粉塵掃描儀測(cè)試步驟:
步驟1:過(guò)濾膜掃描
先,過(guò)濾膜的高分辨率掃描完整圖像會(huì)存儲(chǔ)在硬盤里。在每次掃描開(kāi)始時(shí),掃描儀會(huì)自動(dòng)校準(zhǔn),這保證了高重現(xiàn)性的亮度和對(duì)比度,不受LED亮度變化的影響。
步驟2:粒度測(cè)量
ISO-16232清潔度測(cè)試儀器 (詳細(xì)請(qǐng)?jiān)L問(wèn):http://www.hjunkel.cn/Product-484.html)掃描的圖像通過(guò)灰度值閾值的二進(jìn)制轉(zhuǎn)化為黑白格式。在二進(jìn)制圖像中,粒子的大小被自動(dòng)檢測(cè)。每個(gè)粒子的長(zhǎng)度,寬度,拉長(zhǎng)的長(zhǎng)度,面積,周長(zhǎng)等都會(huì)自動(dòng)計(jì)算出來(lái)。
步驟3:生成報(bào)告
由MicroReporter生成的清潔度測(cè)量報(bào)告直接顯示在Microsoft Excel®。語(yǔ)言種類可以在英語(yǔ)和德語(yǔ)之間進(jìn)行切換。十個(gè)大的粒子會(huì)顯示在一個(gè)圖片庫(kù)的頁(yè)面。此外,還可以生成趨勢(shì)分析和審核報(bào)告。
VDA-19 、ISO-16232
粉塵掃描儀產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):簡(jiǎn)便的清潔度測(cè)試
短短幾分鐘VDA-19標(biāo)準(zhǔn)粉塵掃描儀 (詳細(xì)請(qǐng)?jiān)L問(wèn):http://www.17agent.com.cn/Product-427.html)歡迎客戶來(lái)電咨詢:即可完成在過(guò)濾膜上的粒子分析,
免維護(hù),低成本投資
戴爾的Windows®個(gè)人電腦,預(yù)裝正版Microsoft Excel®。
高分辨率的平板掃描儀,帶用過(guò)濾膜支架和光學(xué)過(guò)濾器,LED照明。
軟件:掃描過(guò)濾膜并自動(dòng)進(jìn)行粒子分析。
Microreporter:樣品的清潔度報(bào)告工具(英文、德文可選),包括MicroGallery微顆粒圖片庫(kù),MicroAnalysis分析報(bào)告和MicroTrend趨勢(shì)報(bào)告。
粉塵掃描儀報(bào)告:1. 可自定義的的客戶方數(shù)據(jù),測(cè)試對(duì)象,檢測(cè)授權(quán),被測(cè)樣品,期準(zhǔn)備等
2.粒子掃描儀 (詳細(xì)請(qǐng)?jiān)L問(wèn):http://www.hjunkel.com/products-281.html)歡迎客戶來(lái)電咨詢:可測(cè)量樣品表面結(jié)果的比例,體積或測(cè)試樣本數(shù)量
3. ISO/ VDA尺寸類型或用戶自定義
4. 樣品的清潔度代碼(CCC認(rèn)證)
5. 與相應(yīng)的清潔度要求進(jìn)行比較
6. 可抽入檢查員的電子簽名
粉塵掃描儀圖像庫(kù):·大的十個(gè)粒子的圖像庫(kù)
·位置標(biāo)簽在過(guò)濾器上,以簡(jiǎn)化顯微鏡的重新定位
·單獨(dú)分析和評(píng)顆粒子
·縱橫線的長(zhǎng)度寬度圖(見(jiàn)圖)
·長(zhǎng)度-面積直方圖
·趨勢(shì)和提取曲線
實(shí)驗(yàn)室專業(yè)離子清潔度測(cè)試儀,我們?yōu)槟≈赝扑]美國(guó)FORESITE 實(shí)驗(yàn)室 C3表面清潔度測(cè)試儀產(chǎn)品簡(jiǎn)介:美國(guó)FORESITE 實(shí)驗(yàn)室 C3表面清潔度測(cè)試儀C3電路板表面清潔度測(cè)試儀。操作界面簡(jiǎn)捷、節(jié)省時(shí)間、使用方法易于掌握。C3的出現(xiàn)使電路板局部清潔度的判定更為方便、快捷,降低了使用者的時(shí)間成本,提高了檢測(cè)效率。是實(shí)驗(yàn)室檢測(cè)產(chǎn)品潔凈度,工廠在線管控產(chǎn)品清潔度品質(zhì)的首選。它的出現(xiàn)代表電子產(chǎn)品對(duì)清潔度新的品質(zhì)要求,電子行業(yè)對(duì)潔凈度品質(zhì)要求的提升。
特性:*設(shè)備做工精細(xì),外觀設(shè)計(jì)簡(jiǎn)單大方*采用更易于操作的觸控界面*耗材放置抽屜,簡(jiǎn)單實(shí)用。*設(shè)備操作臺(tái)采用優(yōu)質(zhì)靜電材質(zhì),產(chǎn)品置表層不會(huì)受到靜電損害及刮碰。*設(shè)計(jì)采用可歪曲折動(dòng)的測(cè)試手臂,可用手放置工作臺(tái)任意位置的產(chǎn)品測(cè)試。工作原理:通過(guò)對(duì)高純水加熱后打到被測(cè)試產(chǎn)品表面,萃取產(chǎn)品表面殘留的贓物,根據(jù)萃取溶液電導(dǎo)率的高低判斷電路板表面臟污程度機(jī)身長(zhǎng)度-------------------------長(zhǎng):55.88cm 寬:71.12cm 高:41.28cm(含操作臂24.13cm) 重:31.75kg操作臺(tái)尺寸\\\\長(zhǎng)度:43.18cm 寬度:59.06cm電源:供給電源:100-240V AC測(cè)試頭可測(cè)有次面積:0.1in平方(0.71平方厘米)萃取液:2包(2L)http://www.keentec.cn/productview.asp?id=284