厚度測量儀專場,厚度測量儀商家多、資料全面第7組

BX610-T-112防腐層測厚儀,鍍層厚度測量儀

產品特點：

* 具有自動識別被測基體的材質。

* 有單次和連續(xù)兩種測量方式可選。

* 操作過程中有蜂鳴器提示音，連續(xù)測量時蜂鳴器不發(fā)聲。

* 采用USB數據線輸出與PC通訊。

* 提供藍牙Bluetooth數據輸出選擇。

主要內容：

防腐層測厚儀是一種便攜式測量儀，它能快速、無損傷、精密地進行涂、鍍層厚度的測量；既可用于實驗室，也可用于工程現場；廣泛地應用在制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測域；是材料保護專業(yè)德杜的儀器。

技術參數：

分辨率	0.01mm / 0.1mm
準確度	±（1~3%n)或±0.2mm
測試范圍	0~12mm（測量范圍可定制）
測量方法	F磁感應
操作條件	溫度-5~50°C 濕度＜95%RH
電源	4x1.5AAA 7號電池
主機尺寸	140x70x30mm
主機重量	130g （不含電池）

產品配件

標準配件	主機
	鐵基（1塊）
	校準膜片（1套）
	測量傳感器
	手提便攜箱
	操作說明書
可選配件	USB數據線輸出
可選配件	藍牙Bluetooth數據輸出

該公司產品分類：測氡儀氧氣檢測儀氫氣氣體檢測報警儀氣體檢測報警儀熏蒸氣體檢測儀空氣質量檢測儀垃圾場有毒有害氣體測試儀酒精測試儀有毒氣體檢測儀甲烷檢測儀可燃氣體檢測儀/探測儀復合氣體檢測儀顯微鏡苯檢測儀揮發(fā)性有機氣體測試儀臭氧檢測分析儀甲醛檢測分析儀二氧化硫檢測儀檢測儀氨氣檢測儀

MTSY-8型陶瓷磚厚度測量儀簡介

MTSY-8型陶瓷磚厚度測量儀

一、概述

陶瓷磚厚度測量儀用于測量普通量具無法測量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器，也可用于測量其它材料（如大理石板材、石膏板材等）產品厚度的測量。該測厚儀采用百分表進行測量，具有精度高、讀數準確、操作簡便、攜帶方便等優(yōu)點，是有關生產廠家與質檢單位的良好儀器。

二、技術參數

1.測厚儀的精度：±0.1mm

2.測厚儀的測量范圍：

規(guī) 格	最大測量范圍（長×寬）	最大測量厚度
CHD-1000	1000×1000mm	25 mm
CHD-600	600×600 mm	18 mm

該公司產品分類：隔墻板測試儀器系列玻璃瓶巖石系列陶瓷磚檢測系列波紋管檢測系列瀝青混凝土測試儀器系列壓力機萬能機類系列土工試驗儀器系列涂料陶瓷磚瓦實驗儀器系列試驗箱系列試模系列篩具振篩機系列瀝青系列混凝土，水泥，砂漿實驗儀器系列公路鐵路檢測系列水利水電粗粒土試驗儀器系列微機伺服控制電子萬能試驗機系列土工合成材料測試儀器系列建筑節(jié)能材料測試儀器系列建筑防水材料測試儀器系列

CHD-600陶瓷磚厚度測量儀

產品簡介：

CHD型陶瓷磚厚度測量儀（以下簡稱測厚儀）是用于測量普通量具無法測量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器，也可用于測量其它材料（如大理石板材、石膏板材等）產品厚度的測量。該測厚儀采用百分表進行測量，具有精度高、讀數、操作簡便、攜帶方便等優(yōu)點，是有關生產廠家與質檢單位的良好儀器。

主要技術參數

1.測厚儀的精度：±0.1mm

2.測厚儀的測量范圍：

規(guī) 格	最大測量范圍（長×寬）	最大測量厚度
CHD-1000	1000×1000mm	25 mm
CHD-600	600×600 mm	18 mm

空間分辨率達50微米晶圓厚度測量儀

晶圓測厚儀,晶圓厚度測試儀,硅片測厚儀,硅片厚度測量儀采用非接觸式測量方法，對晶圓的厚度和表面形貌進行測量，可廣泛用于：MEMS，晶圓，電子器件，膜厚，激光打標雕刻等工序或器件的測量。更多表面殘留檢測儀器請瀏覽：http://www.f-lab.cn/surface-residue.html中國領先的進口精密儀器供應商！

Email: info@felles.cn 或 felleschina@outlook.comWeb: www.felles.cn （激光光學精密儀器網） www.felles.cc （綜合性尖端測試儀器網） www.f-lab.cn （綜合性實驗室儀器網）

該晶圓測厚儀,晶圓厚度測量儀,硅片測厚儀,硅片厚度測量儀專業(yè)為掩膜，劃線的晶圓，粘到藍寶石或玻璃襯底上的晶圓等各種晶圓的厚度測量而設計，同時，還適合50-300mm 直徑的晶圓的表面形貌測量。

該晶圓測厚儀,晶圓厚度測量儀,硅片測厚儀,硅片厚度測量儀采用紅外干涉技術，能夠精確給出襯底厚度和厚度變化（TTV），也能實時給出超薄晶圓的厚度（掩膜過程中的晶圓），非常適合晶圓的研磨、蝕刻、沉淀等應用。這種紅外干涉技術具有獨特優(yōu)勢，諸多材料例如，Si, GaAs, InP, SiC, 玻璃，石英以及其他聚合物在紅外光束下都是透明的，非常容易測量，標準的測量空間分辨率可達50微米，更小的測量點也可以做到。

該晶圓測厚儀,晶圓厚度測量儀,硅片測厚儀,硅片厚度測量儀具有探針系統(tǒng)配件，使用該探針系統(tǒng)后，可以高精度地測量圖案化晶圓,帶保護膜的晶圓, 鍵合晶圓和帶凸點晶圓（植球晶圓），wafers with patterns, wafer tapes,wafer bump or bonded wafers 。

該晶圓測厚儀,晶圓厚度測量儀,硅片測厚儀,硅片厚度測量儀直接而精確地測量晶圓襯底厚度和厚度變化TTV，同時該晶圓測厚儀能夠測量晶圓薄膜厚度，硅膜厚度（membrane thickness）和凸點厚度（wafer pump height）.，溝槽深度（trench depth）.詳情瀏覽：http://www.f-lab.cn/surface-residue.html孚光精儀是全球領先的進口科學儀器和實驗室儀器領導品牌服務商，產品技術和性能保持全球領先,擁有包括表面殘留檢測儀器在內的全球最為齊全的實驗室和科學儀器品類，世界一流的生產工廠和極為苛刻嚴謹的質量控制體系，確保每個一產品是用戶滿意的完美產品。我們海外工廠擁有超過3000種儀器的大型現代化倉庫，可在下單后12小時內從國外直接空運發(fā)貨，我們位于天津保稅區(qū)的進口公司眾邦企業(yè)（天津)國際貿易公司為客戶提供全球零延誤的進口通關服務。

該公司產品分類：成像光譜儀 X射線衍射儀激光晶體和器件翹曲度形貌儀

Thick800a電鍍層厚度測量儀

電鍍層厚度測厚儀根據測量原理般有以下五種類型:

1）磁性測厚法:適用導磁材料上的非導磁層厚度測量.導磁材料般為:鋼\\鐵\\銀\\鎳.此種方法測量精度高,FT220涂層測厚儀

2）渦流測厚法:適用導電金屬上的非導電層厚度測量.此種方法較磁性測厚法精度高，NT230涂層測厚儀。

3）超聲波測厚法:目前內還沒有用此種方法測量涂鍍層厚度的,外個別廠家有這樣的儀器,適用多層涂鍍層厚度的測量或則是以上兩種方法都無法測量的場合.但般價格昂貴，測量精度也不高.

4）電解測厚法:此方法有別于以上三種,不屬于無損檢測,需要破壞涂鍍層.般精度也不高.測量起來較其他幾種麻煩

5）X射線測厚法:此種儀器價格非常昂貴（般在十幾萬RMB以上）,適用于些特殊場合.

性能特點

1、上照式

2、測試組件可升降

3、高精度移動平臺

4、小準直器

5、高分辨率探頭

6、可視化操作

7、自動定位高度

8、自動尋找光斑

9、鼠標定位測試點

10、良好的射線屏蔽

11、超大樣品腔設計

12、測試口安防護

性能特點

滿足各種不同厚度樣品以及不規(guī)則表面樣品的測試需求

φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求

高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm

采用高度定位激光，可自動定位測試高度

定位激光確定定位光斑，確保測試點與光斑對齊

鼠標可控制移動平臺，鼠標點擊的位置就是被測點

高分辨率探頭使分析結果更加

良好的射線屏蔽作用

測試口高度敏感性傳感器保護

技術指標

型號：Thick 800A

元素分析范圍從硫(S)到鈾（U）。

同時可以分析30種以上元素，五層鍍層。

分析含量般為ppm到99.9% 。

鍍層厚度般在50μm以內（每種材料有所不同）

任意多個可選擇的分析和識別模型。

相互獨立的基體效應校正模型。

多變量非線性回收程序

度適應范圍為15℃至30℃。

電源: 交流220V±5V, 建議配置交流凈化穩(wěn)壓電源。

外觀尺寸： 576(W)×495(D)×545(H) mm

樣品室尺寸：500(W)×350(D)×140(H) mm

重量：90kg

標準配置

開放式樣品腔。

精密二維移動樣品平臺，探測器和X光管上下可動，實現三維移動。

雙激光定位裝置。

鉛玻璃屏蔽罩。

Si-Pin探測器。

信號檢測電子電路。

高低壓電源。

X光管。

高度傳感器

保護傳感器

計算機及噴墨打印機

應用領域

黃金，鉑，銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測.

金屬鍍層的厚度測量, 電鍍液和鍍層含量的測定。

主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè)；銀行，首飾銷售和檢測機構；電鍍行業(yè)。

該公司產品分類： ROHS2.0新增4項鄰苯檢測儀熱流儀環(huán)保檢測儀合金礦石土壤檢測儀土壤重金屬檢測儀手持式合金分析儀 X射線熒光光譜儀全元素分析儀冶金冶煉鋼鐵有色金屬X熒光光譜元素分析儀 X熒光光譜儀鍍層/膜厚測厚儀 ROHS檢測儀網格化空氣質量監(jiān)測系統(tǒng)EAQM-100S 大氣顆粒物在線分析儀EPM 1050 水質綜合毒性分析儀 BIO3000 揚塵噪聲在線監(jiān)測儀 EAD-100系列手持式拉曼光譜儀Raman SK100 珠寶玉石檢測儀 UVN5000 大氣顆粒物在線分析儀 EPM-2050 比色法分析儀器 WAOL 紅外光譜儀 IR

CHY-10塑料薄膜厚度測量儀（千分或百分測量）

商品描述：

一、設備名稱：塑料薄膜厚度測量儀（千分或百分測量）型號：CHY-10

二、設備用途: 本儀器是采用高精度數顯千分表測量塑料薄膜及薄片的專用儀器。具有測量精度高、數據穩(wěn)定等特點，同時還可進行英吋和毫米之間變換。

三、主要技術指標: 1測量精度： 0.001mm/0.0005″ 2測量范圍： 0―10mm/0.2″

四、安裝方法: 1將底座從包裝中拿出,放于平穩(wěn)平面上. 2調整調整螺釘,使其處于水平位置. 3將千分表取出安裝在千分表支架上,并調整好上下測量塊,使其間隙為零. 4將千分表支架安裝在底座上的固定槽內,并用鎖緊手柄鎖緊.

五、使用方法：用鋼絲軸將千分表測量頭抬起幾次后,將千分表值清零（按千分表上的”0”鈕）.然后將測量頭抬起,把被測試樣放在下測量面上，將測量頭放下，這時千分表上的值即為被測試樣厚度值.（如果沒有試樣時,表上仍有讀數,則看測量面上是否有臟東西,如有則用柔軟干凈的布將其擦掉,如果沒有則直接按千分表”0”鈕清零即可。

該公司產品分類：智能鞋覆膜機XT-46A 智能鞋覆膜機XT-46B 智能鞋覆膜機XT-46B(I) 智能鞋覆膜機XT-46B(II) 智能鞋覆膜機(鞋套機)XT-46C 坤昱智能鞋底覆膜機(鞋套機) 聯系林先生05925508263 昆山舒美超聲波清洗器系列福建總代中科美菱低溫保存箱/低溫冰箱昆山舒美超聲波清洗器系列海爾超低溫冰箱系列上海美譜達紫外/可見分光光度計福建總代理鼓風干燥箱系列實驗室通用儀器奧豪斯電子天平/臺稱/快速水分儀系列芬蘭百得移液器系列/總代理

山東棗莊標智GM130超聲波測厚儀厚度儀厚度測量儀

超聲波測厚儀是根據超聲波脈沖反射原理來進行厚度測量的，當探頭發(fā)射的超聲波脈沖通過被測物體到達材料分界面時，脈沖被反射回探頭通過精確測量超聲波在材料中傳播的時間來確定被測材料的厚度。凡能使超聲波以一恒定速度在其內部傳播的各種材料均可采用此原理測量

*測量范圍：1.0~300毫米（鋼）

*精確度：±（1%H+0.1）毫米

*分辨率：0.01mm

*聲速范圍：1000~9999m/s

*工作頻率：5MHz

*管材測量下限：

Φ10mm探頭：Φ20*3mm（鋼）

Φ6mm探頭：Φ12*2mm（鋼）

*自動校對零點，可對系統(tǒng)誤差進行修正

*線性自動補償，在全范圍內利用計算機軟件對探頭非線性誤差進行修正，以提高準確度

*數據儲存/數據查詢/數據刪除功能

*測量聲速：根據樣塊厚度直接測出其聲速

*公英制轉換

*低電指示功能

*自動關機功能

*LCD背光燈功能

*保修期：12個月

*包裝方式：彩盒+PP工具盒

*電源：3節(jié)1.5V AAA電池

*產品凈重：230克

*產品尺寸：70*145*28毫米

本測厚儀采用脈沖反射超聲波測量原理，適用于超聲波能以一恒定速度在其內部傳播,并能從其背面得到反射的各種材料厚度的測量。此儀器可對各種板材和各種加工零件作精確測量�？蓮V泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。

濟南興拓檢測儀器有限公司(www.xingtuo1718.com)是“科電”產品駐山東辦事處。借鑒國內外儀器行業(yè)的先進經驗和技術,追求人有我優(yōu)、人無我有的市場競爭理念;經過多年的發(fā)展已陸續(xù)推廣多種儀器。檢測儀器產品包含:里氏硬度計、洛氏硬度計、地下管道尋線儀,埋地管道防腐層探測檢漏儀、粗糙度儀、涂層測厚儀、超聲波測厚儀、測振儀、紅外測溫儀、超聲波探傷儀等近百種產品;公司代理英國易高、英國雷迪、美國華瑞等十多余大類三百多種國內外知名品牌儀器儀表產品。

我司主營經營：地下管線探測儀，防腐層探測檢漏儀、里氏硬度計、洛氏硬度計、粗糙度儀、涂層測厚儀、超聲波測厚儀、測振儀、紅外測溫儀、超聲波探傷儀等近百種產品；公司代理英國易高、英國雷迪、美國華瑞等十多余大類三百多種國內外知名品牌儀器儀表產品。

銷售區(qū)域：

北京，天津，重慶，四川，成都，山西，太原，遼寧，沈陽，吉林，長春，黑龍江，哈爾濱，江蘇，南京，浙江，杭州，安徽，合肥，福建，福州，江西，南昌，山東，河南，鄭州，湖北，武漢，十堰，湖南，長沙，廣東，廣州，深圳，廣西，南寧，海南，�？�，貴州，貴陽，云南，昆明，西藏，拉薩，陜西，西安，甘肅，蘭州，青海，西寧，寧夏，銀川，新疆，烏魯木齊，濟南，青島，淄博，棗莊，東營，煙臺，濰坊，濟寧，泰安，威海，日照，萊蕪，臨沂，德州，聊城,濱州，菏澤

該公司產品分類：測速儀測振儀煙氣分析儀電纜故障測試儀電纜測試儀鹵素水分測試儀顯微鏡千/萬分之一天平數字酸度計數字電導率儀雙光束紫外可見分光光度計可見光分光光度計分光光度計工業(yè)底片觀片燈埋地管線檢測儀里氏硬度計新管道檢漏儀黑白密度計新個人劑量儀器鍍涂層測厚儀

MTSY-8型陶瓷磚厚度測量儀

用于測量普通量具無法測量的大尺寸陶瓷磚厚度的儀器，也可用于測量其它材料（如大理石板材、石膏板材等）產品厚度的測量。該測厚儀采用百分表進行測量，具有度高、讀數、操作簡便、攜帶方便等優(yōu)點，是有關生產廠家與質檢單位的良好儀器。

技術參數

1.測厚儀的度：±0.1mm

2.測厚儀的測量范圍：

規(guī) 格	測量范圍（長×寬）	測量厚度
CHD-1000	1000×1000mm	25 mm
CHD-600	600×600 mm	18 mm

MTSY-8型陶瓷磚厚度測量儀

技術參數

1.測厚儀的度：±0.1mm

2.測厚儀的測量范圍：

規(guī) 格	測量范圍（長×寬）	測量厚度
CHD-1000	1000×1000mm	25 mm
CHD-600	600×600 mm	18 mm

該公司產品分類：安全網系列保溫材料壓縮性能試驗機導熱系數綜合測試儀保溫砂漿拉力試驗機巖石耐崩解試驗儀巖石膨脹力儀巖石彈性模量試驗機天然飾面石材抗折機石材耐磨試驗機數顯應力直剪儀便攜式直剪儀巖石滲透儀巖石點荷載儀巖石側向約束膨脹率試驗儀巖石自由膨脹率試驗儀巖石壓入硬度計微機控制巖石抗壓剪試驗機巖石單軸抗壓強度試驗機微機控制電液伺服巖石三軸試驗機恢復系數測定儀

STF-110X射線熒光鍍層厚度測量儀STF-110

品名	X射線熒光鍍層厚度測量儀STF-110

型號

SFT-110

概要	1.即放即測！2.10秒鐘完成50nm的極薄金鍍層測量！3.可無標樣測量！4.通過樣品整體圖像更方便選擇測量位置！

特長

［SFT-110的主要特征］ 1. 通過自動定位功能提高操作性測量樣品時，以往需花費約10秒的樣品對焦，現在3秒內即可完成，大大提高樣品定位的操作性。 2. 微區(qū)膜厚測量精度提高通過縮小與樣品間的距離等，致使在微小準直器（0.1、0.2mm）下，也能夠大幅度提高膜厚測量的精度。 3. 多達5層的多鍍層測量使用薄膜FP法軟件，即使沒有厚度標準片也可進行多達5層10元素的多鍍層測量。 4. 廣域觀察系統(tǒng)（選配）可從最大250×200mm的樣品整體圖像指定測量位置。 5. 對應大型印刷線路板（選配）可對600×600mm的大型印刷線路板進行測量。 6. 低價位與以往機型相比，既提高了功能性又降低20%以上的價格。

［主要產品規(guī)格］
檢測器	比例計數管
X射線源	空冷式小型X射線管
準直器	0.1、0.2mmφ2種
樣品觀察	CCD攝像頭
樣品臺移動量	250（X）×200（Y）mm
樣品最大高度	150mm

該公司產品分類：手持式熒光分析儀鍍層測厚儀熒光分析儀

鍍層厚度測量儀

1.電動的X/Y 桌可以在測量門打開時變速移動X/Y 桌出來給操作員放置樣品及關閉測量門時移動X/Y 桌變速返回到測量位置。

2.高解像彩色攝影機配合強大的放大倍數功能使樣品的對位十分容易及在測量中也可以監(jiān)視測量的位置。如型號配備了可編測量位置的儀器更有雷射對位裝置來更快速及準確對準樣品的位置測量。

3.開槽式的測量室設計，這可使大塊及平坦的樣品，比測量室還大的，例如：電路板，也可以測量。

4.在整體操作上，在簡易操作及強大功能的電腦WinFTM?軟件下，所有的測量數據的統(tǒng)計可以十分清楚地表達出來。

5.符合美國的出口規(guī)定，軟件是儀器的基本操作.此軟件可以同時間測量最多至四層鍍層、或是進行多至5元素的合金分析、又或是最多測量兩個正離子的藥水濃度測量分析。

6.在不使用標準片做校正的情況下，可以達至一個相當不錯的測量結果。

7.測量的準確度是可以用標準片校正來提高，程式是可以接受多至64個標準片來做校正，標準片校正也可以保證測量可以有追溯性。

鍍層厚度測量儀由于X光測厚儀是在線測量儀表，檢測的厚度是鋼板熱態(tài)時的厚度，這樣會和冷態(tài)時的厚度有一定的偏差，所以就增加了溫度補償系數。使在線測量的數據與冷態(tài)時保持一致。同樣如果軋制材質有變化時，也會給測量帶來誤差。這時只需將不同材質的樣板進行檢測，計算出合金補償系數，也可以使測量數據和實際材質厚度保持一致。

鍍層厚度測量儀精密度測試，精密度表示對同一個對象進行多次測量，表征測試結果分散程度的物理量，它是一個與多次測試數據的標準偏差有關的物理量。目前，對一組具有嵌套性或不具有嵌套性的數據的標準偏差求解問題的研究已經相當成熟，對測量設備精密度的研究可以轉化為對測量設備測試數據標準偏差的求解。使用成熟的數據處理方法研究比較新的高精度設備的精密度是一種簡單可行而又科學的方法。

聯系人: 舒翠

手機: 13602568074

電話:

傳真:

郵箱: sc@kinglinhk.net

地址: 寶安區(qū)沙井北環(huán)大道110號新橋綜合大樓502

該公司產品分類：膜厚儀

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BX610-T-112防腐層測厚儀,鍍層厚度測量儀

MTSY-8型陶瓷磚厚度測量儀簡介

CHD-600陶瓷磚厚度測量儀

空間分辨率達50微米晶圓厚度測量儀

Thick800a電鍍層厚度測量儀

CHY-10塑料薄膜厚度測量儀（千分或百分測量）

山東棗莊標智GM130超聲波測厚儀厚度儀厚度測量儀

MTSY-8型陶瓷磚厚度測量儀

STF-110X射線熒光鍍層厚度測量儀STF-110

鍍層厚度測量儀

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