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表面阻抗分析儀產品及廠家

雙電測電四探針電阻率測試儀
雙電測電四探針電阻率測試儀本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-01-07
自動導體粉末電阻率測試儀
自動導體粉末電阻率測試儀采用一體化結構設計，將粉末比電阻的測量與粉體電阻率/電導率分析為一體，測量與數據分析通過pc軟件完成，粉體壓強與電阻值、電阻率、電導率值的變化關系
更新時間:2025-01-07
薄膜電阻率測試儀
薄膜電阻率測試儀該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-01-07
薄膜或涂層方塊電阻測試儀
薄膜或涂層方塊電阻測試儀該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-01-07
導電薄膜方塊電阻測試儀
導電薄膜方塊電阻測試儀采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
更新時間:2025-01-07
瑞柯系列普通四探針電阻率測試儀
瑞柯系列普通四探針電阻率測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準，本機配置232電腦
更新時間:2025-01-07
自動鋰電池片電導率測試儀
自動鋰電池片電導率測試儀，采用平面探頭，對被測樣品施加一定的壓力來分析片整體電阻，自動加壓，壓力可設定； pc軟件界面操作，實現壓強與電阻,電阻率，電導率關系圖譜；
更新時間:2025-01-07
導體和絕緣材料電阻率測試儀
導體和絕緣材料電阻率測試儀，具有寬量程測試范圍，覆蓋從導體材料至絕緣材料測試的測量；pc軟件對數據處理和分析，直讀電阻，電阻率和電導率數據，具有屏蔽保護功能，一體化結構設計，配備低阻和高阻測量治具；232通訊端口，標準電阻校準儀器；提供中文或英文操作界面.
更新時間:2025-01-07
表面電阻率測試儀生產廠家@市場快訊
ft-303b型表面電阻率測試儀適用于測量粉末、粉體、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。本儀器測量高電阻測微電流。
更新時間:2025-01-07
全量程四探針測試儀
全量程四探針測試儀，四探針法，可測微歐到兆歐方阻值量程，采用ad芯片控制，恒流輸出， pc軟件運行，自動數據測量和系數修正，直讀方阻，電阻，電阻率和電導率數據；中文或英文語言版本；具有屏蔽功能；參考美國 a.s.t.m 標準。單晶硅物理測試方法
更新時間:2025-01-07
Loesta AX 低電阻率計
loesta ax 低電阻率計是一種手持儀器，測量具有一致精度樣品的低電阻率。該電阻率計使用各種探頭測量電阻率。loesta ax使用一個標準的rcf，如果已知的話，用戶也可以輸入其他rcf。它通常用于產品工程和質量控制。應用域包括導電涂料、導電塑料、導電橡膠、導電薄膜、抗靜電材料、emi屏蔽材料、導電纖維、導電陶瓷等。
更新時間:2025-01-07
表面和體積電阻率測試儀（高阻）
適用于測量粉末、粉體、顆粒物、氣體、電子元器件、介質材料、電線電纜、防靜電產品、如防靜電鞋、防靜電塑料橡膠制品、計算機房防靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。
更新時間:2025-01-07
絕緣材料表面和體積電阻率測試儀
參照標準：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 no.1部分表面電阻檢驗方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（與國際標準iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》；
更新時間:2025-01-07
四探針測試儀
功能描述：采用液晶顯示，自動測量，自動量程，自動系數補償.高集成電路系統(tǒng)、恒流輸出；選配：pc軟件進行數據管理和處理參考國標單晶硅物理測試方法及 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-01-07
糖粉粉末電阻率測試儀技術參數
糖粉粉末電阻率測試儀技術參數，功能介紹：本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試
更新時間:2025-01-07
石墨粉電阻率測試儀樣品檢測
石墨粉電阻率測試儀樣品檢測，功能介紹：本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治
更新時間:2025-01-07
絕緣粉末/液體電阻率測試儀測定方法
絕緣粉末/液體電阻率測試儀測定方法，絕緣材料存在的狀態(tài)有固態(tài)規(guī)則形狀如（長方體，圓柱體等是固有形狀）及不規(guī)則狀態(tài)（如粉末狀,膏體狀，液態(tài)流動狀），目前對絕緣體材料的測試方法和測量方式基本上是采用三環(huán)電極結構測量規(guī)則形狀體，而不規(guī)則狀材料的測試較少，本機主要能滿足傳統(tǒng)的電阻測量外，還可以測試不規(guī)則狀態(tài)。
更新時間:2025-01-07
鋰電池粉末電阻率測試儀廠家
粉末電阻率測試儀 本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試
更新時間:2025-01-07
塑料絕緣材料表面/體積電阻率測試儀現貨
塑料絕緣材料表面/體積電阻率測試儀現貨，概況：(1)適用標準：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》
更新時間:2025-01-07
瑞柯導體粉末電阻率測試儀的的適用范圍
瑞柯導體粉末電阻率測試儀的的適用范圍 本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。
更新時間:2025-01-07
電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀的供應商
電纜半導電屏蔽層電阻率測試儀的供應商根據國標gb11017-89所規(guī)定的測試方法和技術要求制造，用來測試高壓電纜半導電內外屏蔽層的電阻率，四端法測試原理，通過測試裝置能夠滿足不同線徑之產品測量其屏蔽層電阻率。
更新時間:2025-01-07
系列雙電四探針粉末電阻率測試儀數據管理
系列雙電四探針粉末電阻率測試儀數據管理粉體受到壓縮直至平穩(wěn)時，粉體空隙率非常小，壓實密度接近于真密度狀態(tài)，則此時測試出來的粉末電導率為接近于理論值.
更新時間:2025-01-07
雙電測四探針測試儀價格,探針法
硅晶塊、晶片電阻率及擴散層、外延層、ito導電箔膜、導電橡膠等材料方塊電阻 半導體材料/晶圓、太陽能電池、電子元器件，導電薄膜（ito導電膜玻璃等），金屬膜，導電漆膜，蒸發(fā)鋁膜，pcb銅箔膜，emi涂層等物質的薄層電阻與電阻率 導電性油漆，導電性糊狀物，導電性塑料，導電性橡膠，導電性薄膜，金屬薄膜， emi 防護材料，導電性纖維，導電性陶瓷等，提供中文或英文兩種語言操作界面選擇，
更新時間:2025-01-07
上海瑞柯銅線電阻率測試儀
采用四端測量法適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門，實驗室；是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的工具。可配置不同測量裝置測試不同類型材料之電阻率。液晶顯示，溫度補償功能，自動量程，自動測量電阻，電阻率，電導率數據。恒流源輸出；選配：pc軟件過程數據處理和標準電阻校準儀器，薄膜按鍵中文或英文兩種語言界面選擇
更新時間:2025-01-07
粉塵電阻率測試儀檢測方法
粉塵電阻率測試儀檢測方法yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法第6部分 粉末電阻率的測定；標配手動粉末測試裝置,測試粉末時可以通過裝置獲得粉末壓實后高度、直徑、壓強等數據，自動計算出所需數據.能方便解決粉末及顆粒物料電阻、電阻率及電導率測量需求..
更新時間:2025-01-07
簡易粉末電阻率測試儀
yst 587.6-2006 炭陽極用煅后石油焦檢測方法第6部分 粉末電阻率的測定；標配手動粉末測試裝置,測試粉末時可以通過裝置獲得粉末壓實后高度、直徑、壓強等數據，自動計算出所需數據.能方便解決粉末及顆粒物料電阻、電阻率及電導率測量需求..
更新時間:2025-01-07
哪里有雙極板材料四探針低阻/接觸電阻測試儀
哪里有雙極板材料四探針低阻/接觸電阻測試儀gb/t 20042.6-2011質子交換膜燃料電池 第6部分：雙極板特性測試方法中四探針低阻測量和接觸電阻測試方法及要求
更新時間:2025-01-07
高溫型粉末電阻率測試儀
高溫型粉末電阻率測試儀在高溫環(huán)境下采用壓片法實時測試粉體電性能，分析粉體在高溫環(huán)境下電阻，電阻率（電導率），與壓強和溫度的實時變化關系，模擬材料在使用環(huán)境和自身特性高溫環(huán)境下的電性能狀態(tài).為品質管理，新品研發(fā)調整配比, 生產工藝調整提供參考數據.對材料未來使用的不確定性影響因數進行預測分析，建立產品從研發(fā)到生產的數據庫.
更新時間:2025-01-07
低阻雙電四探針測定儀廠家
低阻雙電四探針測定儀廠家采用四探針法測試的導電性新材料、鋁箔、銅箔等具有類似性質要求測量的材料。低阻雙電四探針測定儀可以測試到1uω方阻值。低阻雙電四探針測定提供中文或英文語言版本。
更新時間:2025-01-07
導電粉末電阻率四端法測試儀的的生產
導電粉末電阻率四端法測試儀的的生產粉末電阻率四端法測試儀可以顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算.適用于鋰電池材料、石墨烯、石墨類、碳素粉末、焦化、石化、粉末冶金、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導電粉末樣品質量的一種工具。
更新時間:2025-01-07
絕緣材料體積電阻率測試儀現貨
絕緣材料體積電阻率測試儀現貨，絕緣材料體積電阻率測試儀測量橡膠、塑膠、粉末、顆粒物、電子元器件、介質材料、電線電纜、靜電產品、如靜電鞋、靜電塑料橡膠制品、計算機房靜電活動地板等電阻值等絕緣性能的檢驗和電子電器產品的絕緣電阻測量。
更新時間:2025-01-07
系列材料電阻率測試儀（手動型）
系列材料電阻率測試儀（手動型）在不同的壓力下描述導電材料的電性能變化關系,分析材料的體積電阻、接觸電阻、過渡電阻等數據;電阻率和電導率(需要人工讀取并輸入樣品厚度可獲得).
更新時間:2025-01-07
多功能材料電阻率測試儀新品
多功能材料電阻率測試儀新品采用pc軟件操作;曲線圖譜分析，過程數據分析，報表導出和管理等；配置不同的測量電極，固體材料的形變（如：壓縮，彎曲，斷裂等情況下）的電性能狀態(tài)，從而描述材料性能和壽命等相關性能指標.
更新時間:2025-01-07
材料低電阻率測試儀
材料低電阻率測試儀滿足標準： gb/t6717、gb/t 24525-2009、ys/t63.2、 iso 11713-2000、ys/t63.2-2005、ys/t 64-1993。gb3048.2-2007、gb/t3048.4-2007、gb/t3952-2008、gb/t3953-2009、gb/t3954-2008、gb/t3955-2009、gb/t3956-2008.
更新時間:2025-01-07
四探針方阻儀
四探針方阻儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準，本機配置232電腦接口及usb兩種接口.
更新時間:2025-01-07
雙電測電四探針測試儀
雙電測電四探針測試儀采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-01-07
絕緣材料高溫表面和體積電阻率測試儀
絕緣材料高溫表面和體積電阻率測試儀適用標準：gb/t 22042-2008《服裝 防靜電性能 表面電阻率試驗方法》；en 1149-1-1995 《防護服 靜電性能 第1部分表面電阻檢驗方法和要求》；gb/t 1410-2006《固體絕緣材料體積電阻率和表面電阻率試驗方法》（與國際標準iec93-1980等效）；fz/t 64013-2008 《靜電植絨毛絨》.
更新時間:2025-01-07
導體材料高溫電阻率測試儀
導體材料高溫電阻率測試儀廣泛用于：生產企業(yè)、高等院校、科研部門對導體材料在高溫下電阻率數據的測量.同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.
更新時間:2025-01-07
方塊電阻測試儀
方塊電阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準.
更新時間:2025-01-07
端子電壓降測試儀
端子電壓降測試儀滿足標準：qc/t 730-2005 ;iso 6722：2002 gb/t 2951—1997; gb/t 3048—1994 qc/t29106-2004; qc/t413-2002 ;qc/t413-2002;同時滿足德國、法國、韓國、日本、等國家標準要求和測試規(guī)范，電壓降實驗按qc/t29106-2004標準5.7進行實驗 qc/t29106-2004標準.
更新時間:2025-01-07
數字式四探針測試儀
數字式四探針測試儀本儀器本儀器采用四探針雙電測量方法，適用于生產企業(yè)、高等院校、科研部門，是檢驗和分析導體材料和半導體材料質量的一種重要的工具。本儀器配置各類測量裝置可以測試不同材料。液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
更新時間:2025-01-07
通用型粉末電阻率測試儀
通用型粉末電阻率測試儀本儀器采用四端測量法適用于碳素粉末廠、焦化廠、石化廠、粉末冶金廠、高等院校、科研部門，是檢驗和分析粉末樣品質量的一種重要的工具。本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示電阻值、電阻率、電導率值、溫度、壓強值、單位自動換算，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據產品及測試項目要求選購.使用薄膜按鍵開關面板，操作簡單，耐用，符合人體工學操作規(guī)范.
更新時間:2025-01-07
薄膜方阻測試儀
薄膜方阻測試儀按照硅片電阻率測量的國際標準（astm f84）及國家標準設計制造該儀器設計符合gb/t 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、gb/t 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、gb/t 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》并參考美國 a.s.t.m 標準
更新時間:2025-01-07
探針測試儀測量薄膜的電阻率
覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;電極涂料，其他半導體材料、薄膜材料方阻測試
更新時間:2025-01-07
四探針測試儀品牌@市場快訊
四探針測試儀品牌@市場快訊采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表。
更新時間:2025-01-07
四探針電阻率測試儀價格@采購熱點
ft-336型四探針電阻率測試儀采用高精度ad芯片控制，恒流輸出，結構合理、質量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數據，自動生成報表；本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。
更新時間:2025-01-07
四探針法粉末電導率測試儀(手動型)
四點探針測試儀參照gb/t 1551、gb/t1552-1995，astm f84美國a.s.t.m 標準。the four-probe tester meets gb/t 1551, gb/t1552-1995, astm f84 u.s. a. s.t.m. standard.2）四探針法粉末測試平臺參照gbt308
更新時間:2025-01-07
絕緣粉末電阻率測試儀詳情介紹
系列絕緣粉末電阻率測試儀詳情介紹實時測量粉末樣品受到壓力后，體積變化過程中電阻，電阻率，的變化，直至壓實至穩(wěn)定體積狀態(tài)；即空隙率很小接近于零.
更新時間:2025-01-07
雙電四探針粉末電阻率測試儀（智能型）使用說明
雙電四探針粉末電阻率測試儀（智能型）使用說明， 全程采用pc軟件操作，粉體壓縮前及壓縮后壓力增減過程中粉體因自身特性內聚力反彈形變或恢復過程變化曲線圖譜；自動測試過程數據曲線及圖譜分析，實時分析壓強/壓力與電阻。
更新時間:2025-01-07
金屬涂層表面電阻（方阻）測試儀價格
金屬涂層表面電阻（方阻）測試儀適用于覆蓋膜;導電高分子膜，高、低溫電熱膜;隔熱、導電窗膜 導電(屏蔽)布、裝飾膜、裝飾紙;金屬化標簽、合金類箔膜;熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層。
更新時間:2025-01-07

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