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XRF-2000韓國(guó)Micro Pioneer金屬鍍層測(cè)厚儀,膜厚儀

韓國(guó)Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀能提供金屬鍍層厚度的測(cè)量,同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢(qián)超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測(cè)量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái),鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),十字線自動(dòng)調(diào)整.超大/開(kāi)放式的樣品臺(tái),可測(cè)量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測(cè)量各類(lèi)金屬層、合金層厚度.

可測(cè)元素范圍：

鈦(Ti) – 鈾(U)

可測(cè)量厚度范圍：

原子序 22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射線管：油冷,超微細(xì)對(duì)焦

高壓：0-50KV(程控)

準(zhǔn)直器：

固定種類(lèi)大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動(dòng)種類(lèi)大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器

 

綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,無(wú)需購(gòu)買(mǎi)標(biāo)準(zhǔn)藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來(lái)料的純度.

統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便的控制品質(zhì).

 

我們的經(jīng)營(yíng)理念是:

1．我們以公平的價(jià)格提供質(zhì)量的儀器。

2．對(duì)顧客提供的服務(wù)和極好的最適合的設(shè)備。

3．顧客提出的建議和新想法，將被我們采納并作為我們未來(lái)的事務(wù)。

4．我們的目標(biāo)和戰(zhàn)略是與企業(yè)建立并且連續(xù)性的合作伙伴。

 

 

 

XRF-2000韓國(guó)Micro Pioneer金屬鍍層測(cè)厚儀,膜厚儀

韓國(guó)Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀能提供金屬鍍層厚度的測(cè)量,同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢(qián)超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測(cè)量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái),鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),十字線自動(dòng)調(diào)整.超大/開(kāi)放式的樣品臺(tái),可測(cè)量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測(cè)量各類(lèi)金屬層、合金層厚度.

可測(cè)元素范圍：

鈦(Ti) – 鈾(U)

可測(cè)量厚度范圍：

原子序 22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射線管：油冷,超微細(xì)對(duì)焦

高壓：0-50KV(程控)

準(zhǔn)直器：

固定種類(lèi)大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動(dòng)種類(lèi)大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器

 

綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,無(wú)需購(gòu)買(mǎi)標(biāo)準(zhǔn)藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來(lái)料的純度.

統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便的控制品質(zhì).

 

我們的經(jīng)營(yíng)理念是:

1．我們以公平的價(jià)格提供質(zhì)量的儀器。

2．對(duì)顧客提供的服務(wù)和極好的最適合的設(shè)備。

3．顧客提出的建議和新想法，將被我們采納并作為我們未來(lái)的事務(wù)。

4．我們的目標(biāo)和戰(zhàn)略是與企業(yè)建立并且連續(xù)性的合作伙伴。

 

 

 

X射線金屬鍍層測(cè)厚儀 價(jià)格

    Micron X射線金屬鍍層測(cè)厚儀是一種專(zhuān)門(mén)應(yīng)用于半導(dǎo)體材料和電子器件領(lǐng)域的檢測(cè)設(shè)備。 檢測(cè)區(qū)域?yàn)?0m~500um. 通過(guò)CCD 可放大圖像達(dá)300倍。通過(guò)高精密度樣品臺(tái)可提供元素面分布圖。 可對(duì)多達(dá)6層的涂層或鍍層進(jìn)行逐層厚度測(cè)量。 MicronX 利用X射線熒光的非接觸式的無(wú)損測(cè)試技術(shù)地應(yīng)用于微電子學(xué)、光通訊和數(shù)據(jù)儲(chǔ)存工業(yè)中的金屬薄膜測(cè)量。 MicronX 可以同時(shí)測(cè)量多至6層的金屬鍍層的厚度和成份，測(cè)量厚度可以從埃（?）至微米（um），它也能測(cè)量多至20個(gè)元素的塊狀合金成份。測(cè)定元素：Ti ～ U 。 其光束和探測(cè)器的巧妙結(jié)合加上的數(shù)字處理技術(shù)使得MicronX 能地解決您的應(yīng)用。在度和重現(xiàn)性上具有的性能。 測(cè)量更小、更快、更薄 MicronX 比現(xiàn)有其它的XRF儀器可以測(cè)量更小的面積、更薄的鍍層和更加快速。這是由包括準(zhǔn)直器、探測(cè)器、信息處理器和計(jì)算機(jī)等部件在內(nèi)的一整套專(zhuān)利系統(tǒng)完成的。 更多詳細(xì)資料，歡迎來(lái)電索取。

XRF-2000韓國(guó)Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀

Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀能提供金屬鍍層厚度的測(cè)量,同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢(qián)超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測(cè)量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái),鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),十字線自動(dòng)調(diào)整.超大/開(kāi)放式的樣品臺(tái),可測(cè)量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測(cè)量各類(lèi)金屬層、合金層厚度.

可測(cè)元素范圍：

鈦(Ti) – 鈾(U)

可測(cè)量厚度范圍：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射線管：油冷,超微細(xì)對(duì)焦

高壓：0-50KV(程控)

準(zhǔn)直器：

固定種類(lèi)大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動(dòng)種類(lèi)大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器

 

綜合性能:鍍層分析 定性分析 定量分析 鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,無(wú)需購(gòu)買(mǎi)標(biāo)準(zhǔn)藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來(lái)料的純度.

統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便的控制品質(zhì)

XRF-2000韓國(guó)Micr Pioneer 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀

可測(cè)元素范圍：

鈦(Ti) – 鈾(U)

可測(cè)量厚度范圍：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射線管：油冷,超微細(xì)對(duì)焦

高壓：0-50KV(程控)

準(zhǔn)直器：

固定種類(lèi)大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動(dòng)種類(lèi)大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器

 

綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,無(wú)需購(gòu)買(mǎi)標(biāo)準(zhǔn)藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來(lái)料的純度.

統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便的控制品質(zhì).

 

CMI243CMI243（手持式金屬鍍層測(cè)厚儀）

CMI243（手持式金屬鍍層測(cè)厚儀）

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：    CMI243為專(zhuān)門(mén)針對(duì)量測(cè)磁性金屬上面的鍍層（如鋅Zn、鎳Ni、鉻Cr、銅Cu、鎘Cd）。CMI243為靈活便攜式
及簡(jiǎn)單上手的儀器，只要接上一支測(cè)試頭即可量測(cè)許多鐵上的鍍層厚度，測(cè)頭配置微小探頭即使對(duì)于小面
積也可以量測(cè)。使用基于相位渦電流技術(shù)量測(cè)提供此儀器更佳的度及精度和更人性化的使用。
CMI243降低了儀器成本，并排除了使用多種測(cè)試頭校正標(biāo)準(zhǔn)片。       適用行業(yè)：
螺絲、緊固件、汽車(chē)零件、齒輪。       產(chǎn)品特色：
－－手提式非破壞測(cè)量
－－精度高、穩(wěn)定性好
－－測(cè)量精度可與X-RAY媲美
－－可測(cè)量微型零件
－－RS-232連接阜，可將數(shù)據(jù)傳輸至打印機(jī)或計(jì)算機(jī)
規(guī)格說(shuō)明：
－－量測(cè)范圍 0.08~1.5mils （2~38um）
－－精確度 ±1%
－－分辨率 0.01mils（0.1µm）
－－最小底材厚度 12mils （0.35mm）
－－最小測(cè)試面積直徑 2.286mm   －－最小曲率半徑 1.2mm（凸）；1.5mm（凹）
－－校正方式 精密兩點(diǎn)校正
－－顯示屏 3位液晶顯示屏，1/2英吋（1.27mm）高
－－單位 以按鍵切換公制（um）及英制（mils）單位選擇
－－連接阜 RS-232連接阜，用于將數(shù)據(jù)傳輸至計(jì)算機(jī)或打印機(jī)
－－統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) 量測(cè)點(diǎn)數(shù)、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差、值、值、由打印機(jī)可輸出直方圖或CPK圖
－－儲(chǔ)存量 12400條讀數(shù)
－－重量 9OZ（0.26Kg）含電池
－－尺寸 149*794*302 mm
－－電池 9伏干電池或可充電電池
－－打印機(jī) 任意豎式熱感打印機(jī)
－－按鍵 密封膜，增強(qiáng)-16鍵

XRF-2000韓國(guó)Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀

韓國(guó)Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀

Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀能提供金屬鍍層厚度的測(cè)量,同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢(qián)超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測(cè)量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái),鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),十字線自動(dòng)調(diào)整.超大/開(kāi)放式的樣品臺(tái),可測(cè)量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測(cè)量各類(lèi)金屬層、合金層厚度.

可測(cè)元素范圍：

鈦(Ti) – 鈾(U)

可測(cè)量厚度范圍：

原子序22-25，0.1-0.8μm

26-40，0.05-35μm

43-52，0.1-100μm

72-82，0.05-5μm

X-射線管：油冷,超微細(xì)對(duì)焦

高壓：0-50KV(程控)

準(zhǔn)直器：

固定種類(lèi)大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

自動(dòng)種類(lèi)大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器

 

綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,無(wú)需購(gòu)買(mǎi)標(biāo)準(zhǔn)藥液.

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

光譜對(duì)比功能:可將樣品的光譜和標(biāo)準(zhǔn)件的光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來(lái)料的純度.

統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便的控制品質(zhì).

多年來(lái)，我們一直于為PCB 廠商，電鍍行業(yè)，科研機(jī)構(gòu)，半導(dǎo)體生產(chǎn)等電子行業(yè)提供高性能的儀器和的售后服務(wù)。讓客戶滿意，為客戶創(chuàng)造最大的價(jià)值是我們始終追求的目標(biāo)，因?yàn)槲覀儓?jiān)信，客戶的需要就是我們前進(jìn)的動(dòng)力。愿我們成為真誠(chéng)的合作伙伴、共同描繪雙方的發(fā)展藍(lán)圖！

XRF-2000熒光金屬鍍層測(cè)厚儀

韓國(guó)Micro Pioneer XRF-2000 系列熒光金屬鍍層測(cè)厚儀能提供金屬鍍層厚度的測(cè)量,同時(shí)可對(duì)電鍍液進(jìn)行分析,不單性能,而且價(jià)錢(qián)超值.只需數(shù)秒鐘,便能非破壞性地得到的測(cè)量結(jié)果,甚至是多層鍍層的樣品也一樣能勝任.全自動(dòng)XYZ樣品臺(tái),鐳射自動(dòng)對(duì)焦系統(tǒng),十字線自動(dòng)調(diào)整.超大/開(kāi)放式的樣品臺(tái),可測(cè)量較大的產(chǎn)品.是線路板,五金電鍍,首飾,端子等行業(yè)的.可測(cè)量各類(lèi)金屬層、合金層厚度.

 

可選型號(hào)：

Type H : 測(cè)量一般工件

Type L :測(cè)量一般PCB/半導(dǎo)體產(chǎn)品

Type PCB :開(kāi)放式設(shè)計(jì)，特大PCB適用

 

可測(cè)元素范圍：

 

鈦(Ti) – 鈾(U)

 

測(cè)量厚度范圍：

 

原子序數(shù) 22-25， 0.1-0.8μm

26-40， 0.05-35μm

43-52， 0.1-100μm

72-82， 0.05-5μm

 

X-射線管：油冷,超微細(xì)對(duì)焦

 

高壓：0-50KV(程控)

 

準(zhǔn)直器：

 

固定種類(lèi)大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,1X0.4mm

 

自動(dòng)種類(lèi)大小:可選0.1,0.2,0.3,0.4,0.05X0.4mm

 

電腦系統(tǒng)：IBM相容,17”顯示器

 

綜合性能:鍍層分析  定性分析  定量分析  鍍液分析

 

鍍層分析:可分析單層鍍層,雙層鍍層,三層鍍層, 合金鍍層.

 

鍍液分析:可分析鍍液的主成份濃度(如鍍鎳藥水的鎳離子濃度,鍍銅藥水的銅離子濃度等),簡(jiǎn)單的核對(duì)方式,無(wú)需購(gòu)買(mǎi)標(biāo)準(zhǔn)藥液.

 

定性定量分析:可定性分析20多種金屬元素,并可定量分析成分含量.

 

光譜對(duì)比功能:可將樣品光譜和標(biāo)準(zhǔn)件光譜進(jìn)行對(duì)比,可確定樣品與標(biāo)準(zhǔn)件的差別,從而控制來(lái)料的純度.

 

統(tǒng)計(jì)功能:能夠?qū)y(cè)量結(jié)果進(jìn)行系統(tǒng)分析統(tǒng)計(jì),方便的控制品質(zhì)

該公司產(chǎn)品分類(lèi)： 超聲波測(cè)厚儀

CMI243便攜金屬鍍層測(cè)厚儀

CMI243便攜金屬鍍層測(cè)厚儀
  • 便攜式、無(wú)損測(cè)量各種金屬鍍層
  • 精度高、穩(wěn)定性好，
  • 測(cè)量精度可與X射線測(cè)厚儀媲美
  • 可測(cè)量各種微型部件(φ2.5mm)
  • 232接口，可連接打印機(jī)或電腦

便攜金屬鍍層測(cè)厚儀應(yīng)用

CMI243金屬鍍層測(cè)厚儀可無(wú)損、精確測(cè)量各種金屬鍍層厚度，如 鋅/鐵、鎳/鐵、鉻/鐵、鎘/鐵、銅/鐵等（Zn/Fe,Ni/Fe,Cr/Fe,Cd/Fe,Cu/Fe,etc）。

便攜金屬鍍層測(cè)厚儀行業(yè)

緊固件、螺絲、汽車(chē)部件、齒輪、管件等表面電鍍層

便攜金屬鍍層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)

誤差 ±5%分辨率 0.1um

最小曲率半徑 1.2mm(凸)；1.5mm(凹)最小測(cè)量面積 φ2.5mm最小基體厚度 0.35mm顯示 3位LCD數(shù)顯測(cè)量單位 um-mils可選校準(zhǔn)方式 精密兩點(diǎn)校準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差S、讀數(shù)個(gè)數(shù)n(9,999個(gè))

最大值max、最小值min

接口 232串口電源 1節(jié)9V電池儀器尺寸 150x80x30mm儀器重量 260g

CMI243便攜金屬鍍層測(cè)厚儀

CMI243便攜金屬鍍層測(cè)厚儀
  • 便攜式、無(wú)損測(cè)量各種金屬鍍層
  • 精度高、穩(wěn)定性好，
  • 測(cè)量精度可與X射線測(cè)厚儀媲美
  • 可測(cè)量各種微型部件(φ2.5mm)
  • 232接口，可連接打印機(jī)或電腦

應(yīng)用

CMI243金屬鍍層測(cè)厚儀可無(wú)損、精確測(cè)量各種金屬鍍層厚度，如 鋅/鐵、鎳/鐵、鉻/鐵、鎘/鐵、銅/鐵等（Zn/Fe,Ni/Fe,Cr/Fe,Cd/Fe,Cu/Fe,etc）。

行業(yè)

緊固件、螺絲、汽車(chē)部件、齒輪、管件等表面電鍍層

技術(shù)參數(shù)

誤差 ±5%分辨率 0.1um

最小曲率半徑 1.2mm(凸)；1.5mm(凹)最小測(cè)量面積 φ2.5mm最小基體厚度 0.35mm顯示 3位LCD數(shù)顯測(cè)量單位 um-mils可選校準(zhǔn)方式 精密兩點(diǎn)校準(zhǔn)統(tǒng)計(jì)數(shù)據(jù) 平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差S、讀數(shù)個(gè)數(shù)n(9,999個(gè))

最大值max、最小值min

接口 232串口電源 1節(jié)9V電池儀器尺寸 150x80x30mm儀器重量 260g

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