
性能參數(shù) | |
控制鍵 | 16鍵輕觸式鍵盤(pán),帶聲音提示。 |
顯示屏 | 6位LED顯示 |
測(cè)試插座 | 40腳ZIF插座 |
IC資料庫(kù) 超過(guò)2000種
| 1.TTL54系列 2.TTL55系列 3.TTL74系列 4.TTL75系列 5.CMOS14系列 6.CMOS40系列 7.CMOS45系列 8.光耦合系列 9.LED顯示系列 10.RAM系列 11.SCM系列 12.CPU周邊系列 |
功耗 | 12VA |
電源 | 220V±10%,50Hz |
尺寸 | 292 X 235 X 75mm |
重量 | 3.5kg |
1.工作原理:
ICT33c+集成電路測(cè)試儀是以器件預(yù)期響應(yīng)法為指導(dǎo)思想,以單片機(jī)智能化為結(jié)構(gòu)的多功能測(cè)試儀器。它以MCS51單片機(jī)為核心,配合大規(guī)模軟件和外圍擴(kuò)展系統(tǒng)來(lái)全面模擬被測(cè)器件的綜合功能。儀器的設(shè)計(jì)基礎(chǔ)立足于這樣的原則:在數(shù)字集成電路眾多參數(shù)中,邏輯功能是重要,根本,能說(shuō)明問(wèn)題的參數(shù)。
2.系統(tǒng)主要構(gòu)成:
(1)CPU:MCS51系列產(chǎn)品89C52;主頻:11.059M。
(2)程序存儲(chǔ)器:128KEPROM。
(3)RAM緩沖區(qū):128K靜態(tài)RAM。
(4)顯示器:8位液晶顯示器。
(5)操作鍵盤(pán):20位輕觸式按鍵鍵盤(pán)。
(6)輸出:七只LED+八位液晶顯示+聲音提示。
(7)機(jī)箱:全塑結(jié)構(gòu)機(jī)箱。
3.主要參數(shù):
(1)電源電壓:AC220V±15%,50HZ。
(2)整機(jī)功耗:15VA。
(3)測(cè)試電壓:3.3V,5.0V,9.0,15V。
(4)編程電壓:12.5V,21V。
(5)測(cè)試腳數(shù):DIP封裝40腳;SOP封裝20腳(須另購(gòu)適配器)。
(6)型號(hào)輸入位數(shù):3——6位。
(7)適用溫度:0——40℃。
(8)測(cè)試規(guī)范:輸入短路測(cè)試;輸出短路測(cè)試;100%功能測(cè)試。
(9)輸出高電平VOH:大于2.8V(VT=5.0V)。
(10)輸出低電平VOL:小于0.7V(VT=5.0V)。
(11)輸入高電平VIH:大于4.5V(VT=5.0V)。
(12)輸入低電平VIL:小于0.2V(VT=5.0V)。
4.功能綜述
(1)器件好壞判別:當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí),儀器可判別其邏輯功能好壞。
(2)器件型號(hào)識(shí)別:當(dāng)不知被測(cè)器件的型號(hào)時(shí),儀器可依據(jù)其邏輯功能來(lái)判斷其型號(hào)。
(3)器件老化測(cè)試:當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí),儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。
(4)器件代換查詢(xún):儀器可顯示有無(wú)邏輯功能一致,引腳排列一致的器件型號(hào)。
(5)內(nèi)部RAM緩沖區(qū)修改:儀器可對(duì)內(nèi)部緩沖區(qū)進(jìn)行多種編輯。
(6)微機(jī)通訊:儀器可通過(guò)串行口接受來(lái)自微機(jī)的數(shù)據(jù)或?qū)?nèi)部RAM緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)傳送到微機(jī)。
(7)ROM器件讀入:儀器可將128K以?xún)?nèi)的ROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)讀入并保存。
(8)ROM器件寫(xiě)入:儀器可將內(nèi)部緩沖區(qū)的數(shù)據(jù)寫(xiě)入到128K以?xún)?nèi)的ROM器件中。
5.適用范圍
ICT33C+具有以下主要用途:
(1)維修各類(lèi)電子產(chǎn)品,判斷其集成電路故障。
(2)破譯被抹去型號(hào)集成電路的真實(shí)型號(hào)。
(3)燒寫(xiě)各類(lèi)EPROM、EEPROM、FLASH ROM、單片機(jī)片內(nèi)ROM。
(4)開(kāi)發(fā)各類(lèi)智能電子產(chǎn)品,調(diào)試程序。
(5)檢驗(yàn)新購(gòu)器件的質(zhì)量。
6.測(cè)試容量
ICT33C+可測(cè)器件包含以下各大系列:
(1)TTL74、54系列。
(2)TTL75、55系列。
(3)CMOS40、45、14系列。
數(shù)碼管系列0.5吋共陽(yáng)[001]、共陰[002];0.3吋共陽(yáng)[003]、共陰[004];0.7吋共陽(yáng)[005]、共陰[006]。
常用RAM系列
2112 2114 2016 6116 6264 62256 60256 628128
EEPROM系列
2816 2817 2864 28256 28040 29101 28010 24C01
24C02 24C04 24C08 24C16 24C32 24C64 24C128 24C256
24C512 93C46 93C56 793C66 29256 29010
EPROM系列
2716(僅讀)2732(僅讀) 2764 27128 27256 27512 27010
微機(jī)外圍電路系列
8155 8156 8255 8253 8259 8212 8282
8283 8216 8816 8243 8226 8205 8286
8287 6820 6821 6880 6888 6887 6889
6810 6520 8254 8251 8279 8708 6840
8718 8728 Z8OCTC(8O2)
常用單片機(jī)系列
8031 8032 8051 8052 8751 8752 89C1051 89C2051 89C51 89C52
其他系列
20022003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 2633
18311908 339 192 293 393 555 556 324
22100 2802 2803 2804 9637 9638 7831 7832 8831
8832 3446 MC1413(2003) MC1416(2004) MC14160(40160)
DG201 MC14161(40161) MC14162(40162) MC14163(40163) LM358
TIL308 MC14189(75189) 2902(324) 8T26(826) AD7506
運(yùn)算放大器系列(由于運(yùn)放型號(hào)較復(fù)雜,僅列出一小部分)
a) 單運(yùn)放(輸入7001):AD504,AD518,AD542,AD544,AD547,AD620,AM427,AM430,AM453,CA3080,CA3094,CA3100,CA3140,CA3160,CA3193,CA3420,CA3493,CA6741,CA741,CA748,CLC411,CLC430,CLC436,HA5100,HA5105,HA5135,INA117,LF155/255/355,LF411,LF351,LF441,LM4250,LM6161/6261/6361,LM6162/6262/6362,LM6164/6264/6364,LM6165/6265/6365,LM6171/6181,LM709,LM7121,LM7131,LM7171,LM725,LT1012,LT1055,MA325,MA327,MA332/333/337/342/344,MA400,MC1748,MC3476,NE530/531/538,NE5534,OP06/07/15/16/20/21/22/27/37,OPA100,TL061,TL066,TL070/071/080/081/091,TL321,UA714,UA741,UA771,UPC151。
b) 雙運(yùn)放(輸入7002):CA3240,CA3260,HA17904,IR3F02,LF353,LF358,LF412,LF442,LM392,LM6172,LM6182,MA336,MA345,MC3458,MC4558,NE532,NE5512,NE5532,NE5535,NJM2043,NJM2068,NJM2904,NJM4560,NJM4562,TL062,TL072,TL082,TL092,TL322,UA772,UA789,UA747,LM2904,LM4558。
c) 四運(yùn)放(輸入7004):HA17902,LF147/347/444,MC3403,MC3405,MC4741,NJM2058,NJM2060,OPA404,TL064,TL074,TL084,TL094,TL136,XR4212,UA774,LM324,LM2902。
三端穩(wěn)壓器系列
7805,7806,7808,7809,7810,7812,7815,7818,7820,7824,7905,7906,7908,7909,7910,7912,7915,7918,7920,7924,317,337。
JET-300在線測(cè)試機(jī)(IN CIRCUIT TESTER)是經(jīng)由量測(cè)電路板上所有零件,包括電阻、電容、電感、二極管、晶體管、FET、SCR、LED 和IC等,檢測(cè)出電路板產(chǎn)品的各種缺點(diǎn)諸如:線路短路、斷路、缺件、錯(cuò)件、零件不良或裝配不良等,并明確地指出缺點(diǎn)的所在位置,幫助使用者確保產(chǎn)品的品質(zhì),并提高不良品檢修效率。它還率先使用可用數(shù)億次開(kāi)關(guān)的磁簧式繼電器(REED RELAY),是當(dāng)今測(cè)試涵蓋率,測(cè)試穩(wěn)定,使用方便,提供資料齊全的在線測(cè)試機(jī)。
欄目頁(yè)面:http://www.runlian365.com/chanpin/3311.html集成電路在線測(cè)試儀來(lái)源網(wǎng)址:http://www.runlian365.com/chanpin/did-29796-pid-3311.htmlJET-300在線測(cè)試機(jī)溫馨提示:潤(rùn)聯(lián)為您提供產(chǎn)品的詳細(xì)產(chǎn)品價(jià)格、產(chǎn)品圖片等產(chǎn)品介紹信息,您可以直接聯(lián)系廠家獲取產(chǎn)品的具體資料,聯(lián)系時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是在潤(rùn)聯(lián)看到的,并告知型號(hào)