在電鍍或電子元件生產(chǎn)過程中需要快速且地測(cè)定鍍層厚度時(shí),thick800a 系列測(cè)量儀器是您的解決方案。x 射線熒光儀器可自下而上進(jìn)行測(cè)量,能夠在測(cè)量臺(tái)上對(duì)樣品進(jìn)行輕松定位。該系列的所有 x 射線儀器均配備相同的探測(cè)器。您可以根據(jù)自己的測(cè)量需求選擇不同的準(zhǔn)直器、濾波器以及 x 射線管。
edx4500系列設(shè)備的真空測(cè)量室能夠通過 x 射線熒光分析 (rfa) 檢測(cè)原子序數(shù)從na(11)開始的輕元素。由于空氣會(huì)吸收輕元素的熒光x射線,因此在大氣環(huán)境中通常無法使用該方法。因此,該儀器非常適合對(duì)要求嚴(yán)苛的鍍層厚度進(jìn)行測(cè)量和材料分析。