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顆粒度及Zeta電位分析儀

我們的粒度和Zeta電位分析儀器, 采用專(zhuān)利技術(shù)---多頻電聲學(xué)測(cè)量技術(shù)測(cè)量膠體體系的Zeta電位。對(duì)于高達(dá)50%(體積)濃度的樣品,無(wú)需進(jìn)行樣品稀釋或前處理即可直接測(cè)量。甚至對(duì)于漿糊、凝膠、水泥及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可用Zeta Probe 直接進(jìn)行測(cè)量。傳統(tǒng)方法要求稀釋樣品或進(jìn)行其它的樣品處理,既費(fèi)時(shí)又容易出錯(cuò),而專(zhuān)利的多頻電聲技術(shù)則可避免這些問(wèn)題。Zeta Probe 能直接在樣品的原始條件下測(cè)量zeta電位,允許樣品濃度高達(dá)50%(體積)。Zeta Probe結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊,外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動(dòng)滴定裝置可自動(dòng)、快速地判斷等電點(diǎn),可快速得到分散劑和絮凝劑。對(duì)粒度和雙電層失真進(jìn)行自動(dòng)校正。該儀器的軟件易于使用,通用性強(qiáng),非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。

產(chǎn)品特性1.能分析多種分散物的混合體 2.無(wú)需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點(diǎn) 3.可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系 4.可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾 5.可精確測(cè)量無(wú)水體系 6.Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù),無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量7.樣品的濃度可達(dá)50%(體積比),被測(cè)樣品無(wú)需稀釋?zhuān)瑢?duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量 8.具有自動(dòng)電位滴定功能

產(chǎn)品規(guī)格1.所檢測(cè)粒徑范圍款從5nm至 1000um hspace=02.可測(cè)量Zeta電位、超聲波頻率、電導(dǎo)率、PH、溫度、聲衰減、聲速、電聲信號(hào),動(dòng)態(tài)遷移率、等電點(diǎn)(IEP) 3.Zeta電位測(cè)量范圍:無(wú)限制, low surface charges (可低至0.1mv),高精度(±0.1mv) 4.Zero surface charge條件下也可測(cè)量粒徑 5.允許樣品濃度:0.1~50%(體積百分?jǐn)?shù)) 6.樣品體積:20-110ml(檢測(cè)粒徑),2-100ml(檢測(cè)Zeta電位)7.PH 范圍:0.5~13.5 8.電導(dǎo)率范圍:0.0001~10 S/m9.溫度范圍:< 50℃10.最大粘度:20,000厘泊11.電位滴定和體積滴定,滴定分辨率0.1μl

DT-1200高濃度膠體顆粒度及Zeta電位分析儀

主要特點(diǎn)

1.能分析多種分散物的混合體 2.無(wú)需依賴Double Layer 模式,精確地判定等電點(diǎn) 3.可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系 4.可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾 5.可精確測(cè)量無(wú)水體系 6.Zeta電位測(cè)試采用多頻電聲測(cè)量技術(shù),無(wú)需先測(cè)量粒度即可進(jìn)行電位測(cè)量 7.樣品的濃度可達(dá)50%(體積比),被測(cè)樣品無(wú)需稀釋?zhuān)瑢?duì)濃縮膠體和乳膠可進(jìn)行直接測(cè)量 8.具有自動(dòng)電位滴定功能

儀器介紹

高濃度膠體和乳液的特性參數(shù)檢測(cè)儀,測(cè)試:  粒徑、Zeta電位、滴定、電導(dǎo)等  此儀器容易使用、測(cè)量精確。對(duì)于高達(dá)50%(體積)濃度的樣品,也無(wú)需進(jìn)行稀釋或樣品前處理即可直接測(cè)量。甚至對(duì)于漿糊、凝膠、水泥以及用其它儀器很難測(cè)量的材料都可直接進(jìn)行測(cè)量。結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)緊湊,外置的Zeta電位滴定裝置(可選配).自動(dòng)滴定裝置可自動(dòng)、快速地判斷等電點(diǎn),可快速得到分散劑和絮凝劑。對(duì)粒度和雙電層失真進(jìn)行自動(dòng)校正。該儀器的軟件易于使用,通用性強(qiáng),非常適用于科研及工廠的優(yōu)化控制。  Dispersion Technology,Inc.         產(chǎn)品:                              應(yīng)用于:  DT-1200聲波和電聲波測(cè)量?jī)x        實(shí)驗(yàn)室中粒徑和Zeta電位及滴定、pH值測(cè)量  DT-100聲波測(cè)量?jī)x                 實(shí)驗(yàn)室中粒徑分析儀   DT-300Zeta電位探頭               實(shí)驗(yàn)室中Zeta電位分析  DT-400自動(dòng)膠體滴定               滴定、pH值、表面活性、鹽度等  分析軟件                         膠體科學(xué)領(lǐng)域的理論  典型應(yīng)用領(lǐng)域:       Aggregative Stability, 水泥漿, 陶瓷, 化學(xué)機(jī)械研磨, 煤漿, 涂料, 化妝品, 環(huán)境保護(hù)浮選法礦物富集, 食品工業(yè), 乳膠, 微乳, 混合分散體系, 納米粉, 無(wú)水體系, 油漆成像材料.  測(cè)量參數(shù):       粒子/液體的密度、液體的粘度、粒子的重量百分比、介電常數(shù)等參數(shù)。  優(yōu)于光學(xué)方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):       1、被測(cè)樣品無(wú)需稀釋       2、排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾       3、不需定標(biāo)       4、能分析多種分散物的混合體       5、高精度       6、所檢測(cè)粒徑范圍款從5nm至 1000um  優(yōu)于electroactics方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):       1、無(wú)需定標(biāo)       2、能測(cè)更寬的粒徑范圍       3、無(wú)需依賴Double Layer 模式       4、不需依賴(electric surface properties)電表面特性       5、Zero surface charge條件下也可測(cè)量粒徑       6、可適用于無(wú)水體系       7、可適用于高導(dǎo)電(highly conducting)體系  優(yōu)于微電泳方法的技術(shù)優(yōu)勢(shì):       1、無(wú)需稀釋?zhuān)毯扛哌_(dá)50%       2、可排除雜質(zhì)及對(duì)樣品污染的干擾       3、高精度(±0.1mv)       4、low surface charges (可低至0.1mv)        5、electrosmotic flow 不影響測(cè)量       6、對(duì)流(convection)不影響測(cè)量       7、可精確測(cè)量無(wú)水體系

Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀

     作為最先將背向光散射技術(shù)(Back-Scattering)引入高濃度粒度分析的廠家,Brookhaven公司應(yīng)用全新的光纖技術(shù)將背向光散射技術(shù)與傳統(tǒng)動(dòng)態(tài)光散射技術(shù)進(jìn)行了完美結(jié)合,突破性地推出了結(jié)合15°、90°與173°三個(gè)散射角度與硬件PALSPhase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術(shù)的Omni多角度粒與高靈敏度Zeta電位分析儀。隨著Omni的出現(xiàn),突破了傳統(tǒng)單角度光散射儀測(cè)量的局限性,實(shí)現(xiàn)在同一臺(tái)粒度分析儀中,既可以同時(shí)兼顧大、小顆粒的散射光信號(hào),又可以有效地提高了測(cè)量濃度上限,最高可達(dá)40%wt;硬件PALS技術(shù)(與傳統(tǒng)基于頻移技術(shù)的光散射方法相比,靈敏度可提高1000倍)的應(yīng)用,徹底解決了長(zhǎng)期以來(lái)無(wú)法對(duì)諸如在低介電常數(shù)、高粘度、高鹽度以及等電點(diǎn)附近這些測(cè)量條件下(電泳遷移率比通常水相條件下低101000倍,傳統(tǒng)方法沒(méi)有足夠的分辨率進(jìn)行測(cè)量)的樣品進(jìn)行分析的難題。Omni是目前市場(chǎng)上功能最強(qiáng)大的粒度與Zeta電位分析儀。

 

NanoBrook產(chǎn)品系列

 

項(xiàng)目

173

173Plus

Omni

ZetaPALS

功 能

粒度測(cè)量功能

分子量測(cè)量功能

Zeta電位測(cè)量功能

技 術(shù) 參 數(shù)

散射角

15°與173°

15°、90°與173°

粒度范圍

0.3nm-10μm

分子量測(cè)定范圍

3422×107Dalton

相關(guān)器

4×522個(gè)物理通道,4×1011個(gè)線性通道

Zeta電位適用粒度范圍

1nm100μm

Zeta電位范圍

500mV500mV

電導(dǎo)率范圍

0-30S/m

電泳遷移率范圍

10-1110-7m2/V.s

電極

開(kāi)放式永久型電極

系 統(tǒng) 參 數(shù)

溫控范圍與精度

5110℃,±0.1

激光源

35mW光泵半導(dǎo)體激光器

檢測(cè)器

PMTAPD

分析軟件

Particle Solution粒度與Zeta電位分析軟件

大小及重量

233mmH)×427mmW)×481mmD),15kg

選 件

BI-ZTU自動(dòng)滴定儀

可對(duì)PH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖

BI-870介電常數(shù)儀

直接測(cè)量溶劑的介電常數(shù)值

BI-SV10粘度計(jì)

用于測(cè)量溶劑及溶液的粘度

●代表“有” ○代表“無(wú)”

 

 

典型應(yīng)用

 

   蛋白、免疫球蛋白、縮氨酸、DNA、RNA、膠束

   脂質(zhì)體、外切酶體及其他生物膠體

   多糖、藥物制備

   納米顆粒、聚合物膠乳、微乳液

   油包水、水包油體系

   涂料、顏料、油漆、油墨、調(diào)色劑

   食品、化妝品配方

   陶瓷、耐火材料、廢水處理、炭黑

 

ZetaPALS測(cè)定電泳遷移率 單位 10 -8m2 /V·s)

樣品 

PALS 結(jié)果 

文獻(xiàn)值 

備注

NIST 1980

2.51 ± 0.11

2.53 ± 0.12

標(biāo)準(zhǔn)樣品電泳遷移率

Blood Cells

-1.081 ± 0.015

-1.08 ± 0.02

分散于生理鹽水

Fe 2O3

0.013 ± 0.0015

N.A.

分散于十二烷

TiO2

0.255 ± 0.010

N.A.

分散于甲苯(非脫水)

TiO2

0.155 ± 0.011

N.A.

分散于甲苯(脫水)

TiO2

-0.503 ± 0.0015

N.A.

分散于乙醇

Casein

-0.025 ± 0.002

N.A.

分散于PEG(粘性)

SiO2

-0.73 ± 0.04

N.A.

分散于 2.0 M KCl(高鹽濃度)

 

應(yīng)用案例

 不同粒徑對(duì)Zeta電位等電點(diǎn)的影響       不同官能團(tuán)配比對(duì)等電點(diǎn)的影響        Zeta電位值與細(xì)胞吸收度的關(guān)系

    通過(guò)調(diào)整顆粒的粒徑或正負(fù)電荷官能團(tuán)的比例,混合電荷修飾的納米金顆粒其等電點(diǎn)可以在47之間明顯的變化,不同比例的官能團(tuán)和顆粒的靜電荷對(duì)動(dòng)物細(xì)胞吸收度有著重大影響。(數(shù)據(jù)摘自JACS

技術(shù)參數(shù)

 

適用粒度范圍:粒度:0.3nm10μm(與折射率,濃度,散射角有關(guān));Zeta電位:1nm100μm

樣品濃度范圍:0.1ppm40%w/v(與顆粒大小和折射率有關(guān)

典型精度:粒度:1%;Zeta電位:3

樣品類(lèi)型:蛋白、納米粒子、聚合物及分散于水或其他溶劑中的膠體樣品

樣品體積:粒度:13ml,50μL微量樣品池,10μL微量樣品池(最新);Zeta電位:0.181.5 ml

分子量測(cè)定范圍:3422×107Dalton

Zeta電位范圍:-500mV500mV

電導(dǎo)率范圍:030S/m

電泳遷移率范圍:10-11  10-7 m2 /V.s

電場(chǎng)強(qiáng)度:0  60 kV/m

電極:永久性開(kāi)放式電極,電極材料純鈀;耐腐蝕電極(選件);微量電極(選件)

溫控范圍與精度:-5℃~110℃,±0.1℃。

pH測(cè)量范圍:1-14

激光源:35mW光泵半導(dǎo)體激光器(可選5mW He-Ne激光器)

檢測(cè)器:高靈敏雪崩型二極管(APD

相關(guān)器:4×522個(gè)物理通道,4×1011個(gè)線性通道,采用動(dòng)態(tài)采樣時(shí)間及動(dòng)態(tài)延遲時(shí)間分配

自動(dòng)趨勢(shì)分析:對(duì)時(shí)間、溫度及其他參數(shù)

散射角:15°、90°與173°

室溫操作情況:10°C  75°C,濕度 0% 95%, 無(wú)冷凝

大小及重量:233mm (H) x 427 mm (W) x 481 mm (D),15 kg

電源:100/115/220/240 VAC, 50/60 Hz, 300 W

計(jì)算機(jī)(選件):商用計(jì)算機(jī),包括WindowTM軟件

自動(dòng)滴定儀(選件):獨(dú)立四泵驅(qū)動(dòng),可對(duì)pH值、電導(dǎo)率和添加劑濃度作圖

該公司產(chǎn)品分類(lèi): 光散射系統(tǒng) 粒度及Zeta電位測(cè)量 TurboCorr數(shù)字相關(guān)器 Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀 NanoDLS高靈敏在線粒度分析儀 FOQELS高濃度粒度分析儀 BI-XDC圓盤(pán)式離心沉降粒度儀 BioDLS高通量自動(dòng)化粒度分析儀 BI-DCP圓盤(pán)式離心沉降粒度儀 ACOS實(shí)時(shí)在線粒度檢測(cè)系統(tǒng) 173Plus多角度粒度分析儀 90Plus亞微米激光粒度分析儀 BI-ZTU自動(dòng)滴定儀 BI-870介電常數(shù)測(cè)定儀 Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀 90Plus Zeta型Zeta電位及粒度分析儀 90Plus PALS高靈敏度Zeta電位及粒度分析儀 BI-2010/2020粘度檢測(cè)器 BI-DNDC示差折射儀 BI-MwA多角度激光光散射(絕對(duì)分子量測(cè)定)儀

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