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X熒光鍍層測(cè)厚儀X-Strata960 X熒光鍍層測(cè)厚儀X-Strata960

X-Strata960測(cè)厚儀基于25年涂鍍層測(cè)量經(jīng)驗(yàn)，在CMI900系列測(cè)厚儀的堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)上，引進(jìn)的設(shè)計(jì)：

  • 新100瓦X射線管 - 市場(chǎng)上所能提供的的X射線管。提高30%測(cè)量精度，同時(shí)減少50%測(cè)量時(shí)間
  • 更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準(zhǔn)直器，可測(cè)量電子器件上更小的部位。提供改進(jìn)的CCD攝像頭及縮放裝置，同時(shí)提供更高精度的Y軸控制。
  • 距離獨(dú)立測(cè)量（DIM） - 更靈活地特殊形狀樣品，可在DIM范圍內(nèi)12.5-90mm（0.5-3.5inch）對(duì)樣品表面進(jìn)行測(cè)量，Z軸可控制范圍為230mm（9inch）？赏ㄟ^手動(dòng)調(diào)整也可以通過自動(dòng)鐳射聚焦來實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的精確對(duì)準(zhǔn)。
  • 自動(dòng)鐳射聚焦 - 自動(dòng)尋找振決的聚焦距離，改善DIM的聚焦過程并提高系統(tǒng)測(cè)量再現(xiàn)性。也可選擇標(biāo)準(zhǔn)的鐳射聚焦模式。
  • 的大型測(cè)厚儀樣品室 - 更大的開槽式測(cè)厚儀樣品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,開槽式設(shè)計(jì)可容納超大尺寸的樣品？蓮母鱾(gè)方向簡(jiǎn)便的裝載和觀察樣品。
  • 3種測(cè)厚儀樣品臺(tái)選項(xiàng) - XY程控控制（200x200mm或8x8inch移動(dòng)范圍）/XY手動(dòng)控制（250x250mm或10x10英寸）/固定樣品臺(tái)；標(biāo)準(zhǔn)配置Z軸程控控制（230mm或9inch移動(dòng)范圍）。
  • 測(cè)厚儀內(nèi)置PC用戶界面　
 
技術(shù)參數(shù)
主要規(guī)格

 規(guī)格描述
X射線激發(fā)和檢測(cè)

 牛津儀器制造的100瓦（50kV-2.0mA）微焦點(diǎn)鎢靶X射線管
高分辨封氣（Xe）正比計(jì)數(shù)器可獲取的計(jì)數(shù)靈敏度，配合二次濾光器機(jī)構(gòu)實(shí)現(xiàn)的檢出效果
數(shù)字脈沖處理

 4096通道數(shù)字多道分析器，數(shù)字光譜處理過程可獲取的信號(hào)采集（每秒計(jì)數(shù)量），從而的測(cè)量統(tǒng)計(jì)結(jié)果
手動(dòng)或自動(dòng)透鏡控制

 手動(dòng)透鏡控制：通過手動(dòng)調(diào)整DIM旋鈕控制分析聚焦距離
自動(dòng)透鏡控制：激光束自動(dòng)尋找DIM系統(tǒng)的分析聚焦距離
自由距離測(cè)定

 簡(jiǎn)化系統(tǒng)設(shè)置和維護(hù)
在聚焦距離范圍內(nèi)僅需要一個(gè)校正
對(duì)不規(guī)則樣品更靈活的測(cè)量
在12.7mm-88.9mm的自由距離內(nèi)，可測(cè)量樣品表面的任何一點(diǎn)
通過DIM旋鈕或使用自動(dòng)激光聚焦功能，可快速、的確定聚焦距離
 

附帶自動(dòng)透鏡功能的自動(dòng)激光聚焦

 獨(dú)特的、自動(dòng)樣品擺放系統(tǒng)
激光掃描單鍵啟動(dòng)
消除樣品碰擊Z軸的機(jī)會(huì)
改善DIM的聚焦過程
標(biāo)準(zhǔn)激光聚焦

 標(biāo)準(zhǔn)激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自動(dòng)尋找正確的Z軸位置，提高分析再現(xiàn)性，結(jié)果不受人為操作的影響
Z軸聚焦掃描單鍵啟動(dòng)
改善DIM和常規(guī)固定焦距測(cè)量時(shí)的聚焦過程
微小準(zhǔn)直器

 儀器至少裝備一個(gè)客戶指定規(guī)格的準(zhǔn)直器以化測(cè)量，并提高測(cè)量效率
備有各種規(guī)格準(zhǔn)直器（0.015mm – 0.5mm）,園形或矩形供客戶選用
多準(zhǔn)直器程序交換系統(tǒng)可同時(shí)安裝4個(gè)準(zhǔn)直器
大樣品室設(shè)計(jì)

 方便超大樣品的推拉式平臺(tái)：如大面積PCB板、較長(zhǎng)的管材樣品
大型開發(fā)式樣品室：方便于從各方向進(jìn)樣和觀察樣品
三種樣品臺(tái)備選：可編程XY軸樣品臺(tái)、手動(dòng)XY軸樣品臺(tái)、固定位置樣品臺(tái)
標(biāo)準(zhǔn)配置自動(dòng)化Z軸：最大高度230mm
集成化計(jì)算機(jī)

 工作站式設(shè)計(jì)：改善人機(jī)工程學(xué)、方便使用
簡(jiǎn)化設(shè)備安裝：僅需要接入主電源線，沒有其他電纜
減少整機(jī)占用空間
USB和Ethernet接口：打印機(jī)、刻錄機(jī)、局域網(wǎng)和遠(yuǎn)程在線支持功能
其他硬件特點(diǎn)

 CCD相機(jī)擁有2x、3x或4x的變焦功能，可實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)定樣品的高分辨、實(shí)時(shí)、彩色圖像觀測(cè)
溫度補(bǔ)償功能監(jiān)測(cè)系統(tǒng)溫度，并自動(dòng)校正由于溫度變化可能引起的儀器漂移，的儀器穩(wěn)定性
光譜校準(zhǔn)、單擊鼠標(biāo)執(zhí)行系統(tǒng)性能自檢和校正程序儀器的穩(wěn)定性
堅(jiān)實(shí)耐用的儀器設(shè)計(jì)適用于各種工業(yè)環(huán)境
一體化工作站設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的人機(jī)

該公司產(chǎn)品分類： 真空度計(jì) 日本理音 日本小野 欣銳儀器 德國Novi 德國百瑞高 臺(tái)灣泰仕TES 德國德圖testo 美國雷泰Raytek 日本加野KANOMAX 日本日置HIOKI 日本共立KYORITSU 香港，擲MART 德國QBL 意大利哈納HANNA 美國聯(lián)合系統(tǒng) 美國ESC 美國斯德克 韓國卡利安株式會(huì)社 德國喜利得HILTI

CMI900CMI900(X熒光鍍層測(cè)厚儀)

詳細(xì)說明

 

CMI900鍍層測(cè)厚儀特點(diǎn)：

  • 精度高、穩(wěn)定性好
  • 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能
  • 測(cè)量范圍寬
  • NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片
  • 全球服務(wù)及支持

 
 
技術(shù)參數(shù)

主要規(guī)格
規(guī)格描述
X射線激發(fā)系統(tǒng)
垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)
空冷式微聚焦型X射線管，Be窗
標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等
功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn)
      75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選
裝備有安全防射線光閘
二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選
準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)
最多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器
多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：
－圓形，如4、6、8、12、20 mil等
－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等
 
測(cè)量斑點(diǎn)尺寸
在12.7mm聚焦距離時(shí)，最小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055 mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器)
在12.7mm聚焦距離時(shí)，最大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)
樣品室
CMI900
CMI950
－樣品室結(jié)構(gòu)
開槽式樣品室
開閉式樣品室
－最大樣品臺(tái)尺寸
610mm x 610mm
300mm x 300mm
－XY軸程控移動(dòng)范圍
標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm
還有5種規(guī)格任選
300mm x 300mm
－Z軸程控移動(dòng)高度
43.18mm
XYZ程控時(shí)，152.4mm
XY軸手動(dòng)時(shí)，269.2mm
－XYZ三軸控制方式
多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制
－樣品觀察系統(tǒng)
高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。
激光自動(dòng)對(duì)焦功能
可變焦距控制功能和固定焦距控制功能
計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置
IBM計(jì)算機(jī)
惠普或愛普生彩色噴墨打印機(jī)
分析應(yīng)用軟件
操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺(tái)
分析軟件包：SmartLink FP軟件包
－測(cè)厚范圍
可測(cè)定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。
－基本分析功能
采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。
樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)
可檢測(cè)元素范圍：Ti22 – U92
 
可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正
貴金屬檢測(cè)，如Au karat評(píng)價(jià)
 
材料和合金元素分析，
材料鑒別和分類檢測(cè)
液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量
多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較
元素光譜定性分析
－調(diào)整和校正功能
系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能，自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移
－測(cè)量自動(dòng)化功能
鼠標(biāo)激活測(cè)量模式：“PointShoot”
多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式：隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測(cè)量模式
測(cè)量位置預(yù)覽功能
激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能
－樣品臺(tái)程控功能
設(shè)定測(cè)量點(diǎn)
連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量
測(cè)量位置預(yù)覽(圖表顯示)
       

 
－統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能
平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖
數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖
數(shù)據(jù)庫存儲(chǔ)功能
任選軟件：統(tǒng)計(jì)報(bào)告編輯器允許用戶自定義多媒體報(bào)告書
－系統(tǒng)安全監(jiān)測(cè)功能
Z軸保護(hù)傳感器
樣品室門開閉傳感器
操作系統(tǒng)多級(jí)密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師

行業(yè)

CMI900X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測(cè)量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)，在質(zhì)量管理到不良品分析有著廣泛的應(yīng)用。

應(yīng)用

用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個(gè)行業(yè)。

X-Strata960 X熒光鍍層測(cè)厚儀X-Strata960

X-Strata960測(cè)厚儀基于25年涂鍍層測(cè)量經(jīng)驗(yàn)，在CMI900系列測(cè)厚儀的堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)上，引進(jìn)的設(shè)計(jì)：

  • 新100瓦X射線管 - 市場(chǎng)上所能提供的的X射線管。提高30%測(cè)量精度，同時(shí)減少50%測(cè)量時(shí)間
  • 更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準(zhǔn)直器，可測(cè)量電子器件上更小的部位。提供改進(jìn)的CCD攝像頭及縮放裝置，同時(shí)提供更高精度的Y軸控制。
  • 距離獨(dú)立測(cè)量（DIM） - 更靈活地特殊形狀樣品，可在DIM范圍內(nèi)12.5-90mm（0.5-3.5inch）對(duì)樣品表面進(jìn)行測(cè)量，Z軸可控制范圍為230mm（9inch）？赏ㄟ^手動(dòng)調(diào)整也可以通過自動(dòng)鐳射聚焦來實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的精確對(duì)準(zhǔn)。
  • 自動(dòng)鐳射聚焦 - 自動(dòng)尋找振決的聚焦距離，改善DIM的聚焦過程并提高系統(tǒng)測(cè)量再現(xiàn)性。也可選擇標(biāo)準(zhǔn)的鐳射聚焦模式。
  • 的大型測(cè)厚儀樣品室 - 更大的開槽式測(cè)厚儀樣品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,開槽式設(shè)計(jì)可容納超大尺寸的樣品？蓮母鱾(gè)方向簡(jiǎn)便的裝載和觀察樣品。
  • 3種測(cè)厚儀樣品臺(tái)選項(xiàng) - XY程控控制（200x200mm或8x8inch移動(dòng)范圍）/XY手動(dòng)控制（250x250mm或10x10英寸）/固定樣品臺(tái)；標(biāo)準(zhǔn)配置Z軸程控控制（230mm或9inch移動(dòng)范圍）。
  • 測(cè)厚儀內(nèi)置PC用戶界面　
 
技術(shù)參數(shù)
主要規(guī)格

 規(guī)格描述
X射線激發(fā)和檢測(cè)

 牛津儀器制造的100瓦（50kV-2.0mA）微焦點(diǎn)鎢靶X射線管
高分辨封氣（Xe）正比計(jì)數(shù)器可獲取的計(jì)數(shù)靈敏度，配合二次濾光器機(jī)構(gòu)實(shí)現(xiàn)的檢出效果
數(shù)字脈沖處理

 4096通道數(shù)字多道分析器，數(shù)字光譜處理過程可獲取的信號(hào)采集（每秒計(jì)數(shù)量），從而的測(cè)量統(tǒng)計(jì)結(jié)果
手動(dòng)或自動(dòng)透鏡控制

 手動(dòng)透鏡控制：通過手動(dòng)調(diào)整DIM旋鈕控制分析聚焦距離
自動(dòng)透鏡控制：激光束自動(dòng)尋找DIM系統(tǒng)的分析聚焦距離
自由距離測(cè)定

 簡(jiǎn)化系統(tǒng)設(shè)置和維護(hù)
在聚焦距離范圍內(nèi)僅需要一個(gè)校正
對(duì)不規(guī)則樣品更靈活的測(cè)量
在12.7mm-88.9mm的自由距離內(nèi)，可測(cè)量樣品表面的任何一點(diǎn)
通過DIM旋鈕或使用自動(dòng)激光聚焦功能，可快速、的確定聚焦距離
 

附帶自動(dòng)透鏡功能的自動(dòng)激光聚焦

 獨(dú)特的、自動(dòng)樣品擺放系統(tǒng)
激光掃描單鍵啟動(dòng)
消除樣品碰擊Z軸的機(jī)會(huì)
改善DIM的聚焦過程
標(biāo)準(zhǔn)激光聚焦

 標(biāo)準(zhǔn)激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自動(dòng)尋找正確的Z軸位置，提高分析再現(xiàn)性，結(jié)果不受人為操作的影響
Z軸聚焦掃描單鍵啟動(dòng)
改善DIM和常規(guī)固定焦距測(cè)量時(shí)的聚焦過程
微小準(zhǔn)直器

 儀器至少裝備一個(gè)客戶指定規(guī)格的準(zhǔn)直器以化測(cè)量，并提高測(cè)量效率
備有各種規(guī)格準(zhǔn)直器（0.015mm – 0.5mm）,園形或矩形供客戶選用
多準(zhǔn)直器程序交換系統(tǒng)可同時(shí)安裝4個(gè)準(zhǔn)直器
大樣品室設(shè)計(jì)

 方便超大樣品的推拉式平臺(tái)：如大面積PCB板、較長(zhǎng)的管材樣品
大型開發(fā)式樣品室：方便于從各方向進(jìn)樣和觀察樣品
三種樣品臺(tái)備選：可編程XY軸樣品臺(tái)、手動(dòng)XY軸樣品臺(tái)、固定位置樣品臺(tái)
標(biāo)準(zhǔn)配置自動(dòng)化Z軸：最大高度230mm
集成化計(jì)算機(jī)

 工作站式設(shè)計(jì)：改善人機(jī)工程學(xué)、方便使用
簡(jiǎn)化設(shè)備安裝：僅需要接入主電源線，沒有其他電纜
減少整機(jī)占用空間
USB和Ethernet接口：打印機(jī)、刻錄機(jī)、局域網(wǎng)和遠(yuǎn)程在線支持功能
其他硬件特點(diǎn)

 CCD相機(jī)擁有2x、3x或4x的變焦功能，可實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)定樣品的高分辨、實(shí)時(shí)、彩色圖像觀測(cè)
溫度補(bǔ)償功能監(jiān)測(cè)系統(tǒng)溫度，并自動(dòng)校正由于溫度變化可能引起的儀器漂移，的儀器穩(wěn)定性
光譜校準(zhǔn)、單擊鼠標(biāo)執(zhí)行系統(tǒng)性能自檢和校正程序儀器的穩(wěn)定性
堅(jiān)實(shí)耐用的儀器設(shè)計(jì)適用于各種工業(yè)環(huán)境
一體化工作站設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的人機(jī)工程學(xué)

該公司產(chǎn)品分類： 紡織儀器 工具 記錄儀 變送器 儀器配件 電源供應(yīng)器 溫度熱電偶 空調(diào)檢測(cè)儀器 農(nóng)業(yè)檢測(cè)儀器 表面測(cè)試儀器 家居系列產(chǎn)品 安規(guī)檢測(cè)儀器 測(cè)繪檢測(cè)儀器 建筑檢測(cè)儀器 計(jì)量標(biāo)定儀器 通用檢測(cè)儀器 電子電力工具 水質(zhì)分析儀器 電力電工儀器 警用安檢設(shè)備

X-Strata960X熒光鍍層測(cè)厚儀

基于25年涂鍍層測(cè)量經(jīng)驗(yàn)，在CMI900系列測(cè)厚儀的堅(jiān)實(shí)基礎(chǔ)上，引進(jìn)的設(shè)計(jì)：

 

l          新100瓦X射線管 - 市場(chǎng)上所能提供的X射線管。提高30%測(cè)量精度，同時(shí)減少50%測(cè)量時(shí)間

l          更小的X射線光斑尺寸 - 新增15mil直徑準(zhǔn)直器，可測(cè)量電子器件上更小的部位。提供改進(jìn)的CCD攝像頭及縮放裝置，同時(shí)提供更高精度的Y軸控制。

l          距離獨(dú)立測(cè)量（DIM） - 更靈活地特殊形狀樣品，可在DIM范圍內(nèi)12.5-90mm（0.5-3.5inch）對(duì)樣品表面進(jìn)行測(cè)量，Z軸可控制范圍為230mm（9inch）。可通過手動(dòng)調(diào)整也可以通過自動(dòng)鐳射聚焦來實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品的精確對(duì)準(zhǔn)。

l          自動(dòng)鐳射聚焦 - 自動(dòng)尋找振決的聚焦距離，改善DIM的聚焦過程并提高系統(tǒng)測(cè)量再現(xiàn)性。也可選擇標(biāo)準(zhǔn)的鐳射聚焦模式。

l          的大型樣品室 - 更大的開槽式樣品室（580x510x230mm : 23x20x9inch）,開槽式設(shè)計(jì)可容納超大尺寸的樣品？蓮母鱾(gè)方向簡(jiǎn)便的裝載和觀察樣品。

l          3種樣品臺(tái)選項(xiàng) - XY程控控制(200x200mm或8x8inch移動(dòng)范圍)/XY手動(dòng)控制（250x250mm或10x10英寸）/固定樣品臺(tái)；標(biāo)準(zhǔn)配置Z軸程控控制(230mm或9inch移動(dòng)范圍)。

l          內(nèi)置PC用戶界面　

 

技術(shù)參數(shù)

 

l          X射線激發(fā)和檢測(cè)

 

牛津儀器制造的100瓦(50kV-2.0mA)微焦點(diǎn)鎢靶X射線管

高分辨封氣(Xe)正比計(jì)數(shù)器可獲取的計(jì)數(shù)靈敏度，配合二次濾光器機(jī)構(gòu)實(shí)現(xiàn)的檢出效果

 

l          數(shù)字脈沖處理

 

4096通道數(shù)字多道分析器，數(shù)字光譜處理過程可獲取的信號(hào)采集(每秒計(jì)數(shù)量)，從而的測(cè)量統(tǒng)計(jì)結(jié)果

 

l          手動(dòng)或自動(dòng)透鏡控制

 

手動(dòng)透鏡控制：通過手動(dòng)調(diào)整DIM旋鈕控制分析聚焦距離

自動(dòng)透鏡控制：激光束自動(dòng)尋找DIM系統(tǒng)的分析聚焦距離

 

l          自由距離測(cè)定

 

簡(jiǎn)化系統(tǒng)設(shè)置和維護(hù)

在聚焦距離范圍內(nèi)僅需要一個(gè)校正

對(duì)不規(guī)則樣品更靈活的測(cè)量

在12.7mm-88.9mm的自由距離內(nèi)，可測(cè)量樣品表面的任何一點(diǎn)

通過DIM旋鈕或使用自動(dòng)激光聚焦功能，可快速、的確定聚焦距離

 

l          附帶自動(dòng)透鏡功能的自動(dòng)激光聚焦

 

獨(dú)特的、自動(dòng)樣品擺放系統(tǒng)

激光掃描單鍵啟動(dòng)

消除樣品碰擊Z軸的機(jī)會(huì)

改善DIM的聚焦過程

 

l          標(biāo)準(zhǔn)激光聚焦

 

標(biāo)準(zhǔn)激光聚焦功能在所要求的聚焦聚焦上，自動(dòng)尋找正確的Z軸位置，提高分析再現(xiàn)性，結(jié)果不受人為操作的影響

Z軸聚焦掃描單鍵啟動(dòng)

改善DIM和常規(guī)固定焦距測(cè)量時(shí)的聚焦過程

 

l          微小準(zhǔn)直器

 

儀器至少裝備一個(gè)客戶指定規(guī)格的準(zhǔn)直器以化測(cè)量，并提高測(cè)量效率

備有各種規(guī)格準(zhǔn)直器(0.015mm – 0.5mm),園形或矩形供客戶選用

多準(zhǔn)直器程序交換系統(tǒng)可同時(shí)安裝4個(gè)準(zhǔn)直器

 

l          大樣品室設(shè)計(jì)

 

方便超大樣品的推拉式平臺(tái)：如大面積PCB板、較長(zhǎng)的管材樣品

大型開發(fā)式樣品室：方便于從各方向進(jìn)樣和觀察樣品

三種樣品臺(tái)備選：可編程XY軸樣品臺(tái)、手動(dòng)XY軸樣品臺(tái)、固定位置樣品臺(tái)

標(biāo)準(zhǔn)配置自動(dòng)化Z軸：最大高度230mm

 

l          集成化計(jì)算機(jī)

 

工作站式設(shè)計(jì)：改善人機(jī)工程學(xué)、方便使用

簡(jiǎn)化設(shè)備安裝：僅需要接入主電源線，沒有其他電纜

減少整機(jī)占用空間

USB和Ethernet接口：打印機(jī)、刻錄機(jī)、局域網(wǎng)和遠(yuǎn)程在線支持功能

 

l          其他硬件特點(diǎn)

 

CCD相機(jī)擁有2x、3x或4x的變焦功能，可實(shí)現(xiàn)對(duì)測(cè)定樣品的高分辨、實(shí)時(shí)、彩色圖像觀測(cè)

溫度補(bǔ)償功能監(jiān)測(cè)系統(tǒng)溫度，并自動(dòng)校正由于溫度變化可能引起的儀器漂移，的儀器穩(wěn)定性

光譜校準(zhǔn)、單擊鼠標(biāo)執(zhí)行系統(tǒng)性能自檢和校正程序儀器的穩(wěn)定性

堅(jiān)實(shí)耐用的儀器設(shè)計(jì)適用于各種工業(yè)環(huán)境

一體化工作站設(shè)計(jì)實(shí)現(xiàn)的人機(jī)工程學(xué)

該公司產(chǎn)品分類： 超聲波測(cè)厚儀

X-Strata980X熒光鍍層測(cè)厚儀

X-Strata980X熒光鍍層測(cè)厚儀結(jié)合了大功率X射線管和高分辨率探測(cè)器，能夠滿足多鍍層、復(fù)雜樣品和微小測(cè)試面積的檢測(cè)需求。這款儀器的電制冷固態(tài)探測(cè)器確保的信/躁比，從而降低檢測(cè)下限。探測(cè)器分辨率極高，能更容易地識(shí)別、量化和區(qū)分相鄰的元素。有害元素檢測(cè)結(jié)果可精確到ppm級(jí)，確保產(chǎn)品滿足環(huán)保要求，幫助企業(yè)降低高昂的產(chǎn)品召回成本和法令執(zhí)行成本。您可以針對(duì)您的應(yīng)用選擇最合適的分析模型：經(jīng)驗(yàn)系數(shù)法、基本參數(shù)法或兩者結(jié)合。這款儀器能對(duì)電子產(chǎn)品上的關(guān)鍵組裝區(qū)域進(jìn)行快速篩選性檢測(cè)。一旦識(shí)別出問題區(qū)域，即可對(duì)特定小點(diǎn)進(jìn)行定量分析。大型樣品艙能夠靈活地檢測(cè)大件或形狀不規(guī)則的樣品，大艙門使樣品更易放入。X-Strata980X熒光鍍層測(cè)厚儀技術(shù)指標(biāo)
  • 100瓦X射線管 
  • 25mm2PIN 探測(cè)器
  • 多準(zhǔn)直器配置
  • 掃描分析及元素分布成像功能
  • 靈活運(yùn)用多種分析模型
  • 清晰顯示樣品合格/不合格
  • 超大樣品艙
  • 同時(shí)分析元素含量和鍍層厚度

CMI900X熒光鍍層測(cè)厚儀

CMI900 X熒光鍍層測(cè)厚儀

 

 

 

產(chǎn)品特點(diǎn)：

u 精度高、穩(wěn)定性好

u 強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能

u 測(cè)量范圍寬

u NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片

u 全球服務(wù)及支持

 

技術(shù)參數(shù)

主要規(guī)格

規(guī)格描述

X射線激發(fā)系統(tǒng)

垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)

空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W（4-50kV，0-1.0mA）－標(biāo)準(zhǔn)

      75W（4-50kV，0-1.5mA）－任選

裝備有安全防射線光閘

二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選

準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)

最多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器

多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：

－圓形，如4、6、8、12、20 mil等

－矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

測(cè)量斑點(diǎn)尺寸

在12.7mm聚焦距離時(shí)，最小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.078 x 0.055 mm（使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器）

在12.7mm聚焦距離時(shí)，最大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm（使用0.3mm準(zhǔn)直器）

樣品室

CMI900

CMI950

－樣品室結(jié)構(gòu)

開槽式樣品室

開閉式樣品室

－最大樣品臺(tái)尺寸

610mm x 610mm

300mm x 300mm

－XY軸程控移動(dòng)范圍

標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm

還有5種規(guī)格任選

300mm x 300mm

－Z軸程控移動(dòng)高度

43.18mm

XYZ程控時(shí)，152.4mm

XY軸手動(dòng)時(shí)，269.2mm

－XYZ三軸控制方式

多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制

－樣品觀察系統(tǒng)

高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。

激光自動(dòng)對(duì)焦功能

可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

計(jì)算機(jī)系統(tǒng)配置

IBM計(jì)算機(jī)

惠普或愛普生彩色噴墨打印機(jī)

分析應(yīng)用軟件

操作系統(tǒng)：Windows2000中文平臺(tái)

分析軟件包：SmartLink FP軟件包

－測(cè)厚范圍

可測(cè)定厚度范圍：取決于您的具體應(yīng)用。

－基本分析功能

采用基本參數(shù)法校正。牛津儀器將根據(jù)您的應(yīng)用提供必要的校正用標(biāo)準(zhǔn)樣品。

樣品種類：鍍層、涂層、薄膜、液體（鍍液中的元素含量）

可檢測(cè)元素范圍：Ti22 – U92

 

可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正

貴金屬檢測(cè)，如Au karat評(píng)價(jià)

 

材料和合金元素分析，

材料鑒別和分類檢測(cè)

液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量

多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較

元素光譜定性分析

－調(diào)整和校正功能

系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能，自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移

－測(cè)量自動(dòng)化功能

鼠標(biāo)激活測(cè)量模式：“PointShoot”

多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式：隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式、和重復(fù)測(cè)量模式

測(cè)量位置預(yù)覽功能

激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能

－樣品臺(tái)程控功能

設(shè)定測(cè)量點(diǎn)

連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量

測(cè)量位置預(yù)覽（圖表顯示）

－統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能

平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖

數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖

數(shù)據(jù)庫存儲(chǔ)功能

任選軟件：統(tǒng)計(jì)報(bào)告編輯器允許用戶自定義多媒體報(bào)告書

－系統(tǒng)安全監(jiān)測(cè)功能

Z軸保護(hù)傳感器

樣品室門開閉傳感器

操作系統(tǒng)多級(jí)密碼操作系統(tǒng)：操作員、分析員、工程師
       

 

行業(yè)：

CMI900X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測(cè)量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)，在質(zhì)量管理到不良品分析有著廣泛的應(yīng)用。

 

應(yīng)用：

用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器等多個(gè)行業(yè)。

 

該公司產(chǎn)品分類： 產(chǎn)品介紹 JAZ系列光譜儀 NIR近紅外光譜儀 QE65000系列光譜儀 maya2000系列光譜儀 HR4000系列光譜儀 USB2000系列光譜儀 海洋光學(xué)

900CMI900（X熒光鍍層測(cè)厚儀）

應(yīng)用

CMI900X射線熒光鍍層測(cè)厚儀，有著非破壞，非接觸，多層合金測(cè)量，高生產(chǎn)力，高再現(xiàn)性等優(yōu)點(diǎn)的

情況下進(jìn)行表面鍍層厚度的測(cè)量  ，從質(zhì)量管理到成本節(jié)約有著廣泛的應(yīng)用。

行業(yè)

用于電子元器件，半導(dǎo)體，PCB，汽車零部件，功能性電鍍，裝飾件，連接器……多個(gè)行業(yè)表面鍍層厚度的測(cè)量。

主要規(guī)格               規(guī)格描述

 X射線激發(fā)系統(tǒng)        垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

                       標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

                       功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn)

                             75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選

                             裝備有安全防射線光閘

                             二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選

 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)    最多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器

                       多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：

                       －圓形，如4、6、8、12、20 mil等

                       －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

測(cè)量斑點(diǎn)尺寸          在12.7mm聚焦距離時(shí)，最小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：

0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器)

                      在12.7mm聚焦距離時(shí)，最大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)

 樣品室

－樣品室結(jié)構(gòu)                開槽式樣品室

－最大樣品臺(tái)尺寸            610mm x 610mm

－XY軸程控移動(dòng)范圍         標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm還有5種規(guī)格任選

－Z軸程控移動(dòng)高度          43.18mm

－XYZ三軸控制方式         多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制

 －樣品觀察系統(tǒng)             高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。

                            （50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。）激光自動(dòng)對(duì)焦功能

                             可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

樣品種類：                   鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)

                             可檢測(cè)元素范圍：Ti22 – U92。可同時(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正

                             貴金屬檢測(cè)，如Au karat評(píng)價(jià)

                             材料和合金元素分析，材料鑒別和分類檢測(cè)

                             液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量

                             多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較元素光譜定性分析

－調(diào)整和校正功能             系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能，自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移

－測(cè)量自動(dòng)化功能             鼠標(biāo)激活測(cè)量模式：“Point and Shoot”多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式：隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復(fù)測(cè)量模式，測(cè)量位置預(yù)覽功能，激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能

－樣品臺(tái)程控功能             設(shè)定測(cè)量點(diǎn)，連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量，測(cè)量位置預(yù)覽

－統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能               平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖數(shù)據(jù)庫存儲(chǔ)功能

－系統(tǒng)安全監(jiān)測(cè)功能           Z軸保護(hù)傳感器，樣品室門開閉傳感器

●精度高、穩(wěn)定性好

●強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能

●測(cè)量范圍寬

●NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片

●全球服務(wù)及支持

980X熒光鍍層測(cè)厚儀ROHS檢測(cè)儀

主要規(guī)格               規(guī)格描述

 X射線激發(fā)系統(tǒng)        垂直上照式X射線光學(xué)系統(tǒng)空冷式微聚焦型X射線管，Be窗

                       標(biāo)準(zhǔn)靶材：Rh靶；任選靶材：W、Mo、Ag等

                       功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－標(biāo)準(zhǔn)

                             75W(4-50kV，0-1.5mA)－任選

                             裝備有安全防射線光閘

                             二次X射線濾光片：3個(gè)位置程控交換，多種材質(zhì)、多種厚度的二次濾光片任選

 準(zhǔn)直器程控交換系統(tǒng)    最多可同時(shí)裝配6種規(guī)格的準(zhǔn)直器

                       多種規(guī)格尺寸準(zhǔn)直器任選：

                       －圓形，如4、6、8、12、20 mil等

                       －矩形，如1x2、2x2、0.5x10、1x10、2x10、4x16等

測(cè)量斑點(diǎn)尺寸          在12.7mm聚焦距離時(shí)，最小測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：

0.078 x 0.055mm(使用0.025 x 0.05 mm準(zhǔn)直器)

                      在12.7mm聚焦距離時(shí)，最大測(cè)量斑點(diǎn)尺寸為：0.38 x 0.42 mm(使用0.3mm準(zhǔn)直器)

 樣品室              

－樣品室結(jié)構(gòu)                開槽式樣品室

－最大樣品臺(tái)尺寸            610mm x 610mm

－XY軸程控移動(dòng)范圍         標(biāo)準(zhǔn)：152.4 x 177.8mm還有5種規(guī)格任選

－Z軸程控移動(dòng)高度          43.18mm

－XYZ三軸控制方式         多種控制方式任選：XYZ三軸程序控制、XY軸手動(dòng)控制和Z軸程序控制、XYZ三軸手動(dòng)控制

 －樣品觀察系統(tǒng)             高分辨彩色CCD觀察系統(tǒng)，標(biāo)準(zhǔn)放大倍數(shù)為30倍。

                            （50倍和100倍觀察系統(tǒng)任選。）激光自動(dòng)對(duì)焦功能

                             可變焦距控制功能和固定焦距控制功能

樣品種類：                   鍍層、涂層、薄膜、液體(鍍液中的元素含量)

                             可檢測(cè)元素范圍：Ti22 – U92？赏瑫r(shí)測(cè)定5層/15種元素/共存元素校正

                             貴金屬檢測(cè)，如Au karat評(píng)價(jià)

                             材料和合金元素分析，材料鑒別和分類檢測(cè)

                             液體樣品分析，如鍍液中的金屬元素含量

                             多達(dá)4個(gè)樣品的光譜同時(shí)顯示和比較元素光譜定性分析

－調(diào)整和校正功能             系統(tǒng)自動(dòng)調(diào)整和校正功能，自動(dòng)消除系統(tǒng)漂移

－測(cè)量自動(dòng)化功能             鼠標(biāo)激活測(cè)量模式：“Point and Shoot”多點(diǎn)自動(dòng)測(cè)量模式：隨機(jī)模式、線性模式、梯度模式、掃描模式和重復(fù)測(cè)量模式，測(cè)量位置預(yù)覽功能，激光對(duì)焦和自動(dòng)對(duì)焦功能

－樣品臺(tái)程控功能             設(shè)定測(cè)量點(diǎn)，連續(xù)多點(diǎn)測(cè)量，測(cè)量位置預(yù)覽

－統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能               平均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差、相對(duì)標(biāo)準(zhǔn)偏差、最大值、最小值、數(shù)據(jù)變動(dòng)范圍、數(shù)據(jù)編號(hào)、CP、CPK、控制上限圖、控制下限圖，數(shù)據(jù)分組、X-bar/R圖表、直方圖數(shù)據(jù)庫存儲(chǔ)功能

－系統(tǒng)安全監(jiān)測(cè)功能           Z軸保護(hù)傳感器，樣品室門開閉傳感器

●精度高、穩(wěn)定性好

●強(qiáng)大的數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)、處理功能

●測(cè)量范圍寬

●NIST認(rèn)證的標(biāo)準(zhǔn)片

●全球服務(wù)及支持

湖北武漢十堰宜昌襄陽黃石X熒光鍍層測(cè)厚儀CMI900

CMI900 是一款性價(jià)比極高的臺(tái)式 X 射線熒光光譜儀，應(yīng)用于涂鍍層厚度測(cè)量及材料成分分析。  高性能X射線熒光光譜儀 快速精確的分析：正比計(jì)數(shù)探測(cè)器和50瓦微焦X射線管，大大提高了靈敏度  簡(jiǎn)單的元素區(qū)分：二次光束過濾器可以分離重疊元素  性能優(yōu)化，測(cè)量元素范圍廣： 可預(yù)設(shè)參數(shù) CMI900 提供800多種預(yù)設(shè)應(yīng)用參數(shù)/方法  杰出的長(zhǎng)期穩(wěn)定性：   自動(dòng)熱補(bǔ)償測(cè)量?jī)x器溫度，糾正變化，提供穩(wěn)定的結(jié)果  簡(jiǎn)單快速的光譜校準(zhǔn)，定期檢查儀器性能（如靈敏度），并提供必要的糾正  堅(jiān)固耐用的設(shè)計(jì) 可以在實(shí)驗(yàn)室或生產(chǎn)線上操作 堅(jiān)固的工業(yè)設(shè)計(jì)   經(jīng)行業(yè)驗(yàn)證的技術(shù)，在全球銷售量超過3000臺(tái) 

該公司產(chǎn)品分類： 德國馬爾Mahr 粗糙度儀 材料試驗(yàn) 無損測(cè)量 光譜儀光度計(jì) 圓度儀、粗糙度儀 影像測(cè)量?jī)x、投影儀 顯微鏡 三坐標(biāo)測(cè)量機(jī) 分析儀器 長(zhǎng)度計(jì)量 光學(xué)儀器

x熒光鍍層測(cè)厚儀

x熒光鍍層測(cè)厚儀產(chǎn)品應(yīng)用：
（1）電子行業(yè)：有效控制生產(chǎn)過程，提高生產(chǎn)力，分析電子件上的金和鈀的厚度，例如Au/Ni/Cu，Au/Pd/Ni/Cu，測(cè)量線路板上的可焊性，比如Ag/Cu/Epoxy。
（2）五金電鍍行業(yè)：電鍍表面處理的成本最小化，產(chǎn)量最大化，多樣品和多點(diǎn)分析，單層或多層厚度測(cè)量，鍍液成份分析。
（3）貴金屬/金屬合金：珠寶及其他合金的快速無損分析，黃金分析及其他元素測(cè)定，金屬合金檢測(cè)。
（4）一致性檢測(cè)：確保產(chǎn)品符合規(guī)格測(cè)定有害物質(zhì)從ppm級(jí)到高百分比級(jí)。
（5）有毒元素定量分析：例如檢測(cè)鎘、汞、鉛等含量是否符合規(guī)定，按照IEC62321進(jìn)行RoHS篩選。對(duì)航空焊料可靠性鑒定進(jìn)行高可靠檢測(cè)。
（6）新能源行業(yè)：確保產(chǎn)品有效一致，光電池薄膜吸收層（如CIS, CIGS, CdTe）的成份分析，通過鍍層厚度分析優(yōu)化導(dǎo)電性。
x熒光鍍層測(cè)厚儀由于X光測(cè)厚儀是在線測(cè)量?jī)x表，檢測(cè)的厚度是鋼板熱態(tài)時(shí)的厚度，這樣會(huì)和冷態(tài)時(shí)的厚度有一定的偏差，所以就增加了溫度補(bǔ)償系數(shù)。使在線測(cè)量的數(shù)據(jù)與冷態(tài)時(shí)保持一致。同樣如果軋制材質(zhì)有變化時(shí)，也會(huì)給測(cè)量帶來誤差。這時(shí)只需將不同材質(zhì)的樣板進(jìn)行檢測(cè)，計(jì)算出合金補(bǔ)償系數(shù)，也可以使測(cè)量數(shù)據(jù)和實(shí)際材質(zhì)厚度保持一致。
x熒光鍍層測(cè)厚儀精密度測(cè)試，精密度表示對(duì)同一個(gè)對(duì)象進(jìn)行多次測(cè)量，表征測(cè)試結(jié)果分散程度的物理量，它是一個(gè)與多次測(cè)試數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差有關(guān)的物理量。目前，對(duì)一組具有嵌套性或不具有嵌套性的數(shù)據(jù)的標(biāo)準(zhǔn)偏差求解問題的研究已經(jīng)相當(dāng)成熟，對(duì)測(cè)量設(shè)備精密度的研究可以轉(zhuǎn)化為對(duì)測(cè)量設(shè)備測(cè)試數(shù)據(jù)標(biāo)準(zhǔn)偏差的求解。使用成熟的數(shù)據(jù)處理方法研究比較新的高精度設(shè)備的精密度是一種簡(jiǎn)單可行而又科學(xué)的方法。
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