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其他產品及廠家

三軸自動編程點膠機TY-331，桌面式點膠機設備
自動點膠機是中文操作，易學易懂。一般生產線工人可在1個小時內學會編程操作.人機界面,操作直觀方便？膳潼c膠閥和大容量的壓力桶使用當要點的膠量較大時。
更新時間:2025-01-16
德國Sentech 光譜反射膜厚儀 RM 2000
. 在垂直入射角的無接觸、光學反射測量，表征薄膜和大塊材料.光譜范圍從200到1000 nm. 功能強大的、獨特的分析軟件包ftpadv expert. 高穩(wěn)定的氘燈和鹵素鎢燈光源. 高精度的樣品準直，帶光學自動準直透鏡act和顯微鏡
更新時間:2025-01-16
OCTOPLUS 1000 多波束電子束
德國 eberl 的多波束電子束octoplus 1000系統(tǒng)，專為最大12英寸sige外延生長設計，適用于mbe（分子束外延）工藝。該系統(tǒng)提供高效、高精度的沉積技術，確保高質量薄膜的生長，廣泛應用于半導體制造領域。
更新時間:2025-01-16
德國Eberl 多波束電子束 OCTOPLUS 1000
德國eberl 多波束電子束 octoplus 1000, 用于大 12 英寸基底 sige 外延生長的 mbe 系統(tǒng)
更新時間:2025-01-16
自動進樣稀釋模塊ASDM
自動進樣稀釋模塊asdm專為icp自動進樣器設計，支持2至1000倍的樣品溶液稀釋，配備兩種型號以適應不同溶液類型。該模塊可自動添加標準溶液，并能同時清洗稀釋探頭及準備下一個稀釋樣品。asdm提供10ml注射器進行2-20倍稀釋，或兩支注射器進行50-1000倍稀釋。
更新時間:2025-01-16
自動化標準添加系統(tǒng) ASAS II
asas ii自動化標準添加系統(tǒng)通過自動制備校準標準溶液，提升了電感耦合等離子體（icp）分析的效率與精度。該系統(tǒng)采用非接觸式光流傳感器和高精度注射泵，實現(xiàn)微量標準溶液的精 準添加。其無閥門設計及全氟聚合物材質確保了系統(tǒng)的高效與耐用性。
更新時間:2025-01-16
氣體電離探測器GED
氣體電離探測器（ged）是一種用于測量氣體中金屬顆粒濃度的技術，尤其適用于半導體行業(yè)中特殊氣體的分析。該系統(tǒng)通過一個高效的膜來交換氣體，使得樣品氣體中的金屬顆粒能在無需預處理的情況下直接引入到電感耦合等離子體質譜儀（icp-ms）中進行高靈敏度分析。
更新時間:2025-01-16
連續(xù)化學采樣檢測系統(tǒng)CSI
化學分析實驗室采用連續(xù)化學采樣檢測系統(tǒng)（csi）監(jiān)測半導體工藝中的化學品，以檢測微量金屬雜質。該系統(tǒng)使用電感耦合等離子體質譜儀（icp-ms）進行24/7的連續(xù)監(jiān)測，確；瘜W品在運輸和更換過濾器過程中不受污染。在線接口軟件（ois）控制閥門、自動進樣器和icp-ms，實現(xiàn)自動校準和質量控制。該系統(tǒng)能夠生成濃度和計數(shù)趨勢圖，并具備自動重新分析功能。
更新時間:2025-01-16
連續(xù)化學品檢測系統(tǒng) CSI
csi 連續(xù)化學品檢測系統(tǒng)：化學敏感儀器監(jiān)測半導體晶圓廠使用的化學物質，通過連續(xù)化學采樣檢測（csi）系統(tǒng)監(jiān)測微量金屬雜質，以避免器件故障。系統(tǒng)采用電感耦合等離子體質譜儀（icp-ms）對化學品進行24/7的連續(xù)監(jiān)測，包括液相（lt）和氣溶膠相（at）兩種樣品運輸方式。l
更新時間:2025-01-16
金屬標準氣霧劑生成系統(tǒng) MSAG
msag金屬標準氣霧劑生成系統(tǒng)，是一種用于納米顆粒分析及直接氣體分析的重要工具，尤其適用于電感耦合等離子體質譜法（icp-ms）。該設備能夠以0至3μl/min的速度將混合金屬標準溶液引入霧化器，確保了高靈敏度和準確性。通過msgg裝置監(jiān)測icp-ms靈敏度變化，并利用鉬氣態(tài)標準作為內標。
更新時間:2025-01-16
激光剝蝕多通道原子吸收光譜系統(tǒng)LAGM
lagm激光剝蝕多通道原子吸收光譜系統(tǒng)采用飛秒激光和電流計鏡，可精確燒蝕 300 毫米晶圓樣品，無需小型封閉腔室。系統(tǒng)配備雙注射器模型 msag_ds，支持標準加入法進行定量分析，具備點和面傾斜度、輪廓及雜質分析功能。系統(tǒng)能全自動操作，支持多種分析模式如全掃描、斑點、直線、塊模式及深度剖面模式，適用于晶圓和非晶圓樣品的全 面分析。
更新時間:2025-01-16
硅片金屬雜質分析系統(tǒng) Expert
硅片金屬雜質分析系統(tǒng) expert,全自動汽車掃描系統(tǒng)與真空二次離子質譜法（vpd-icp-ms）結合，為硅片金屬雜質分析提供了高效的解決方案。系統(tǒng)具備多個型號，包括適用于實驗室和工廠自動化的expert_lab、expert_ps和expert_fab。這些系統(tǒng)支持多種掃描模式，如全掃描、徑向掃描和傾斜掃描，可實現(xiàn)從大容量蝕刻到深度輪廓測量的全 面分析。
更新時間:2025-01-16
Rigaku X射線熒光分析儀
日本rigaku x射線熒光分析儀 waferx 310, 通過x射線以大角度照射在鍍膜的硅片樣品上,產生鍍膜 樣品的相應特征x射線的方法，進而分析測量硅片樣品的 鍍膜厚度。
更新時間:2025-01-16
真空存儲柜 真空干燥柜 真空氮氣柜
真空存儲柜 真空干燥柜 真空氮氣柜適用于各類化工原料、貴重金屬、金屬粉末等各種固體、粉狀、糊狀、液體，電子產品（半導體、電路板、電子成品、芯片、電池板、電池片、電子元器件、金屬制品、厭氧產品、易氧化產品等
更新時間:2025-01-15
HMDS氣相成底膜烘箱 真空HMDS氣相烘箱
hmds氣相成底膜烘箱 真空hmds氣相烘箱應用硅片、磷化銦lnp、砷化鎵gaas、鈮酸鋰linbo?、硫化鋅zns、掩膜版、玻璃、石英片、藍寶石、晶圓、碳化硅等第三代、第四代半導體材料等。
更新時間:2025-01-15
桌上型HMDS烘箱，小型HMDS真空烤箱
桌上型hmds烘箱，小型hmds真空烤箱采用hmds涂布方法改變晶圓表面的親水性，從而增大晶圓表面的接觸角），增強光刻膠和晶圓的粘附力。
更新時間:2025-01-15
烘氮氣烘箱，硬烘潔凈烘箱
烘氮氣烘箱，硬烘潔凈烘箱優(yōu)化光刻膠的光學吸收特性，提高光刻膠對襯底的黏附性
更新時間:2025-01-15
異丙醇雙氧水液體顆粒計數(shù)器
pmt-2異丙醇雙氧水液體顆粒計數(shù)器采用英國普洛帝核心技術創(chuàng)新型的第八代雙激光窄光顆粒檢測傳感器，雙精準流量控制-精密計量柱塞泵和超精密流量電磁控制系統(tǒng)，可以對清洗劑、半導體、超純水、電子產品、平板玻璃、硅晶片等產品的在線或離線顆粒監(jiān)測和分析，目是英國普洛帝分析測試集團向水質域及微納米檢測域的重要產品。
更新時間:2025-01-15
液體激光粒子計數(shù)器去離子水液體顆粒計數(shù)器
pmt-2激光液體粒子計數(shù)器去離子水液體顆粒計數(shù)器，采用英國普洛帝核心技術創(chuàng)新型的第八代雙激光窄光顆粒檢測傳感器，雙精準流量控制-精密計量柱塞泵和超精密流量電磁控制系統(tǒng)，可以對清洗劑、半導體、超純水、電子產品、平板玻璃、硅晶片等產品的在線或離線顆粒監(jiān)測和分析，目是英國普洛帝分析測試集團向水質域及微納米檢測域的重要產品
更新時間:2025-01-15
化學品液體粒子計數(shù)器清洗劑液體顆粒計數(shù)儀
pmt-2化學品液體粒子計數(shù)器清洗劑液體顆粒計數(shù)儀，采用英國普洛帝核心技術創(chuàng)新型的第八代雙激光窄光顆粒檢測傳感器，雙精準流量控制-精密計量柱塞泵和超精密流量電磁控制系統(tǒng)，可以對清洗劑、半導體、超純水、電子產品、平板玻璃、硅晶片等產品的在線或離線顆粒監(jiān)測和分析，目是英國普洛帝分析測試集團向水質域及微納米檢測域的重要產品。
更新時間:2025-01-15
華測高壓驅動電源匹配高壓放大器空間電荷測量系統(tǒng)
華測ha系列高壓電源是高性能機箱式高壓電源，hchv系列具有完善的保護系統(tǒng)？蛇b控或本地控制，面板有電壓、電流顯示，高壓輸入端過壓、過流、短路保護、拉弧、過溫保護和安全鎖等功能。寬范圍調整和靈活的多項可選功能。hchv系列是種高性能、可 靠性、高品質的直流高壓電源。更適合材料電學高壓試驗與材料檢測。
更新時間:2025-01-15
橡膠半導電材料電阻測試儀
主要用于測量電纜用橡膠和塑料半導電材料中間試樣電阻率以及各種導電橡塑產品電阻，也可使用四端子測試夾，對金屬導體材料及產品的低、中值電阻進行測量。
更新時間:2025-01-15
塑料半導電材料電阻測試儀
主要用于測量電纜用橡膠和塑料半導電材料中間試樣電阻率以及各種導電橡塑產品電阻，也可使用四端子測試夾，對金屬導體材料及產品的低、中值電阻進行測量。
更新時間:2025-01-15
半導電橡塑電阻測試儀
主要用于測量電纜用橡膠和塑料半導電材料中間試樣電阻率以及各種導電橡塑產品電阻，也可使用四端子測試夾，對金屬導體材料及產品的低、中值電阻進行測量。
更新時間:2025-01-15
半導電橡塑材料體積電阻率試驗儀
主要用于測量電纜用橡膠和塑料半導電材料中間試樣電阻率以及各種導電橡塑產品電阻，也可使用四端子測試夾，對金屬導體材料及產品的低、中值電阻進行測量。
更新時間:2025-01-15
半導電材料電阻率試驗儀
主要用于測量電纜用橡膠和塑料半導電材料中間試樣電阻率以及各種導電橡塑產品電阻，也可使用四端子測試夾，對金屬導體材料及產品的低、中值電阻進行測量。
更新時間:2025-01-15
華測儀器鐵電分析儀鐵電測試儀置〈2024升級推薦〉
huace fe系列鐵電測試系統(tǒng)，有著寬頻率響應范圍及寬測試電壓范圍，在±500v內置電壓下，電滯回線測試頻率可高達500khz；此系統(tǒng)包含huacepro基本鐵電管理測試軟件。此外還可外部擴展電壓到4kv、10kv、20kv，huace fe主機在不改變樣品連接的情況下可執(zhí)行電滯回線，脈沖，漏電流，iv、cv、擊穿測試，也可加載選件實現(xiàn)壓電、熱釋電、tsdc和電卡、阻抗分析、電阻測量等特性測試
更新時間:2025-01-15
華測電介質充放電測試系統(tǒng)
huace-dcs10kv電介質充放電測試系統(tǒng)主要用于研究介電儲能材料高電壓放電性能。目常規(guī)的方法是通過電滯回線計算高壓下電介質的能量密度，測試時，樣品的電荷是放回到高壓源上，而不是釋放到負載上，通過電滯回線測得的儲能密度一般會大于樣品實際釋放的
更新時間:2025-01-15
華測超高速鐵電材料高壓放大器/壓電驅動器
華測超高速鐵電材料高壓放大器系列，是以我公司關于高電壓的多年經驗和經驗為基礎而完成的，架式高速高電壓的運算放大器電源。zui高100khz的高速響應，可以在與輸入波形成比例的正弦波、三角波、鋸波和矩形波中進行高電壓輸出。從輸出電壓600v到20kv共19機種。
更新時間:2025-01-15
華測電荷量表 匹配不同規(guī)格法拉第筒
電荷量表結合了華測高靈敏度電壓、電流測量儀器的技術優(yōu)勢以及更快的速度和更高的耐用性。匹配不同規(guī)格法拉第筒。
更新時間:2025-01-15
華測 絕緣材料電阻評價平臺
華測絕緣材料電阻評價平臺，針對絕緣材料電阻評價平臺做了安全設計，測試過程中在過電壓、過電流、超溫等異常情況下以保證測試過程的安全；資料保存機制，當遇到電腦異；蛩矔r斷電時，可將資料保存于控制器中，不丟失試驗數(shù)據(jù)，設備重新開啟后可恢復原有試驗數(shù)據(jù)。
更新時間:2025-01-15
半導體封裝材料高溫絕緣電阻測試系統(tǒng)/絕緣材料電阻評價平臺
絕緣材料電阻評價平臺運用三電極法設計原理測量。該儀器設計符合gb/t 31838.2-2019、gb/t31838.7-2021標準設計開發(fā)，并參考美國astm標準(d257、d1829)。利用獨特的電阻測試系統(tǒng)，重復性與穩(wěn)定性更好，提升了夾具的抗干擾能力，同時大大提高精確度,可應用于產品檢測以及新材料電學性能研究等用途。
更新時間:2025-01-15
長期耐腐蝕老化試驗平臺
一、產品概述面對材料越來越小型輕量及高密度封裝，因結露、吸濕、電場環(huán)境等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出，長期電化學腐蝕平臺，可高精度連續(xù)試驗，gao效簡便評估因老化腐蝕現(xiàn)象引起的
更新時間:2025-01-15
卓立漢光|寬場熒光顯微成像模組
以自動化顯微鏡模組為基礎，針對 sic 等化合物半導體晶圓位錯、層錯等缺陷檢測需求。
更新時間:2025-01-15
卓立漢光|全晶圓半導體參數(shù)非接觸測試解決方案
基于我司自主研發(fā)的激光自動聚焦、自動化顯微成像、寬場熒光成像、共焦光致發(fā)光和拉曼光譜等核心測試技術，聯(lián)合白光干涉等其它 3d 測量技術，定制化的半導體參數(shù)測試解決方案。獲得從粗糙度、圖形尺寸和膜厚等幾何參數(shù)，到位錯、層錯等缺陷，再到發(fā)光波長、壽命、載流子濃度、組分和應力等物理參數(shù)的綜合測試系統(tǒng)。
更新時間:2025-01-15
半導電材料電阻率試驗儀
主要用于測量電纜用橡膠和塑料半導電材料中間試樣電阻率以及各種導電橡塑產品電阻，也可使用四端子測試夾，對金屬導體材料及產品的低、中值電阻進行測量。
更新時間:2025-01-15
半導電橡塑材料體積電阻率試驗儀
主要用于測量電纜用橡膠和塑料半導電材料中間試樣電阻率以及各種導電橡塑產品電阻，也可使用四端子測試夾，對金屬導體材料及產品的低、中值電阻進行測量。
更新時間:2025-01-15
半導體測試系統(tǒng)的技術特點#技術新聞
keithley 2600系列半導體測試系統(tǒng)；開發(fā)和使用 mosfet、igbt、二管和其他大功率器件，需要全面的器件檢定，如擊穿電壓、通態(tài)電流和電容測量。
更新時間:2025-01-15
盈可潤蘇州一代理商（increasing）
公司生產的行星減速機產品齊全，主導產品有pl、pf、ps、ib、ie、pn、id、ad、ibr等系列。廣泛應用于自動化產業(yè)、工業(yè)機器人航空航天、數(shù)控機床、冶金礦山、啤酒飲料、煙草輕工、環(huán)保工程、倉儲物流、塑料機械、起重運輸、立體停車、汽車制造、紡織、食品陶瓷等域。
更新時間:2025-01-15
MOSFET參數(shù)測試設備
mosfet參數(shù)測試設備：靜態(tài)參數(shù)測試（包括igss / bvr / vds（sat） / idss / vgsth / vf / rds（on））；動態(tài)參數(shù)（開通關斷/反向恢復/短路/安全工作區(qū)
更新時間:2025-01-15
雪崩能量測試臺
一、產品簡介雪崩能量測試臺，是門設計測試igbt、二管、mos管測試設備，對于那些在應用過程中功率器件兩端產生較大電壓的尖峰應用，就要考慮器件的雪崩能量，電壓的尖峰所集中的
更新時間:2025-01-15
IGBT7KV/20000A動態(tài)測試系統(tǒng)
一. 功能簡介全動態(tài)測試的基本原理是在一個工頻半周內對被測元件施加半波電流，電流的平均值由元件的額定電流值決定，而在另一個半周內施加正向或反向的正弦半波阻斷電壓，測量它的動態(tài)阻斷伏安特性，它模擬了
更新時間:2025-01-15
IGBT9KA/8KV靜態(tài)參數(shù)測試系統(tǒng)
一、產品簡介該測試系統(tǒng)是晶閘管靜態(tài)參數(shù)檢驗測試中不可缺少的用測試設備。 該套測試設備主要有以下幾個單元組成：1)門觸發(fā)參數(shù)測試單元2)維持電流測試單元3)阻斷參數(shù)測試單元4)通態(tài)壓降參數(shù)測試單元5)電壓上升率參數(shù)測試單元6)擎住電流7)門電阻8)計算機控制系統(tǒng)9)合格證標簽打印10)夾具單元；包含平板夾具和模塊夾具
更新時間:2025-01-15
10萬安浪涌電流測試儀
一、產品簡介浪涌電流測試儀，是二管等相關半導體器件測試的重要檢測設備，該設備具有如下特點：1、該系統(tǒng)的測試控制完全采用自動控制，測試可按測試員設定的程序進行自動測試。2、該系統(tǒng)采用計算機記錄測試結果，并可將測試結果轉化為excel文件進行處理。3、該套測試設備主要由以下幾個單元組成： a、浪涌測試單元 b、阻斷參數(shù)測試單元 c、計算機控制系統(tǒng)
更新時間:2025-01-15
晶閘管阻斷特性測試儀
阻斷特性測試儀的測試原理：符合國際及行業(yè)相關標準，可對大功率半導體器件（含晶閘管）進行阻斷特性的測試。測試電壓和漏電流值采用實時數(shù)字顯示，便于數(shù)據(jù)的觀察和記錄。采用手動調壓器加壓模式，可實
更新時間:2025-01-15
自動熱穩(wěn)態(tài)壓力夾具
本公司生產的實用新型公開了一種自動壓力機夾具,包括水平設置在壓力機上的多對夾臂,在所述每對夾臂相對的夾持面上均設置有橡膠墊.本實用新型優(yōu)點在于將夾臂的夾持面上設置有橡膠墊,這樣當夾具夾持耐火磚時由于有橡膠墊的緩沖,不僅能夠方便的夾取磚體,而且對耐火磚起到一定的保護作用,有效防止了耐火磚夾裂或夾破,大大減少了耐火磚的破損率.
更新時間:2025-01-15
模塊高溫阻斷試驗設備
產品介紹交流阻斷（或反偏）耐久性試驗是在一定溫度下，對半導體器件施加阻斷（或反偏）電壓，按照規(guī)定的時間，從而對器件進行質量檢驗和耐久性評估的一種主要試驗方法。 一般情況下
更新時間:2025-01-15
晶閘管 整流二管靜態(tài)參數(shù)試驗平臺
一、產品簡介該測試系統(tǒng)是晶閘管靜態(tài)參數(shù)檢驗測試中不可缺少的用測試設備。該套測試設備主要有以下幾個單元組成：1)門觸發(fā)參數(shù)測試單元2)維持電流測試單元3)阻斷參數(shù)測試單元4)通態(tài)壓降參數(shù)測試單元5)電壓上升率參數(shù)測試單元6)擎住電流7)門電阻8)計算機控制系統(tǒng)9)合格證標簽打印10)夾具單元；包含平板夾具和模塊夾具
更新時間:2025-01-15
二管正向浪涌電流測試儀
一、產品介紹浪涌電流測試儀，是二管等相關半導體器件測試的重要檢測設備，該設備具有如下特點：1、該系統(tǒng)的測試控制完全采用自動控制，測試可按測試員設定的程序進行自動測試。2、該系統(tǒng)采用計算機記錄測試結果，并可將測試結果轉化為excel文件進行處理。3、該套測試設備主要由以下幾個單元組成： a、浪涌測試單元 b、阻斷參數(shù)測試單元 c、計算機控制系統(tǒng)
更新時間:2025-01-15
紫外正、負性光刻膠配套試劑RZN-6200
rzn-6200
更新時間:2025-01-14

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