一、產(chǎn)品概述:
OU1500型超聲波測厚儀是我公司最新推出的小型數(shù)字化雙顯測厚儀,利用嵌入式高速單片機技術及優(yōu)質(zhì)進口工業(yè)級電子元器件組裝調(diào)試而成。采用液晶顯示測量厚度值,并且同時顯示聲速,自動校準,實現(xiàn)了已知聲速測厚度及已知厚度測聲速兩大功能。 操作簡便,穩(wěn)定可靠,是無損檢測工作者的理想檢測工具。 二、產(chǎn)品用途:OU1500型超聲波測厚儀是基本型,該儀器利用超聲波原理可以對任何超聲波良導體材料厚度進行測量,如金屬類、塑料類、陶瓷類、玻璃類。廣泛應用于石油、化工、冶金、造船、航空、航天等各個領域。二、主要技術參數(shù)
型號 | OU1500 |
測量范圍 | 1.0~220mm( 45#鋼) |
顯示分辨率 | 0.1mm |
聲速范圍 | 500-9999m/s |
工件表面溫度 | -10~+50℃ |
顯示 | 八位液晶顯示 |
背光 | 自動感應 |
示值誤差 | ±(0.5%H+0.1)mm, H 為實際厚度值 |
管材測量下限 | Φ20mm×3.0mm(5PΦ10 探頭,鋼材) |
操作時間 | 可連續(xù)操作250 小時 |
工作電源 | 2節(jié)5號電池 |
外形尺寸 | 130×65×22mm |
整機重量 | 160g(不包括電池) |
標準配置 | 手提箱-1只、主機-1臺、 5PΦ10探頭-1支、電池-2節(jié) 耦合劑-1瓶、隨機文件-1套 |
資料來源:滄州歐譜 測厚儀 http://www.oupu17.com
UTM系列超聲波測厚儀是在引進國外技術的基礎上研制的一種高精度、低能耗、低下限的智能測量儀器。與其它品牌的儀器相比,其穩(wěn)定性更加。
| ||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||||
符合 ISO 2808 , ASTM D 1212 , BS 3900:C5 標準。
|
德國菲希爾FISCHER公司生產(chǎn)的經(jīng)得起考驗的DUALSCOPE® MP0不只是最小的涂鍍層測厚儀之一,它亦是第一步具備:
詳細介紹
DUALSCOPE MP0袖珍兩用測厚儀
德國菲希爾FISCHER公司生產(chǎn)的經(jīng)得起考驗的DUALSCOPE® MP0不只是最小的涂鍍層測厚儀之一,它亦是第一步具備:
測厚儀技術規(guī)格 測量 范圍: NF ISO/FE: 0—2000μm(80mils) ISO/NF:0—2000μm(80mils) 測量精度: 0…50μm(0…2mils;±1μm(0.04mils) 50…1000μm(2…40mils);±2% 1000…2000μm(40…80mils);最高3% 以Fischer標準片為準則 通訊界面:無線電頻寬傳送 868MHz(歐洲)/915MHz(美國) 重量::60克(2.1安士)不包含電池 體積:WxDxH=64×30×85毫米 (2.5”×1.2’’×3.4”)O) 電池 :2×LR6.AA 防護標準:IP52 |
德國EPK測厚儀
我公司銷售;德國EPK公司(Elektrophysik)一直于開發(fā)和生產(chǎn)各種用于表面處理行業(yè)的精密測量的涂層測厚儀。作為無損涂層厚度測量領域的先驅(qū),EPK公司與各標準化組織和研究院一道,成功地推進了涂層厚度檢測在世界范圍內(nèi)的標準化進程。大量的專利技術與成果表明EPK公司是該涂層檢測的佼佼者。 德國EPK涂層測厚儀MINITEST 720系列 ;MINITEST 600 涂鍍層測厚儀 ,德國EPK 4100涂層測厚儀 ,德國EPK Exacto FN涂層測厚儀 , 德國EPK Exacto N涂層測厚儀, 德國EPK Exacto F涂層測厚儀 ,德國EPK MikroTest涂層測厚儀 ,筆式測厚儀PenTest,德國EPK PenTest筆式測厚儀等。
SYL-D針式測厚儀是滄州智晟試驗儀器廠根據(jù)用戶的要求自主研發(fā)的新一代產(chǎn)品,之前,礦物棉及其制品的厚度檢測都是用其他儀器代替,我公司的這一研發(fā)成果,填補了這一空白,是檢測數(shù)據(jù)更,操作起來更加方便和簡單
SYL-D針式測厚儀根據(jù)GBT5480-2008《礦物棉及其制品試驗方法》標準設計的,適用于礦物棉及其制品的厚度測量。
SYL-D針式測厚儀主要參數(shù):
1、 測量范圍:0~140mm;
2、 壓板尺寸:200×200mm;
3、 壓板壓力:49KPa;
4、 測針直徑:¢3mm;
5、 分度值:1mm
ST8000光學薄膜測厚儀是把UV-Vis光照在測量對象上,利用從測量對象中反射出來的光線測量膜的厚度的產(chǎn)品。 這種產(chǎn)品主要用于研究開發(fā)或生產(chǎn)導電體薄膜現(xiàn)場,特別在半導體及有關Display工作中作為 In-Line monitoring 儀器使用。ST8000光學薄膜測厚儀產(chǎn)品特性
1) 因為是利用光的方式,所以是非接觸式,非破壞式,不會影響實驗樣品。
2) 可獲得厚度和 n,k 數(shù)據(jù)。
3) 測量迅速正確,且不必為測量而破壞或加工實驗樣品。
4) 可測量3層以內(nèi)的多層膜。
5) 根據(jù)用途可自由選擇手動型或自動型。
6) 產(chǎn)品款式多樣,而且也可以根據(jù)顧客的要求設計產(chǎn)品。
7)可測量 Wafer/LCD 上的膜厚度 (Stage size 6“ 8”, 12“ ...)
8)用于特殊領域(超精密,微小部位-0.2um2 ) a