M-OG P.I.G.破壞式膜厚計(塑鋼外殼)
測試範圍 :No: 1 0 - 2500 um/ 一小格 20umNo: 2 0 - 1250 um /一小格 10umNo: 10 0 - 250 um /一小格 2um放大鏡 : 50倍(附光源)組 成 : 本體(含放大鏡,有刻劃)一臺 , 刮刀 , No: 1 , No: 2 , No:10 各一支 , 皮套一個 , 筆一支 , 乾電池二個廠 牌 : MICRO / 美國
測量方式 | 電磁式 | 渦流式 |
探頭型號 | LEP-J(Fe) | LHP-J(NFe) |
測量對象 | 磁性金屬(鐵、鋼)上非磁性涂鍍層 | 非磁性金屬(非鐵)上的絕緣層 |
測量范圍 | 0~2500um(99mils) | 0~1200um(47mils) |
測量精度 | <50um:±1um; 50~1000um:±2%; >1000um:±3% | |
分辨率 | <100um:0.1um; >1000um:±1um | |
存儲數(shù)據(jù) | 約3000個 | |
預存通道 | 電磁式和渦流式各50個,共計100個 | |
顯示方式 | LCD數(shù)顯 | |
數(shù)據(jù)輸出 | 連接電腦或打印機 | |
電源 | 5#電池×4個 | |
消費電量 | 80mW(不使用背光狀態(tài)下) | |
電池壽命 | 100小時(不使用背光狀態(tài)下連續(xù)使用的情況下) | |
室溫要求 | 0~40℃ | |
外形尺寸 | 主機:75(W)×145(D)×31(H), 340g | |
標準配置 | 鐵基體,非鐵基體,標準片,V型塊,主機皮套,電池×4個,使用說明書 | |
可選附件 | 標準片,專用臺架,軟件,數(shù)據(jù)線,探頭 |
測量方式 | 電磁式 | 渦流式 |
探頭型號 | LEP-J(Fe) | LHP-J(NFe) |
測量對象 | 磁性金屬(鐵、鋼)上非磁性涂鍍層 | 非磁性金屬(非鐵)上的絕緣層 |
測量范圍 | 0~2500um(99mils) | 0~1200um(47mils) |
測量精度 | <50um:±1um; 50~1000um:±2%; >1000um:±3% | |
分辨率 | <100um:0.1um; >1000um:±1um | |
存儲數(shù)據(jù) | 約3000個 | |
預存通道 | 電磁式和渦流式各50個,共計100個 | |
顯示方式 | LCD數(shù)顯 | |
數(shù)據(jù)輸出 | 連接電腦或打印機 | |
電源 | 5#電池×4個 | |
消費電量 | 80mW(不使用背光狀態(tài)下) | |
電池壽命 | 100小時(不使用背光狀態(tài)下連續(xù)使用的情況下) | |
室溫要求 | 0~40℃ | |
外形尺寸 | 主機:75(W)×145(D)×31(H), 340g | |
標準配置 | 鐵基體,非鐵基體,標準片,V型塊,主機皮套,電池×4個,使用說明書 | |
可選附件 | 標準片,專用臺架,軟件,數(shù)據(jù)線,探頭 |
330系列和200系列都有配備了無線探頭的衍生型號除探頭不同以外,其他都和使用有線探頭的型號一致
生產(chǎn)廠家:日本Kett公司
該系列包括LE-200J/LH-200J/LZ-200J三種型號
本儀器采用了磁性和渦流兩種測厚方法,可無損的測量磁性金屬基體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導電覆層的厚度(如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。內(nèi)置打印機,可打印數(shù)據(jù),有四個統(tǒng)計功能,可外接電腦。
LE-200J為電磁型/LH-200J為渦流型/LZ-200J為兩用型
生產(chǎn)廠家:日本Kett公司
該系列包括LE-900J/LH-900J/LZ-900J三種型號
900系列掌上型膜厚計,小巧、實用,用于無損、快速、精確的測量涂層、鍍層厚度。采用磁性和渦流兩種方式測量膜厚計。可無損的測量磁性金屬基體(如鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性覆層的厚度(如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等)及非磁性金屬基體(如銅、鋁、鋅、錫等)上的非導電覆層的厚度(如琺瑯、橡膠、油漆、塑料等)。
LE-900J為電磁型/LH-900J為渦流型/LZ-900J為兩用型
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