表面阻抗分析儀所有不同的廠家_第99頁(yè)

表面阻抗分析儀產(chǎn)品及廠家

FT-303B型表面電阻率測(cè)試儀生產(chǎn)廠家@市場(chǎng)快訊

ft-303b型表面電阻率測(cè)試儀適用于測(cè)量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器測(cè)量高電阻測(cè)微電流。

更新時(shí)間:2025-01-07

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FT-3671全量程四探針測(cè)試儀

全量程四探針測(cè)試儀，四探針?lè)ǎ蓽y(cè)微歐到兆歐方阻值量程，采用ad芯片控制，恒流輸出， pc軟件運(yùn)行，自動(dòng)數(shù)據(jù)測(cè)量和系數(shù)修正，直讀方阻，電阻，電阻率和電導(dǎo)率數(shù)據(jù)；中文或英文語(yǔ)言版本；具有屏蔽功能；參考美國(guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)。單晶硅物理測(cè)試方法

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Loesta AX 低電阻率計(jì)

loesta ax 低電阻率計(jì)是一種手持儀器，測(cè)量具有一致精度樣品的低電阻率。該電阻率計(jì)使用各種探頭測(cè)量電阻率。loesta ax使用一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)的rcf，如果已知的話(huà)，用戶(hù)也可以輸入其他rcf。它通常用于產(chǎn)品工程和質(zhì)量控制。應(yīng)用域包括導(dǎo)電涂料、導(dǎo)電塑料、導(dǎo)電橡膠、導(dǎo)電薄膜、抗靜電材料、emi屏蔽材料、導(dǎo)電纖維、導(dǎo)電陶瓷等。

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FT-305表面和體積電阻率測(cè)試儀（高阻）

適用于測(cè)量粉末、粉體、顆粒物、氣體、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、防靜電產(chǎn)品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房防靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。

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FT-305絕緣材料表面和體積電阻率測(cè)試儀

參照標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 22042-2008《服裝防靜電性能表面電阻率試驗(yàn)方法》；en 1149-1-1995 《防護(hù)服靜電性能 no.1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》（與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》；

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FT-331四探針測(cè)試儀

功能描述：采用液晶顯示，自動(dòng)測(cè)量，自動(dòng)量程，自動(dòng)系數(shù)補(bǔ)償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：pc軟件進(jìn)行數(shù)據(jù)管理和處理參考國(guó)標(biāo)單晶硅物理測(cè)試方法及 a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)

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FT-300TZ兩探針材料電阻率測(cè)試儀詳情介紹

適用于半導(dǎo)體材料企業(yè)、科研、高等院校及實(shí)驗(yàn)室分析半導(dǎo)體材料縱向電阻率；可測(cè)量橫截面積均勻的圓形、方形或矩形硅單晶的電阻率，試樣長(zhǎng)度與截面尺寸之比應(yīng)不小于3:1

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FT-300III糖粉粉末電阻率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)

糖粉粉末電阻率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)，功能介紹：本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試

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FT-300II石墨粉電阻率測(cè)試儀樣品檢測(cè)

石墨粉電阻率測(cè)試儀樣品檢測(cè)，功能介紹：本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治

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FT-303絕緣粉末/液體電阻率測(cè)試儀測(cè)定方法

絕緣粉末/液體電阻率測(cè)試儀測(cè)定方法，絕緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如（長(zhǎng)方體，圓柱體等是固有形狀）及不規(guī)則狀態(tài)（如粉末狀,膏體狀，液態(tài)流動(dòng)狀），目前對(duì)絕緣體材料的測(cè)試方法和測(cè)量方式基本上是采用三環(huán)電極結(jié)構(gòu)測(cè)量規(guī)則形狀體，而不規(guī)則狀材料的測(cè)試較少，本機(jī)主要能滿(mǎn)足傳統(tǒng)的電阻測(cè)量外，還可以測(cè)試不規(guī)則狀態(tài)。

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FT-300鋰電池粉末電阻率測(cè)試儀廠家

粉末電阻率測(cè)試儀本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試

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FT-304塑料絕緣材料表面/體積電阻率測(cè)試儀現(xiàn)貨

塑料絕緣材料表面/體積電阻率測(cè)試儀現(xiàn)貨，概況：(1)適用標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 22042-2008《服裝防靜電性能表面電阻率試驗(yàn)方法》；en 1149-1-1995 《防護(hù)服靜電性能第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》

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FT-300瑞柯導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀的的適用范圍

瑞柯導(dǎo)體粉末電阻率測(cè)試儀的的適用范圍本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。

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FT-302電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測(cè)試儀的供應(yīng)商

電纜半導(dǎo)電屏蔽層電阻率測(cè)試儀的供應(yīng)商根據(jù)國(guó)標(biāo)gb11017-89所規(guī)定的測(cè)試方法和技術(shù)要求制造，用來(lái)測(cè)試高壓電纜半導(dǎo)電內(nèi)外屏蔽層的電阻率，四端法測(cè)試原理，通過(guò)測(cè)試裝置能夠滿(mǎn)足不同線徑之產(chǎn)品測(cè)量其屏蔽層電阻率。

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FT-8200A系列雙電四探針?lè)勰╇娮杪蕼y(cè)試儀數(shù)據(jù)管理

系列雙電四探針?lè)勰╇娮杪蕼y(cè)試儀數(shù)據(jù)管理粉體受到壓縮直至平穩(wěn)時(shí)，粉體空隙率非常小，壓實(shí)密度接近于真密度狀態(tài)，則此時(shí)測(cè)試出來(lái)的粉末電導(dǎo)率為接近于理論值.

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FT-346雙電測(cè)四探針測(cè)試儀價(jià)格,探針?lè)?/a>

雙電測(cè)四探針測(cè)試儀價(jià)格,探針?lè)?></a>
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硅晶塊、晶片電阻率及擴(kuò)散層、外延層、ito導(dǎo)電箔膜、導(dǎo)電橡膠等材料方塊電阻半導(dǎo)體材料/晶圓、太陽(yáng)能電池、電子元器件，導(dǎo)電薄膜（ito導(dǎo)電膜玻璃等），金屬膜，導(dǎo)電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，pcb銅箔膜，emi涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率導(dǎo)電性油漆，導(dǎo)電性糊狀物，導(dǎo)電性塑料，導(dǎo)電性橡膠，導(dǎo)電性薄膜，金屬薄膜， emi 防護(hù)材料，導(dǎo)電性纖維，導(dǎo)電性陶瓷等，提供中文或英文兩種語(yǔ)言操作界面選擇，

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FT-300A上海瑞柯銅線電阻率測(cè)試儀

采用四端測(cè)量法適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，實(shí)驗(yàn)室；是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的工具�？膳渲貌煌瑴y(cè)量裝置測(cè)試不同類(lèi)型材料之電阻率。液晶顯示，溫度補(bǔ)償功能，自動(dòng)量程，自動(dòng)測(cè)量電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)。恒流源輸出；選配：pc軟件過(guò)程數(shù)據(jù)處理和標(biāo)準(zhǔn)電阻校準(zhǔn)儀器，薄膜按鍵中文或英文兩種語(yǔ)言界面選擇

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FT-300粉塵電阻率測(cè)試儀檢測(cè)方法

粉塵電阻率測(cè)試儀檢測(cè)方法yst 587.6-2006 炭陽(yáng)極用煅后石油焦檢測(cè)方法第6部分粉末電阻率的測(cè)定；標(biāo)配手動(dòng)粉末測(cè)試裝置,測(cè)試粉末時(shí)可以通過(guò)裝置獲得粉末壓實(shí)后高度、直徑、壓強(qiáng)等數(shù)據(jù)，自動(dòng)計(jì)算出所需數(shù)據(jù).能方便解決粉末及顆粒物料電阻、電阻率及電導(dǎo)率測(cè)量需求..

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FT-300簡(jiǎn)易粉末電阻率測(cè)試儀

yst 587.6-2006 炭陽(yáng)極用煅后石油焦檢測(cè)方法第6部分粉末電阻率的測(cè)定；標(biāo)配手動(dòng)粉末測(cè)試裝置,測(cè)試粉末時(shí)可以通過(guò)裝置獲得粉末壓實(shí)后高度、直徑、壓強(qiáng)等數(shù)據(jù)，自動(dòng)計(jì)算出所需數(shù)據(jù).能方便解決粉末及顆粒物料電阻、電阻率及電導(dǎo)率測(cè)量需求..

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FT-541SJB哪里有雙極板材料四探針低阻/接觸電阻測(cè)試儀

哪里有雙極板材料四探針低阻/接觸電阻測(cè)試儀gb/t 20042.6-2011質(zhì)子交換膜燃料電池第6部分：雙極板特性測(cè)試方法中四探針低阻測(cè)量和接觸電阻測(cè)試方法及要求

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FT-354高溫型粉末電阻率測(cè)試儀

高溫型粉末電阻率測(cè)試儀在高溫環(huán)境下采用壓片法實(shí)時(shí)測(cè)試粉體電性能，分析粉體在高溫環(huán)境下電阻，電阻率（電導(dǎo)率），與壓強(qiáng)和溫度的實(shí)時(shí)變化關(guān)系，模擬材料在使用環(huán)境和自身特性高溫環(huán)境下的電性能狀態(tài).為品質(zhì)管理，新品研發(fā)調(diào)整配比, 生產(chǎn)工藝調(diào)整提供參考數(shù)據(jù).對(duì)材料未來(lái)使用的不確定性影響因數(shù)進(jìn)行預(yù)測(cè)分析，建立產(chǎn)品從研發(fā)到生產(chǎn)的數(shù)據(jù)庫(kù).

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FT-361型低阻雙電四探針測(cè)定儀廠家

低阻雙電四探針測(cè)定儀廠家采用四探針?lè)y(cè)試的導(dǎo)電性新材料、鋁箔、銅箔等具有類(lèi)似性質(zhì)要求測(cè)量的材料。低阻雙電四探針測(cè)定儀可以測(cè)試到1uω方阻值。低阻雙電四探針測(cè)定提供中文或英文語(yǔ)言版本。

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FT-300I導(dǎo)電粉末電阻率四端法測(cè)試儀的的生產(chǎn)

導(dǎo)電粉末電阻率四端法測(cè)試儀的的生產(chǎn)粉末電阻率四端法測(cè)試儀可以顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算.適用于鋰電池材料、石墨烯、石墨類(lèi)、碳素粉末、焦化、石化、粉末冶金、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)電粉末樣品質(zhì)量的一種工具。

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FT-304絕緣材料體積電阻率測(cè)試儀現(xiàn)貨

絕緣材料體積電阻率測(cè)試儀現(xiàn)貨，絕緣材料體積電阻率測(cè)試儀測(cè)量橡膠、塑膠、粉末、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、靜電產(chǎn)品、如靜電鞋、靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。

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FT-4000系列材料電阻率測(cè)試儀（手動(dòng)型）

系列材料電阻率測(cè)試儀（手動(dòng)型）在不同的壓力下描述導(dǎo)電材料的電性能變化關(guān)系,分析材料的體積電阻、接觸電阻、過(guò)渡電阻等數(shù)據(jù);電阻率和電導(dǎo)率(需要人工讀取并輸入樣品厚度可獲得).

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FT-5000多功能材料電阻率測(cè)試儀新品

多功能材料電阻率測(cè)試儀新品采用pc軟件操作;曲線圖譜分析，過(guò)程數(shù)據(jù)分析，報(bào)表導(dǎo)出和管理等；配置不同的測(cè)量電極，固體材料的形變（如：壓縮，彎曲，斷裂等情況下）的電性能狀態(tài)，從而描述材料性能和壽命等相關(guān)性能指標(biāo).

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材料低電阻率測(cè)試儀

材料低電阻率測(cè)試儀滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)： gb/t6717、gb/t 24525-2009、ys/t63.2、 iso 11713-2000、ys/t63.2-2005、ys/t 64-1993。gb3048.2-2007、gb/t3048.4-2007、gb/t3952-2008、gb/t3953-2009、gb/t3954-2008、gb/t3955-2009、gb/t3956-2008.

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FT-333四探針?lè)阶鑳x

四探針?lè)阶鑳x按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā�、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)，本機(jī)配置232電腦接口及usb兩種接口.

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雙電測(cè)電四探針測(cè)試儀

雙電測(cè)電四探針測(cè)試儀采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。

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絕緣材料高溫表面和體積電阻率測(cè)試儀

絕緣材料高溫表面和體積電阻率測(cè)試儀適用標(biāo)準(zhǔn)：gb/t 22042-2008《服裝防靜電性能表面電阻率試驗(yàn)方法》；en 1149-1-1995 《防護(hù)服靜電性能第1部分表面電阻檢驗(yàn)方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗(yàn)方法》（與國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》.

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FT-352導(dǎo)體材料高溫電阻率測(cè)試儀

導(dǎo)體材料高溫電阻率測(cè)試儀廣泛用于：生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)對(duì)導(dǎo)體材料在高溫下電阻率數(shù)據(jù)的測(cè)量.同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).

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方塊電阻測(cè)試儀

方塊電阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā�、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn).

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端子電壓降測(cè)試儀

端子電壓降測(cè)試儀滿(mǎn)足標(biāo)準(zhǔn)：qc/t 730-2005 ;iso 6722：2002 gb/t 2951—1997; gb/t 3048—1994 qc/t29106-2004; qc/t413-2002 ;qc/t413-2002;同時(shí)滿(mǎn)足德國(guó)、法國(guó)、韓國(guó)、日本、等國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)要求和測(cè)試規(guī)范，電壓降實(shí)驗(yàn)按qc/t29106-2004標(biāo)準(zhǔn)5.7進(jìn)行實(shí)驗(yàn) qc/t29106-2004標(biāo)準(zhǔn).

更新時(shí)間:2025-01-07

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數(shù)字式四探針測(cè)試儀

數(shù)字式四探針測(cè)試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測(cè)量方法，適用于生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析導(dǎo)體材料和半導(dǎo)體材料質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器配置各類(lèi)測(cè)量裝置可以測(cè)試不同材料。液晶顯示，無(wú)需人工計(jì)算，并帶有溫度補(bǔ)償功能，電阻率單位自動(dòng)選擇，儀器自動(dòng)測(cè)量并根據(jù)測(cè)試結(jié)果自動(dòng)轉(zhuǎn)換量程，無(wú)需人工多次和重復(fù)設(shè)置。

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FT-300III通用型粉末電阻率測(cè)試儀

通用型粉末電阻率測(cè)試儀本儀器采用四端測(cè)量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門(mén)，是檢驗(yàn)和分析粉末樣品質(zhì)量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值、溫度、壓強(qiáng)值、單位自動(dòng)換算，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。測(cè)試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測(cè)試項(xiàng)目要求選購(gòu).使用薄膜按鍵開(kāi)關(guān)面板，操作簡(jiǎn)單，耐用，符合人體工學(xué)操作規(guī)范.

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FT-336薄膜方阻測(cè)試儀

薄膜方阻測(cè)試儀按照硅片電阻率測(cè)量的國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)（astm f84）及國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)制造該儀器設(shè)計(jì)符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測(cè)定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流兩探針?lè)ā�、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測(cè)定直流四探針?lè)ā凡⒖济绹?guó) a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)

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FT-340探針測(cè)試儀測(cè)量薄膜的電阻率

覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導(dǎo)體材料、薄膜材料方阻測(cè)試

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FT-332型四探針測(cè)試儀品牌@市場(chǎng)快訊

四探針測(cè)試儀品牌@市場(chǎng)快訊采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表。

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FT-336型四探針電阻率測(cè)試儀價(jià)格@采購(gòu)熱點(diǎn)

ft-336型四探針電阻率測(cè)試儀采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結(jié)構(gòu)合理、質(zhì)量輕便，運(yùn)輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動(dòng)生成報(bào)表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時(shí)顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度、電導(dǎo)率，配置不同的測(cè)試治具可以滿(mǎn)足不同材料的測(cè)試要求。

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FT-8100B四探針?lè)ǚ勰╇妼?dǎo)率測(cè)試儀(手動(dòng)型)

四點(diǎn)探針測(cè)試儀參照gb/t 1551、gb/t1552-1995，astm f84美國(guó)a.s.t.m 標(biāo)準(zhǔn)。the four-probe tester meets gb/t 1551, gb/t1552-1995, astm f84 u.s. a. s.t.m. standard.2）四探針?lè)ǚ勰y(cè)試平臺(tái)參照gbt308

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FT-8400絕緣粉末電阻率測(cè)試儀詳情介紹

系列絕緣粉末電阻率測(cè)試儀詳情介紹實(shí)時(shí)測(cè)量粉末樣品受到壓力后，體積變化過(guò)程中電阻，電阻率，的變化，直至壓實(shí)至穩(wěn)定體積狀態(tài)；即空隙率很小接近于零.

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FT-8200系列雙電四探針?lè)勰╇娮杪蕼y(cè)試儀（智能型）使用說(shuō)明

雙電四探針?lè)勰╇娮杪蕼y(cè)試儀（智能型）使用說(shuō)明，全程采用pc軟件操作，粉體壓縮前及壓縮后壓力增減過(guò)程中粉體因自身特性?xún)?nèi)聚力反彈形變或恢復(fù)過(guò)程變化曲線圖譜；自動(dòng)測(cè)試過(guò)程數(shù)據(jù)曲線及圖譜分析，實(shí)時(shí)分析壓強(qiáng)/壓力與電阻。

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FT-362系列金屬涂層表面電阻（方阻）測(cè)試儀價(jià)格

金屬涂層表面電阻（方阻）測(cè)試儀適用于覆蓋膜;導(dǎo)電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導(dǎo)電窗膜導(dǎo)電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標(biāo)簽、合金類(lèi)箔膜;熔煉、燒結(jié)、濺射、涂覆、涂布層。

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FT-301石墨烯粉末電阻率測(cè)試系統(tǒng)

石墨烯粉末電阻率測(cè)試系統(tǒng)采用pc軟件過(guò)程數(shù)據(jù)分析.直接粉體粉體壓強(qiáng)、電阻值、電阻率、電導(dǎo)率值的變化圖譜關(guān)系.運(yùn)行模式為自動(dòng)運(yùn)行模式.測(cè)試的功能是粉末比電阻、電阻率、電導(dǎo)率分析為一體.

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FT-304絕緣材料表面/體積電阻率測(cè)試儀詳情介紹

絕緣材料表面/體積電阻率測(cè)試儀詳情介紹絕緣材料表面/體積電阻率測(cè)試儀是測(cè)量橡膠、塑膠、粉末、顆粒物、電子元器件、介質(zhì)材料、電線電纜、靜電產(chǎn)品、如靜電鞋、靜電塑料橡膠制品、計(jì)算機(jī)房靜電活動(dòng)地板等電阻值等絕緣性能的檢驗(yàn)和電子電器產(chǎn)品的絕緣電阻測(cè)量。本儀器測(cè)量高電阻測(cè)微電流。

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FT-401干粉滅火劑電絕緣性測(cè)試儀生產(chǎn)廠家

參照標(biāo)準(zhǔn)basis：gb4066.1-2004干粉滅火劑通用技術(shù)條件之電絕緣性要求用于檢測(cè)干粉滅火劑之電絕緣性

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FT-510A智能炭塊電阻率測(cè)定儀

智能炭塊電阻率測(cè)定儀，采用步進(jìn)定位90度或120度旋轉(zhuǎn)測(cè)量系統(tǒng),壓力傳感器配備彈性緩存夾緊樣品,pc軟件分析數(shù)據(jù),可編輯報(bào)表生成,自動(dòng)分析均值,偏差值等數(shù)據(jù). 一體化設(shè)計(jì)結(jié)構(gòu).人性化模塊操作界面.

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FT-303AE點(diǎn)對(duì)點(diǎn)電阻測(cè)試儀

ft-303ae點(diǎn)對(duì)點(diǎn)電阻測(cè)試儀，用于測(cè)量防靜電工作服、織物、地毯、絕緣材料的點(diǎn)對(duì)點(diǎn)電阻測(cè)量；

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FT-303E導(dǎo)電和抗靜電橡膠電阻率測(cè)試儀

導(dǎo)電和抗靜電橡膠電阻率測(cè)試儀，含有炭黑或電離物質(zhì)的導(dǎo)電性能或耗損性能的硫化橡膠和熱塑性橡膠經(jīng)特殊制備的試樣在實(shí)驗(yàn)室對(duì)其體積電阻率的測(cè)定，在橡膠配料中摻入電離物質(zhì)也可以使混煉膠具有抗靜電性能；用于電阻率低于10^10ω.m的物質(zhì).

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FT-355材料高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng)

材料高溫電阻率測(cè)試系統(tǒng)，材料電阻、電導(dǎo)率和電阻率，并配合溫度試驗(yàn)箱結(jié)合高溫治具與pc軟件對(duì)數(shù)據(jù)的處理和測(cè)量控制，解決材料的電導(dǎo)率對(duì)溫度變化測(cè)量要求，軟件實(shí)時(shí)繪制出溫度與電阻，電阻率，電導(dǎo)率數(shù)據(jù)的變化曲線圖譜，及過(guò)程數(shù)據(jù)值的報(bào)表分析.

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